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一种压力芯体筛选测试装置的制作方法 专利技术说明

作者:admin      2022-11-26 13:04:00     436



测量装置的制造及其应用技术1.本发明主要涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种压力芯体筛选测试装置。背景技术:2.传感器芯体作为传感器的核心部件,为了保证传感器的性能和可靠性,在压力芯体制作完成后,一般需要进行电性能筛选测试,剔除不合格的芯体。传感器芯体输出一般由圆柱形金属针脚引出,进行筛选测试时,由于无法直接与测试调理电路板连接,需将芯体金属引脚通过焊接导线引出,再采用焊接或者夹具的形式将导线引入到测试电路板,再进行相应电性能筛选测试,具体测试工装如图1所示,但此工装存在如下问题:1)芯体筛选测试前和测试完成后,均需要进行焊接导线,每个芯体都需进行手工焊接,非常占用时间,效率低下;2)焊接时,引脚定义必须对应准确无误,对操作工艺人员要求较高,错焊可能损坏芯体,造成损失;3)反复对测试电路板进行导线焊接,影响电路板的寿命,电路板每测试0.5~1年左右时间就需要更换新的电路板,间接抬高了筛选测试成本。技术实现要素:3.本发明要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的问题,本发明提供一种芯体与电路板连接快速可靠的压力芯体筛选测试装置。4.为解决上述技术问题,本发明提出的技术方案为:一种压力芯体筛选测试装置,包括电路板、盖板和导向环,所述电路板上设有爪簧,所述导向环上设有引脚通孔,所述导向环位于所述电路板与盖板之间,所述爪簧伸入至导向环的引脚通孔底部,待测压力芯体的引脚从所述导向环的引脚通孔顶部伸入,并插入至爪簧内形成电气连接。5.作为上述技术方案的进一步改进:所述引脚通孔的顶部设置有导向斜槽,用于对芯片引脚起导向作用。6.所述引脚通孔的底部设有凹台,以使爪簧嵌入至引脚通孔底部。7.所述导向环顶部设置有气管通孔,以便于压力芯体的气管伸入。8.所述导向环顶部设置有定位孔。9.所述导向环的顶部设置有凸台,所述盖板上设有安装孔,所述安装孔与凸台相互配合,以使得盖板的安装孔对导向环进行固定。10.所述导向环为al2o3材料制成。11.所述爪簧为镀金爪簧。12.与现有技术相比,本发明的优点在于:本发明在芯体筛选测试时,测试人员将芯体金属引脚通过导向环顺利插入电路板上焊接的金属爪簧,形成电气连接,再通过电路板金手指与测试系统连接,开展测试;上述测试装置改变了传统芯体筛选测试中装配式焊接的操作方式,直接进行芯体整体插拔,能够实现芯体与测试电路板的快速、准确以及可靠连接,缩短芯体装配时间,进而提高筛选测试效率;通过非焊接式的方式进行芯体与电路板的连接,延长电路板的使用寿命,节约生产测试成本。13.本发明采用金属镀金爪簧来作为连接压力芯体引脚与电路板这种方式,保证电气连接可靠性,提高装置整体寿命。附图说明14.图1为现有技术中芯体与电路板的连接结构示意图。15.图2为本发明的测试装置在实施例的立体结构图。16.图3为本发明的导向环在实施例的立体结构图之一。17.图4为本发明的导向环在实施例的立体结构图之二。18.图5为本发明的导向环在实施例的俯视结构图。19.图6为本发明的导向环在实施例的仰视结构图。20.图7为图6的a-a视图。21.图8为本发明的测试装置在实施例的剖视结构图。22.图例说明:1、电路板;2、盖板;201、安装孔;3、导向环;301、定位孔;302、气管通孔;303、引脚通孔;304、导向斜槽;305、凹台;306、凸台;4、爪簧;5、引脚。具体实施方式23.以下结合说明书附图和具体实施例对本发明作进一步描述。24.如图2和图8所示,本发明实施例的压力芯体筛选测试装置,包括电路板1、盖板2和导向环3,电路板1上焊接有与压力芯体引脚5尺寸配套的爪簧4,导向环3上设有引脚通孔303,导向环3位于电路板1与盖板2之间,爪簧4伸入至导向环3的引脚通孔303底部,待测压力芯体的引脚5从导向环3的引脚通孔303顶部伸入,并插入至爪簧4内,使得芯片与电路板1形成电气连接。在芯体筛选测试时,测试人员将芯体金属引脚5通过导向环3顺利插入电路板1上焊接的金属爪簧4内,形成电气连接,再通过电路板1金手指与测试系统连接,开展测试;上述测试装置改变了传统芯体筛选测试中装配式焊接的操作方式,直接进行芯体整体插拔,能够实现芯体与测试电路板1的快速、准确以及可靠连接,缩短芯体装配时间,进而提高筛选测试效率;通过非焊接式的方式进行芯体与电路板1的连接,延长电路板1的使用寿命,节约生产测试成本。25.如图3-7所示,在一具体实施例中,导向环3的引脚通孔303顶部设置有导向斜槽304,导向斜槽304中心位置偏离引脚通孔303中心一定位置,起导向作用,使芯体的金属引脚5能够顺利滑入引脚通孔303内。引脚通孔303的底部设有凹台305,以使爪簧4嵌入至引脚通孔303底部并与引脚通孔303同轴布置,便于芯体引脚5通过引脚通孔303插入后,直接进入爪簧4,形成芯体与电路板1的顺利电气连接。26.另外,导向环3顶部设置有气管通孔302和定位孔301,其中气管通孔302以便于压力芯体的气管伸入,防止因气管过长导致芯体无法插入。其中定位孔301用于确定导向环3的方向,方便测试人员确认方向。其中导向环3的顶部设置有凸台306,盖板2上设有安装孔201,安装孔201与凸台306相互配合,以使得盖板2的安装孔201对导向环3进行固定。27.上述导向环3由98%高密度al2o3加工抛磨而成,具有绝缘特性好且能耐高温,非常适合芯体高低温筛选测试。28.在一具体实施例中,爪簧4内的簧片采用镀金工艺,可减小接触电阻,提高电气连接可靠性,且额定插拔次数可增加至1000次以上。参照芯体筛选测试5天的周期计算,爪簧4使用寿命约3年。考虑爪簧4为整个筛选测试装置寿命的关键影响因子,因此,该装置整体使用寿命约为3年,寿命大大增加。29.据统计,之前每一批压力芯体筛选测试平均时间为7天,其中装配焊接时间约占用2天,通过采用本发明的筛选测试装置,装配时间可缩减至0.5天,可节约1.5天时间,大大提供了生产效率。30.以上仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,应视为本发明的保护范围。技术特征:1.一种压力芯体筛选测试装置,其特征在于,包括电路板(1)、盖板(2)和导向环(3),所述电路板(1)上设有爪簧(4),所述导向环(3)上设有引脚通孔(303),所述导向环(3)位于所述电路板(1)与盖板(2)之间,所述爪簧(4)伸入至导向环(3)的引脚通孔(303)底部,待测压力芯体的引脚(5)从所述导向环(3)的引脚通孔(303)顶部伸入,并插入至爪簧(4)内形成电气连接。2.根据权利要求1所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述引脚通孔(303)的顶部设置有导向斜槽(304),用于对芯片引脚(5)起导向作用。3.根据权利要求2所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述引脚通孔(303)的底部设有凹台(305),以使爪簧(4)嵌入至引脚通孔(303)底部。4.根据权利要求1或2或3所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述导向环(3)顶部设置有气管通孔(302),以便于压力芯体的气管伸入。5.根据权利要求1或2或3所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述导向环(3)顶部设置有定位孔(301)。6.根据权利要求1或2或3所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述导向环(3)的顶部设置有凸台(306),所述盖板(2)上设有安装孔(201),所述安装孔(201)与凸台(306)相互配合,以使得盖板(2)的安装孔(201)对导向环(3)进行固定。7.根据权利要求1或2或3所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述导向环(3)为al2o3材料制成。8.根据权利要求1或2或3所述的压力芯体筛选测试装置,其特征在于,所述爪簧(4)为镀金爪簧。技术总结本发明公开了一种压力芯体筛选测试装置,包括电路板、盖板和导向环,所述电路板上设有爪簧,所述导向环上设有引脚通孔,所述导向环位于所述电路板与盖板之间,所述爪簧伸入至导向环的引脚通孔底部,待测压力芯体的引脚从所述导向环的引脚通孔顶部伸入,并插入至爪簧内形成电气连接。本发明具有结构简单、测试效率高、芯体与电路板连接快速可靠等优点。芯体与电路板连接快速可靠等优点。芯体与电路板连接快速可靠等优点。技术研发人员:曾世 金忠 蒋超受保护的技术使用者:中国电子科技集团公司第四十八研究所技术研发日:2022.07.26技术公布日:2022/11/25









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