测试电路及方法、显示面板与流程 专利技术说明

办公文教;装订;广告设备的制造及其产品制作工艺1.本技术涉及显示技术领域，特别涉及一种测试电路及方法、显示面板。背景技术：2.随着显示技术的发展，显示面板的应用越来越广泛。比如用于in-cell产品中，in-cell是指将触摸面板功能嵌入到液晶像素中的方法，即在显示屏内部嵌入触摸传感器功能，这样能使屏幕变得更加轻薄，但是，由于in-cell产品设计会受到触控芯片和产品分辨率的限制，导致设计的tp线数目多于实际分区所需的tp线数目，多出来的tp线也称为虚拟tp线。3.一般而言，在显示面板投入使用前，需要对显示面板进行点屏测试(又称面板测试(celltest，ct))，以测试显示面板是否能够正常显示。在对in-cell产品进行点屏测试时，虽然向实际所需的tp线与虚拟tp线传输的电压一致，但由于电压源及线路设计均不同，因此容易导致tp线与虚拟tp线的上下电速度不同，二者存在压差，使得上电时刻和下电时刻会出现亮线，影响测试结果的准确性。技术实现要素：4.本技术实施例提供一种测试电路及方法、显示面板，通过设置控制单元将第一测试端和第二测试端串联连接，以控制第一测试端和第二测试端在开机阶段和关机阶段导通，解决了现有显示面板在点屏测试时容易在上下电时刻出现亮线，影响测试结果的准确性的问题。5.本发明是这样实现的，一种测试电路，用于显示面板的加电点亮测试，所述显示面板包括有效tp线和虚拟tp线，所述测试电路包括第一测试端、第一信号端、第二测试端以及控制单元，第一测试端通过第一开关元件电连接所述有效tp线；第一信号端电连接所述第一开关元件，用于控制所述第一测试端向所述有效tp线传输测试电压；第二测试端电连接所述虚拟tp线，用于向所述虚拟tp线传输测试电压，所述第二测试端传输的测试电压与所述第一测试端传输的测试电压相等；控制单元电连接所述第一测试端和所述第二测试端，用于在开机阶段和关机阶段控制所述第一测试端和所述第二测试端导通，在测试阶段控制所述第一测试端和所述第二测试端互相断开。6.在其中一个实施例中，所述控制单元包括第二开关元件和第二信号端，所述第二开关元件电连接所述第二信号端、所述第一测试端以及所述第二测试端；7.所述第二信号端用于在开机阶段和关机阶段控制所述第二开关元件打开，以使所述第一测试端和所述第二测试端导通；并且在测试阶段控制所述第二开关元件断开，以使所述第一测试端和所述第二测试端互相断开。8.在其中一个实施例中，所述第二开关元件包括至少一个第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的栅极电连接所述第二信号端，所述第一薄膜晶体管的源极电连接所述第一测试端，所述第一薄膜晶体管的漏极电连接所述第二测试端。9.在其中一个实施例中，所述有效tp线的数目为多个，每一个所述有效tp线均连接一个所述第一开关元件，多个所述第一开关元件均电连接所述第一测试端和所述第一信号端；10.所述虚拟tp线的数目为多个，多个所述虚拟tp线串联且电连接所述第二测试端。11.在其中一个实施例中，所述第一开关元件为第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管的栅极电连接所述第一信号端，所述第二薄膜晶体管的源极电连接所述有效tp线，所述第二薄膜晶体管的漏极电连接所述第一测试端。12.在其中一个实施例中，所述第一测试端、所述第二测试端、所述第一信号端以及所述控制单元的数目均为两个，其中一个所述控制单元电连接一个所述第一测试端和一个所述第二测试端，另一个所述控制单元电连接另一个所述第一测试端和另一个所述第二测试端。13.本技术提供的测试电路的有益效果在于：与现有技术相比，本技术设置控制单元将第一测试端和第二测试端串联在一起，第一测试端、第二测试端、有效tp线以及虚拟tp线就是连接在一起的一条线，从而使得第一测试端向有效tp线传输测试电压以及第二测试端向虚拟tp线传输测试电压可以同时进行，电压传输速度相同，有效的消除不同电路传输相同电压带来的差异，避免加电点亮测试时上下电出现的亮线，提高测试结果的准确性。14.本技术实施例还提供了一种测试方法，应用如上述实施例所述的测试电路对显示面板进行加电点亮测试，包括：15.在开机阶段，分别向所述第一信号端和所述第二信号端输入高电平信号、向所述第一测试端和所述第二测试端输入相同大小的测试电压，以使所述第一薄膜晶体管打开，所述第一测试端和所述第二测试端互相导通；16.在测试阶段，分别向所述第一信号端输入高电平信号、向所述第二信号端输入低电平信号、向所述第一测试端和所述第二测试端输入相同大小的测试电压，以使所述第一薄膜晶体管断开，所述第一测试端和所述第二测试端互相断开；17.在关机阶段，分别向所述第一信号端和所述第二信号端输入高电平信号、向所述第一测试端和所述第二测试端输入相同大小的测试电压，以使所述第一薄膜晶体管打开，所述第一测试端和所述第二测试端互相导通。18.在其中一个实施例中，所述测试方法还包括：对显示面板进行加电点亮测试之后，通过外部电路将所述第一信号端和所述第二信号端串联连接，且向所述第一信号端持续输入低电平信号。19.本技术提供的测试方法的有益效果在于：应用上述测试电路对显示面板进行加电点亮测试，本技术设置控制单元将第一测试端和第二测试端串联在一起，第一测试端、第二测试端、有效tp线以及虚拟tp线就是连接在一起的一条线，从而使得第一测试端向有效tp线传输测试电压以及第二测试端向虚拟tp线传输测试电压可以同时进行，电压传输速度相同，有效的消除不同电路传输相同电压带来的差异，避免加电点亮测试时上下电出现的亮线，提高测试结果的准确性。20.本技术实施例还提供了一种显示面板，包括彩膜基板、阵列基板以及如上述任一实施例所述的测试电路；所述阵列基板一侧凸出于所述彩膜基板并向外伸出形成凸出区；所述测试电路的所述第一测试端和所述第二测试端均设置于所述凸出区。21.在其中一个实施例中，所述测试电路包括两组测试端口，两组所述测试端口分别设置于所述凸出区沿第一方向相对的两侧，所述第一方向与所述阵列基板相对于所述彩膜基板凸出的方向相垂直；22.所述测试端口包括所述第一测试端、所述第二测试端、所述第一信号端以及所述控制单元。23.本技术提供的显示面板的有益效果在于：采用了上述的测试电路，本技术设置控制单元将第一测试端和第二测试端串联在一起，第一测试端、第二测试端、有效tp线以及虚拟tp线就是连接在一起的一条线，从而使得第一测试端向有效tp线传输测试电压以及第二测试端向虚拟tp线传输测试电压可以同时进行，电压传输速度相同，有效的消除不同电路传输相同电压带来的差异，避免加电点亮测试时上下电出现的亮线，提高测试结果的准确性。附图说明24.图1是本技术实施例一提供的测试电路的示意图；25.图2是本技术实施例二提供的测试电路的示意图；26.图3是本技术实施例三提供的测试方法的流程示意图；27.图4是本技术实施例三提供的测试方法在开机阶段、测试阶段以及关机阶段向各个端口输入的电压示意图；28.图5是本技术实施例四提供的显示面板的结构示意图。29.附图标记：1、有效tp线；2、虚拟tp线；3、第一测试端；4、第一开关元件；5、第一信号端；6、第二测试端；7、控制单元；71、第二开关元件；72、第二信号端；30.100、显示面板；101、彩膜基板；102、阵列基板；103、凸出区；104、测试电路；1040、测试端口。具体实施方式31.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。32.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。33.需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。34.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。35.还需说明的是，本技术实施例中以同一附图标记表示同一组成部分或同一零部件，对于本技术实施例中相同的零部件，图中可能仅以其中一个零件或部件为例标注了附图标记，应理解的是，对于其他相同的零件或部件，附图标记同样适用。36.本技术实施例提供一种测试电路及方法、显示面板，解决了现有显示面板在点屏测试时容易在上下电时刻出现亮线，影响测试结果的准确性的问题。37.本技术实施例提供的测试电路用于显示面板100的加电点亮测试。加电点亮测试主要用于检测显示面板100上各类电子元器件的电连接关系是否正确。显示面板100包括有效tp线1和虚拟tp线2，in-cell产品在设计时，设计的tp线数目多于实际分区所需的tp线数目，多出来的tp线也称为虚拟tp线2，实际分区所需的tp线即为有效tp线1。加电点亮测试上电时，因有效tp线1与虚拟tp线2的线路是单独的两条线路，因此有效tp线1的上电速度与虚拟tp线2的上电速度不同，导致有效tp线1与虚拟tp线2的线路产生压差，液晶转动，视眼可见亮线，点亮后帧切换较快，故亮线现象弱、时间短；同样的，加电点亮测试下电时，有效tp线1的上电速度与虚拟tp线2的下电速度不同，有效tp线1与虚拟tp线2的线路产生压差，液晶转动，视眼可见同样亮线，下电即为无下一帧画面，屏幕变黑，故亮线现象明显，测试设备容易将显示面板100误判为异常，降低测试结果的准确性，影响检测效率。38.实施例一39.参考图1，本技术实施例提供的测试电路包括第一测试端3、第一信号端5、第二测试端6以及控制单元7，第一测试端3通过第一开关元件4电连接有效tp线1；第一信号端5电连接第一开关元件4，用于控制第一测试端3向有效tp线1传输测试电压；第二测试端6电连接虚拟tp线2，用于向虚拟tp线2传输测试电压，第二测试端6传输的测试电压与第一测试端3传输的测试电压相等；控制单元7电连接第一测试端3和第二测试端6，用于在开机阶段和关机阶段控制第一测试端3和第二测试端6导通，在测试阶段控制第一测试端3和第二测试端6互相断开。40.由于加电点亮测试过程中只有上下电时才会出现亮线现象，影响测试准确性，而在测试时需要分别向有效tp线1和虚拟tp线2传输测试电压，以准确的判断各条电路的电子器件连接是否正确，因此本技术设置控制单元7连接第一测试端3和第二测试端6，在上下电过程中控制第一测试端3和第二测试端6导通，这样可以消除不同线路传输相同的测试电压带来的电压差异，避免上下电时屏幕出现亮线现象，提高加电点亮测试的准确性。此外，在测试阶段控制单元7会控制第一测试端3和第二测试端6断开，这样第一测试端3向有效tp线1传输测试电压以及第二测试端6向虚拟tp线2传输测试电压就是两条独立的测试线路，有利于准确的测试各条线路上的电子器件是否连接准确。41.在一些实施例中，参考图1，控制单元7包括第二开关元件71和第二信号端72，第二开关元件71电连接第二信号端72、第一测试端3以及第二测试端6；第二信号端72用于在开机阶段和关机阶段控制第二开关元件71打开，以使第一测试端3和第二测试端6导通；并且在测试阶段控制第二开关元件71断开，以使第一测试端3和第二测试端6互相断开。这样可以通过控制第二开关元件71在开机阶段和关机阶段打开并且在测试阶段断开来快速准确的控制第一测试端3和第二测试端6在开机和关机阶段导通，从而有效的消除第一测试端3向有效tp线1传输测试电压以及第二测试端6向虚拟tp线2传输测试电压带来的压差，避免上下电时出现亮线现象，从而确保加电点亮测试的测试结果准确性。42.需要说明的是，本技术实施例中的开机阶段指的是显示面板100上电时的阶段，关机阶段指显示面板100下电时的阶段，而测试阶段则是指显示面板100开机也就是上电之后进行加电点亮测试的阶段，用于测试显示面板100上各类电子元器件的电连接关系是否正确。43.在一些实施例中，参考图1，第二开关元件71包括至少一个第一薄膜晶体管，第一薄膜晶体管的栅极电连接第二信号端72，第一薄膜晶体管的源极电连接第一测试端3，第一薄膜晶体管的漏极电连接第二测试端6。采用第一薄膜晶体管作为第二开关元件71可以便于线路连接，而且可以在现有的显示面板100上直接连接第一薄膜晶体管和第二信号端72作为控制单元7，改造成本较低。44.需要说明的是，薄膜晶体管(thinfilmtransistor，tft)是一种场效应管，包括栅极g、源极s和漏极d，可作为一种控制开关使用。这里对于薄膜晶体管的类型不做限定，其可以是n型薄膜晶体管，也可以是p型薄膜晶体管。45.本技术实施例中的第一薄膜晶体管是以n型晶体管为例进行说明，但不限于n型晶体管，也可以替换为p型晶体管。对于n型晶体管来说，导通电平为高电平，截止电平为低电平。即n型晶体管的控制极为高电平时，其第一极和第二极之间导通，n型晶体管的控制极为低电平时，其第一极和第二极之间关断。对于p型晶体管来说，导通电平为低电平，截止电平为高电平。即p型晶体管的控制极为低电平时，其第一极和第二极之间导通，p型晶体管的控制极为高电平时，其第一极和第二极之间关断。在具体实施时，上述各晶体管的栅极作为其控制极，并且，根据各晶体管的栅极的信号以及其类型，可以将其第一极作为源极，第二极作为漏极，或者将其第一极作为漏极，第二极作为源极，在此不做区分，另外本发明实施例中的导通电平和截止电平均为泛指，导通电平是指任何能够使晶体管导通的电平，截止电平是指任何能够使晶体管截止/关断的电平。46.在一些实施例中，参考图1，有效tp线1的数目为多个，每一个有效tp线1均连接一个第一开关元件4，多个第一开关元件4均电连接第一测试端3和第一信号端5；虚拟tp线2的数目为多个，多个虚拟tp线2串联且电连接第二测试端6。这样可以控制多个有效tp线1连接的第一开关元件4同时打开或关断，以便第一测试端3同时向多个有效tp线1传输测试电压，同时第二测试端6也能同时向多个虚拟tp线2传输测试电压，提高测试效率。47.需要说明的是，多个有效tp线1和多个虚拟tp线2在阵列基板102上沿同一个方向均匀排列，这样可以保证阵列基板102上tp线的一致性，阵列基板102包括显示区(activearea，aa区)和包围显示区的周边区。周边区包括引线区(fanout区)和端子区(pad区)。其中，显示区用于实现显示，引线区用于归集显示区的金属线，端子区用于实现引线区和驱动芯片等电路结构的电连接。上述测试电路可以位于端子区，并设置在芯片和数据线之间。其中，多个有效tp线1设置于显示区，多个虚拟tp线2延伸至引线区且与公共电极电连接。48.在一些实施例中，参考图1，第一开关元件4为第二薄膜晶体管，第二薄膜晶体管的栅极电连接第一信号端5，第二薄膜晶体管的源极电连接有效tp线1，第二薄膜晶体管的漏极电连接第一测试端3。采用第二薄膜晶体管作为第一开关元件4可以便于线路连接，而且在制作显示面板100时可以与第一开关元件4采用同一种类型的薄膜晶体管，有利于提高安装制作效率。49.需要说明的是，第二薄膜晶体管的类型不做限定，其可以是n型薄膜晶体管，也可以是p型薄膜晶体管，当然，为了便于安装制作，本技术实施例中的第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管可以采用同一种类型。50.在本技术实施例一中，第一测试端3、第二测试端6、第一信号端5以及控制单元7的数目均为一个，也就是多个有效tp线1连接的第二薄膜晶体管的栅极均连接同一个第一信号端5，第二薄膜晶体管的源极均连接有效tp线1，第二薄膜晶体管的漏极均连接第一测试端3，控制单元7分别连接第一测试端3和第二测试端6，多个虚拟tp线2均连接第二测试端6。51.实施例二52.参考图2，本技术实施例二与实施例一相比，区别仅在于第一测试端3、第二测试端6、第一信号端5以及控制单元7的数目不同。在本技术实施例二中，第一测试端3、第二测试端6、第一信号端5以及控制单元7的数目均为两个，其中一个控制单元7电连接一个第一测试端3和一个第二测试端6，另一个控制单元7电连接另一个第一测试端3和另一个第二测试端6。这样可以从两个第一测试端3向有效tp线1传输测试电压，从两个第二测试端6向虚拟tp线2传输测试电压，使得电压传输更加稳定，有利于得到准确的测试结果。53.实施例三54.参考图3，本技术实施例三提供了一种测试方法，应用如上述实施例的测试电路对显示面板100进行加电点亮测试，包括：55.s301、在开机阶段，分别向第一信号端5和第二信号端72输入高电平信号、向第一测试端3和第二测试端6输入相同大小的测试电压，以使第一薄膜晶体管打开，第一测试端3和第二测试端6互相导通。56.需要说明的是，本技术实施例中的第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管均采用n型晶体管，也就是高电平导通，低电平关断。由于在开机阶段容易出现亮线现象，因此在开机阶段使第一测试端3和第二测试端6导通，能够有效的改善上电亮线现象，提高加电点亮测试的准确性。57.s302、在测试阶段，分别向第一信号端5输入高电平信号、向第二信号端72输入低电平信号、向第一测试端3和第二测试端6输入相同大小的测试电压，以使第一薄膜晶体管断开，第一测试端3和第二测试端6互相断开。58.需要说明的是，在测试阶段将第一测试端3和第二测试端6断开，以使第一测试端3向有效tp线1传输测试电压以及第二测试端6向虚拟tp线2传输测试电压是两个独立的测试线路，满足对有效tp线1和虚拟tp线2所在线路单独测试的要求，有利于提高测试结果的准确性。59.s303、在关机阶段，分别向第一信号端5和第二信号端72输入高电平信号、向第一测试端3和第二测试端6输入相同大小的测试电压，以使第一薄膜晶体管打开，第一测试端3和第二测试端6互相导通。60.需要说明的是，关机阶段与开机阶段相同，都会出现亮线现象，因此在关机阶段再将第一测试端3和第二测试端6导通，可以有效的改善下电亮线现象，提高加电点亮测试的准确性。61.参考图4，图4是本技术实施例三提供的测试方法在开机阶段、测试阶段以及关机阶段向各个端口输入的电压示意图。62.s304、对显示面板100进行加电点亮测试之后，通过外部电路将第一信号端5和第二信号端72串联连接，且向第一信号端5持续输入低电平信号。63.需要说明的是，在加电点亮测试之后，测试完毕的产品投入使用时，可通过外部电路(如ic、fpc、pcb及tcon等面板之外的电路)将第一信号端5和第二信号端72串接，持续供给低电平电压，这样只需要给原有的第一信号端5供给低电平电压即可，无需新增多余的电源供给，即可实现对in-cell产品的有效tp线1和虚拟tp线2所在的线路单独控制的功能的正常使用。64.实施例四65.参考图5，本技术实施例四提供了一种显示面板，包括彩膜基板101、阵列基板102以及如上述的测试电路104；阵列基板102一侧凸出于彩膜基板101并向外伸出形成凸出区103；测试电路104的第一测试端3和第二测试端6均设置于凸出区103。66.该测试电路104的详细结构可参照上述实施例一，此处不再赘述；可以理解的是，由于在本技术显示面板100中使用了上述测试电路104，因此，本技术显示面板100的实施例包括上述测试电路104全部实施例的全部技术方案，且能达到上述技术方案所达到的技术效果。67.需要说明的是，本技术实施例四的显示面板100中的阵列基板102和彩膜基板101的面积不相等，将测试电路104的第一测试端3和第二测试端6均设置于凸出区103，也就是显示区之外，这样就可以供扎针输入测试信号。此外，也可以将测试电路104整体都设置在凸出区103，这样可以有效的避免影响显示面板100的显示开口率，同时也便于将测试电路104布置在阵列基板102上。68.在一些实施例中，参考图5，测试电路104包括两组测试端口1040，两组测试端口1040分别设置于凸出区103沿第一方向x相对的两侧，第一方向x与阵列基板102相对于彩膜基板101凸出的方向相垂直；测试端口1040包括第一测试端3、第二测试端6、第一信号端5以及控制单元7。69.通过以上设置，可以从两个第一测试端3向有效tp线1传输测试电压，从两个第二测试端6向虚拟tp线2传输测试电压，使得电压传输更加稳定，有利于得到准确的测试结果。而且将两组测试端口1040分别设置于凸出区103沿第一方向x相对的两侧能够使两组测试端口1040在凸出区103上布置排列的空间更大，便于两组测试端口1040快速便捷的制作在凸出区103。70.以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。









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