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用于校准用于测量物质对光的吸收率的设备的方法与流程 专利技术说明

作者:admin      2022-11-26 17:51:03     551

用于校准用于测量物质对光的吸收率的设备的方法与流程 专利技术说明

测量装置的制造及其应用技术1.本公开涉及一种用于校准用于测量物质对光的吸收率的装置的方法。特别地,本公开涉及用于测量色谱过程中使用的物质对光的吸收率的设备。背景技术:2.色谱法是一种用于分析和制备化学混合物或化学样本的众所周知的过程。样本通常可被悬浮在称为缓冲溶液或树脂的流体中。3.在色谱法的上下文中,用于测量物质的光吸收率的设备被用于得到光吸收率和/或光散射和/或透射特性的定量测量。通常地,这种设备以对应于可见光、深紫外光、近紫外光和近红外光的波长操作。4.为确保可靠的测量,定期监测或校准设备性能并将其记录在案。设备的校准包括将设备的性能与例如由制造商或定义的标准提供的参考性能数据进行比较。,这是例如根据iso 17025的认可的测量服务所要求的。这也是遵守良好实验室规范(glp)所要求的。5.设备的校准通常可涉及线性准确度测试和/或光度(吸收率)准确度测试,此后称为吸收率测试。6.能够在us9322770b2中找到常规解决方案的示例,其要求将滤波器手动插入到设备中。能够在us9279746b2中找到常规解决方案的另一个示例,其使用加压空气在两个不同的滤波器之间改变。7.常规解决方案的缺点是要求由用户手动交互,例如通过在设备中(例如在配置成沿着光学路径发射特定波长的光的光发射器到配置成测量发射的光的光传感器之间)插入和移除光学滤波器。插入和移除光学滤波器的步骤是冗长且耗时的,并且进一步可能导致光学滤波器定位变化,因此给出具有低再现性的校准结果。8.常规解决方案的另外的缺点是,插入的滤波器的不规则性(例如滤波器透镜上的灰尘)可能危害校准。9.因此,存在对用于校准用于测量物质的光吸收率的设备的改进的方法和布置的需要。10.发明目的本发明实施例的目的是提供一种减轻或解决上述缺点和问题的解决方案。技术实现要素:11.通过本文描述的主题来实现上述和进一步的目的。本文进一步定义了本发明的进一步的有利实现形式。12.根据本发明的第一方面,上面提到的和其它目的通过由计算机执行的计算机实现的方法来实现,该计算机配置成校准用于测量用于色谱系统的物质的光吸收率的设备,该设备包括:用于使流体能够被测量的导管;配置成沿着光学路径向光传感器发射光的光发射器,该光传感器配置成测量发射的光,该光学路径与导管相交;具有一个或多个光学滤波器的旋转盘(d),所述一个或多个光学滤波器中的每个被布置成当旋转时其中心穿过光学路径;配置成根据控制信号旋转盘的致动器,该方法包括:控制盘旋转到第一位置,在所述第一位置所述一个或多个光学滤波器中的第一滤波器与光学路径相交在第一点,测量第一光吸收值,控制盘旋转到不同于第一位置的第二位置,在所述第二位置第一滤波器仍然与光学路径相交在第二点,测量第二光吸收值,生成累积光吸收值,通过将累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来校准设备。13.第一方面的至少一个优点是能够最小化微小缺陷或颗粒污染的影响。进一步的优点是改进了校准结果再现性。14.根据本发明的第二方面,上面提到的和其它目的通过一种用于校准用于测量物质的光吸收率的设备的校准滤波器布置来实现,该滤波器布置包括:盘,其沿着平面延伸,并且被布置成围绕旋转轴旋转,并将一个或多个光学滤波器保持在沿着该平面距旋转轴的第一距离处;旋转驱动单元,其耦合到该盘,并且配置成响应于接收到的控制信号将盘围绕旋转轴旋转到预定位置。15.根据本发明的第二方面,上面提到的和其它目的通过一种用于测量用于色谱设备的物质的光吸收率的设备来实现,该设备包括:用于使流体能够被测量的导管;配置成沿着光学路径向光传感器发射光的光发射器,该光传感器配置成测量发射的光,光学路径与导管的中心线相交;具有一个或多个光学滤波器的旋转盘,所述一个或多个光学滤波器中的每个被布置成当旋转到光学路径中时其中心与光学路径对准;致动器,配置成根据控制信号在预定位置之间旋转所述盘;以及包括电路系统的计算机,所述电路系统包括处理电路系统和存储器,所述存储器包括可由所述处理电路系统执行的指令,其中所述计算机通信地耦合到所述设备,其中所述计算机配置成当所述指令由所述处理电路系统执行时,执行根据第一方面的方法。16.通过考虑一个或多个实施例的以下详细描述,本领域技术人员将被给予对本发明实施例的更完整理解,以及对其附加优点的认识。应当领会,相似的参考数字用于标识附图的一个或多个中所图示的相似元件。附图说明17.图1图示根据本公开的一个或多个实施例的色谱设备。18.图2图示根据本公开的一个或多个实施例的用于测量物质的光吸收率的设备。19.图3示出根据本公开的一个或多个实施例的校准滤波器布置的细节。20.图4示出根据本公开的一个或多个实施例的包括多个部分的盘。21.图5示出根据本公开的一个或多个实施例的盘的细节。22.图6示出根据本公开的一个或多个实施例的计算机/控制单元。23.图7示出根据本公开的一个或多个实施例的方法的流程图。24.图8示出了用于测量物质的光吸收率的设备的实施例,该设备被提供有外部校准滤波器布置。25.通过考虑一个或多个实施例的以下详细描述,本领域技术人员将得到对本发明实施例的更完整理解,以及对其附加优点的认识。应当领会,相似的参考数字用于标识附图的一个或多个中所图示的相似元件。具体实施方式26.在本公开中,提及术语用于测量物质的光吸收率的设备,例如紫外光监测器、分光光度计和/或分光光度传感器,并且指代导致材料或物质的光吸收率和/或光散射和/或光透射的定量测量的电磁光谱。波长包括可见光、深紫外、近紫外光和近红外光波长。换句话说,紫外光监测器和/或分光光度计和/或分光光度传感器能够被看作用于测量物质对光的吸收率的设备。27.在一个示例中,这种设备用于在色谱运行期间监测色谱过程和/或控制色谱过程和/或测量样本量。28.在一个另外的示例中,这种设备用于监测流过滤过程和/或控制流过滤过程。这种过滤过程的示例是交叉流过滤和切向流过滤。29.如背景技术部分中所呈现的,本公开涉及用于测量用于色谱系统中的物质的光吸收率的设备,该设备需要被定期校准以确保性能和产生可靠的结果。30.用于校准这种设备的常规解决方案的缺点是可能要求用户的手动交互,例如通过在设备中(例如在配置成沿着光学路径发射特定波长的光的光发射器到配置成测量发射的光的光传感器之间)插入和移除光学滤波器。插入和移除光学滤波器的步骤是冗长且耗时的,并且进一步可能导致光学滤波器定位变化,因此给出具有低再现性的校准结果。31.常规解决方案的另外的缺点是,插入的滤波器的不规则性(例如滤波器透镜上的灰尘)可能危害校准。32.能够在us9322770b2中找到常规解决方案的示例,其要求将滤波器手动插入到用于测量物质的光吸收率的设备中。能够在us9279746b2中找到常规解决方案的另一个示例,其使用加压空气以在两个不同的滤波器之间改变。33.在一个示例中,认证的石英上金属光学滤波器通常用于测试此类设备的性能。该设备通常包括光发射器,该光发射器配置成沿着光学路径向光传感器发射特定波长的光,该光传感器配置成测量发射的光。34.设备的校准可能通常涉及准确度测试,诸如线性或吸收率准确度测试。35.校准通常意味着表征设备/分光光度计/分光光度传感器的响应。该响应可作为正在被分析的流体中的样本浓度(例如,在x轴上)的函数/曲线被记录为测量的光吸收率信号(例如,在y轴上)。理想情况下,这个函数是线性的,并且遵循朗伯比尔定律。为此,使用具有预定的、经认证的光吸收率值的光学滤波器来模拟具有不同浓度的样本。线性测试是指测试仪器的光吸收率读数遵循预期直线的程度,或者在设备的线性动态范围的规定上限处偏差有多大。36.光度准确度测试是指某种仪器测量具有预定参考吸收率(通常是经认证的,并且完全在线性动态范围内)的样本能有多准确。37.此外,可以校准波长准确度。为此,使用具有预定(通常是经认证的)吸收峰(absorbance peak)的滤波器或物质,并且吸收率作为波长的函数来确定。与认证中的定位相比的峰的定位用于证明uv监测器的波长刻度是正确的。38.在一个示例中,线性准确度测试可例如涉及使用光波长比较多个测量点上的所测量光强度的指标(quota),其中使用被控制以发射具有不同光强度的光的光发射器和/或具有不同衰减的光学滤波器。如关于图2进一步描述的,指标通常被计算为传感器s的所测量光强度除以由参考传感器rs测量的光强度。这将提供根据所测量光的幅度的设备性能的指示。换句话说,提供光强度测量结果遵循参考曲线(例如直线)的程度的指示。39.设备的校准可附加地或备选地通常涉及光度(吸收率)准确度测试或吸收率测试。这可例如涉及将测量的光强度与参考光强度进行比较。这将提供设备的绝对性能的指示。换句话说,提供结果是否包括例如与参考光吸收率值的偏差的指示。40.本解决方案提供了一种用于校准用于测量物质的光吸收率的设备的改进方法。本解决方案进一步提供了一种用于测量物质的光吸收率的改进设备。41.本公开通过利用诸如步进马达的致动器来旋转有一个或多个具有不同光吸收率值的滤波器的滤光轮(filter wheel)来解决常规解决方案的缺点。滤光轮可位于沿着光学路径的两个透镜之间。该设备进一步包括光发射器,该光发射器配置成沿着光学路径向光传感器发射光,该光传感器配置成测量发射的光。在一个实施例中,该设备进一步包括第一透镜,该第一透镜照准例如来自光学路径的发射的光,该光学路径包括连接到和/或光学耦合到光发射器的光纤。该设备可进一步包括第二透镜,该第二透镜将照准的光聚焦回到光学路径中,例如聚焦到连接到流动池(flow cell)的第二光纤。所测量的光吸收率结果用于确定系统或设备的光度准确度,诸如线性准确度或线性动态范围准确度。42.通过比较在一段时间测量的结果,可以决定是否存在对于维护的需要。即,可执行资产性能测量。换句话说,如果所测量的吸收率随时间下降,则可将其用作要求维护的指示,例如更换光发射器、更换光传感器、清洁透镜等。43.本公开基于发明人的认识,即当滤光轮的特定滤波器被移动通过光学路径时,例如光吸收率的测量结果不是恒定的。即使光学器件始终保留在滤波器的自由孔径内,所测量的吸收率也有清晰且一致的图案(pattern)。44.因此,对于每个滤波器,在不同位置扫描并平均测量值是有利的。这种方法的另一个优点是能够最小化微小缺陷或颗粒污染物的影响。滤光轮可以被封闭在壳体中,使得滤波器组合件不能从外部触及,并且被保护免受颗粒或其它污染物的影响。结果是高重复性和准确的校准,例如确定设备的线性准确度或线性动态范围。校准可以按需执行,并且无需与设备进行手动交互。45.换句话说,与只在一个位置处测量每个滤波器的技术解决方案相比,实现了测量精度和准确度的改进。该解决方案还允许频繁和高重复性地评估线性和光度准确度性能。这能进一步用于预测对于维护的需要(资产性能管理)。46.本说明书和对应权利要求书中的“或”应被理解为涵盖“与”和“或”的数学“or”,而不应被理解为“xor”(异或)。本公开和权利要求书中的不定冠词“一”不限于“一个”,而是也可以被理解为“一个或多个”,即复数的。47.在本公开中,将可互换地提及术语“流体源”、“容器”和“贮存器”,表示指代能够提供流体的单元或布置,例如适于保持流体的受器。在下面的描述中,流体源将被描述为容器,但是可使用任何合适的流体源。48.在本公开中,将可互换地提及处理电路系统和处理部件。49.在本公开中,术语“缓冲溶液”指代适用于色谱设备的流体,所述流体例如用于在执行色谱运行之前在其中悬浮样本。50.在本公开中,术语“色谱系统”可与术语“色谱设备”可互换地使用,并且指代用于分离混合物的布置或设备。51.在本公开中,术语“光学路径”指代光在光学介质(例如户外或光纤)中传播时所采取的路径。52.在本公开中,术语“光发射器”指代能够发射有特定波长的光的光源,例如闪光灯、放电灯、灯泡或发光二极管led。光沿着光学路径发射。53.在本公开中,术语“光传感器”指代配置成测量接收到的光强度的布置,例如光电二极管。54.图1图示根据本公开的一个或多个实施例的色谱设备100。55.色谱设备100通常可包括至少一个入口155。入口可以可选地耦合到生成系统sys和/或配置成保持流体(例如洗脱液)的流体源154。入口155可例如被实现为管状元件,诸如管子或软管。入口155可配置成耦合到柱141。柱141可被包含在色谱设备100中或者布置在色谱设备100的外部。56.色谱设备100可进一步包括控制单元110,该控制单元包括电路系统(例如处理器)和存储器。存储器可包含可由处理电路系统执行的指令,由此所述控制单元110和/或色谱设备操作来执行本文描述的步骤或方法中的任何步骤或方法。57.在一些实施例中,设备131、电导率传感器132和出口阀120的任何的选择被串联且流体耦合到柱141或流体源154,并且在整个色谱运行期间执行测量。色谱设备100可以可选地包括分离器(splitter)(未示出),该分离器耦合到柱141的流体出口并耦合到用于测量物质的光吸收率的设备/分光光度传感器131、电导率传感器132和出口阀120的任何的选择。分离器可配置成将从柱141接收的流体引导至设备131、电导率传感器132和出口阀120中的任何。可选地,分离器可通信地耦合到控制单元110,并响应于来自控制单元110的一个或多个控制信号执行流体到uv传感器131、电导率传感器132和出口阀120中的任何的耦合。58.设备131可通信地耦合到控制单元110,并被配置用于测量定量量度(quantitative measure),诸如由分离器提供的流体的光吸收率。设备131可进一步配置成将所测量的定量量度作为包括测量数据的控制信号提供给控制单元110。59.色谱设备100可进一步包括电导率传感器132,该电导率传感器可选地通信地耦合到控制单元110,并且被配置用于测量定量量度,例如由分离器提供的流体的电导率。电导率传感器132可进一步配置成将所测量的定量量度作为包括测量数据的控制信号提供给控制单元110。60.色谱设备100可进一步包括耦合到分离器的出口阀120。出口阀120可具有一个或多个出口或出口端口121-123,并且配置成响应于例如从控制单元110接收的控制信号将由分离器提供的流体提供给一个或多个出口121-123。换句话说,执行洗出液的分馏。61.控制单元110通信地耦合到设备131和/或电导率传感器132和/或出口阀120。控制单元110配置成向/从设备131和/或电导率传感器132和/或出口阀120发送和/或接收控制信号。62.图2图示根据本公开的一个或多个实施例的设备/分光光度计/分光光度传感器131。用于测量物质的光吸收率的设备通常用于色谱设备100。63.设备131通常包括用于使流体能够被测量的导管c,例如来测量由色谱设备100处理的流体的光吸收率或透射率。设备131通常包括配置成沿着光学路径op向光传感器s发射光的光发射器le。光传感器s配置成测量发射的光,特别是测量和/或量化接收到的光的光强度。设备131可进一步可选地包括参考光传感器rs,该rs配置成测量发射的光,特别是测量和/或量化接收到的光的光强度。设备131可进一步包括分束器,该分束器配置成将来自光发射器le的光分离,并将发射的光转向光传感器s和参考光传感器rs两者。由此,可以在横越过导管c和/或任何校准滤波器布置之前的光强度和横越过导管c和/或任何校准滤波器布置之后的光强度之间得到光强度的相对测量,因此提供光吸收率和/或透射率的测量。64.光发射器le和光传感器s可被布置成使得光学路径与导管c相交,例如基本上与导管c的中心线相交。换句话说,设备131通常用于测量穿过由色谱设备100处理的流体的光的吸收率和/或透射率。根据和/或响应于一个接收到的控制信号和/或多个接收到的控制信号来控制例如被控制成发射某一光强度和/或发射特定带宽的光的光发射器le。光传感器s被进一步配置成发送指示所测量的光的控制信号。控制信号通常从/向控制单元/计算机110接收/发送。65.设备131通常进一步包括用于校准设备131的校准滤波器布置。滤波器布置包括具有或被提供有一个或多个光学滤波器的旋转盘d。盘被布置成围绕旋转轴旋转,并且一个或多个光学滤波器中的每个被布置成当被盘d旋转到光学路径op中时,其中心与光学路径op对准。换句话说,旋转轴和光学路径op基本平行运行,并且从旋转轴到光学路径op的距离与从旋转轴到光学滤波器中的每个的中心的距离相同。66.滤波器布置通常进一步包括致动器m,该致动器m配置成根据和/或响应于接收到的一个控制信号和/或多个接收到的控制信号在预定位置之间旋转盘d。致动器m可例如是配置成在预定位置之间旋转的步进马达。控制信号通常从控制单元110接收。67.备选地,设备131被提供有外部校准滤波器布置300,如关于图8进一步描述的。68.设备131进一步通信地耦合到控制单元110,例如耦合到光发射器le、光传感器s、参考光传感器rs和致动器m的选择。69.关于图6进一步描述控制单元110和/或计算机110。70.图3示出根据本公开的一个或多个实施例的校准滤波器布置300的细节。示出了从光学路径op的方向(即从光发射器le到光传感器s)看去的滤波器布置300。71.滤波器布置300包括盘d,该盘d沿着平面延伸,并且被布置成围绕旋转轴旋转,并且配置成保持一个或多个光学滤波器f1-f4。所述一个或多个光学滤波器f1-f4被保持或维持在沿着平面距旋转轴的第一距离d1处。72.换句话说,滤波器布置包括具有或被提供有一个或多个光学滤波器f1-f4的旋转盘d。盘d被布置成围绕旋转轴旋转,并且一个或多个光学滤波器f1-f4中的每个被布置成当被盘d旋转到光学路径op中时,其中心与光学路径op对准。73.滤波器布置300进一步包括致动器或旋转驱动单元m,其耦合到盘d并配置成响应于接收到的控制信号将盘d围绕旋转轴旋转到预定位置。控制信号通常从控制单元110接收。74.换句话说,滤波器布置通常进一步包括致动器m,该致动器m配置成根据和/或响应于接收到的一个控制信号和/或多个接收到的控制信号在预定位置之间旋转盘d。致动器m可例如是配置成在预定位置之间旋转的步进马达。控制信号通常从控制单元110接收。75.当盘d旋转时,光学路径与盘d相交的位置由图3中的虚线圆指示。换句话说,当盘d旋转时,光学路径与盘d所包含的滤波器对准的位置由图3中的虚线圆指示。换句话说,旋转轴和光学路径op基本平行运行,并且从旋转轴到光学路径op的距离与从旋转轴到光学滤波器中的每个的中心的距离相同。76.盘d包括圆弓形或半圆形的形状。因此,在一些位置,该盘不与光学路径op重叠或相交。77.图4示出根据本公开的一个或多个实施例的包括多个部分的盘d。盘d沿着平面延伸,并且被布置成围绕旋转轴410旋转,并且保持一个或多个光学滤波器f1-f4。一个或多个光学滤波器f1-f4由盘保持在沿着平面距旋转轴410的第一距离d1处,通常被布置成匹配旋转轴410和光学路径op(图中未示出)之间的距离。78.在一个或多个实施例中,所述盘d包括圆弓形或半圆形的形状。这意味着当盘d围绕旋转轴410旋转一整圈时,或者盘或者一个或多个光学滤波器f1-f4在该圈的一部分中阻挡光学路径op或与之相交,而在该圈的第二部分中不阻挡光学路径op或与之相交。79.在一个或多个实施例中,盘d包括第一部分pr1、第二部分pr2、一个或多个滤波器f1-f4、配置成将第一部分pr1固定到第二部分pr2的一个或多个紧固布置fa1-fa3。第一部分pr1和第二部分pr2被布置在平面的相对侧上,并且一个或多个滤波器f1-f4沿着该平面布置。80.紧固布置可例如是将第一部分pr1保持到第二部分pr2的螺钉。81.图5示出根据本公开的一个或多个实施例的盘d的细节。一个或多个光学滤波器f1-f4通常被布置成它们的中心在沿着平面距旋转轴410第一距离d1处。一个或多个光学滤波器f1-f4被进一步布置成彼此相距特定距离。在一个实施例中,一个或多个光学滤波器f1-f4彼此分离第二距离d2。在一个示例中,一个或多个光学滤波器f1-f4被布置成它们的中心彼此距离相等。82.图6示出根据本公开的一个或多个实施例的计算机/控制单元110。计算机110可以是例如计算机、服务器、控制单元、板载计算机、固定计算装置、膝上型计算机、平板计算机、手持计算机、腕戴式计算机、智能手表、智能电话或智能tv的形式。计算机110可包括处理电路系统612,该处理电路通信地耦合到被配置用于有线或无线通信的通信接口,例如收发器604。计算机110可进一步包括至少一个可选天线(图中未示出)。天线可耦合到收发器604,并且配置成在通信网络(诸如wifi、蓝牙、3g、4g、5g无线网络等)中传送和/或发射和/或接收有线或无线信号。在一个示例中,处理电路系统612可以是处理电路和/或中央处理单元和/或处理器模块和/或配置成相互协作的多个处理器的选择的任何。另外,计算机110可进一步包括存储器615。存储器615可例如包括硬ram、盘驱动器、软盘驱动器、闪存驱动器或其它可移除或固定介质驱动器或本领域已知的任何其它合适的存储器的选择。存储器615可包含可由处理电路系统执行以执行本文描述的任何步骤或方法的指令。处理电路系统612可以可选地通信地耦合到收发器604和/或存储器615的任何的选择。计算机110可配置成直接向上面提到的单元或外部节点中的任何发送/接收控制信号,或者经由有线和/或无线通信网络发送/接收控制信号。83.有线/无线收发器604和/或有线/无线通信网络适配器可配置成向/从其它外部节点发送和/或接收作为去往或来自处理电路系统612的信号的数据值或参数。例如,指示所测量光强度的测量值。84.在一个实施例中,收发器604直接或经由无线通信网络与外部节点通信。85.在一个或多个实施例中,计算机110可进一步包括输入装置617,其配置成接收来自用户的输入或指示,并将指示用户输入或指示的用户输入信号发送到处理电路系统612。86.在一个或多个实施例中,计算机110可进一步包括显示器618,显示器618配置成从处理电路系统612接收指示渲染对象(诸如文本或图形用户输入对象)的显示信号,并将接收到的信号显示为对象(诸如文本或图形用户输入对象)。87.在一个实施例中,显示器618与用户输入装置617集成在一起,并配置成从处理电路系统612接收指示渲染对象(诸如文本或图形用户输入对象)的显示信号,并将接收到的信号显示为对象(诸如文本或图形用户输入对象),和/或配置成从用户接收输入或指示,并将指示用户输入或指示的用户输入信号发送到处理电路系统612。88.在另外的实施例中,计算机110可进一步包括和/或耦合到一个或多个附加传感器(图中未示出),所述一个或多个附加传感器配置成接收和/或得到和/或测量与色谱设备100有关的物理性质,并将指示色谱设备100的物理性质的一个或多个传感器信号发送到处理电路系统612。例如,测量周围环境空气温度的温度传感器。89.在一个或多个实施例中,处理电路系统612进一步通信地耦合到输入装置617和/或显示器618和/或附加传感器和/或本文描述的任何单元。90.图7示出根据本公开的一个或多个实施例的方法的流程图。该方法可以是由计算机110执行的计算机实现的方法,该计算机配置成校准用于测量用于色谱系统或色谱设备100的物质的光吸收率的设备/分光光度计131。设备131可包括用于使流体能够被测量的导管c。设备131可进一步包括光发射器le,该le配置成将光沿着光学路径op发射到光传感器s,该光传感器s配置成测量发射的光。光学路径可例如与导管c的中心线相交。设备131可进一步包括:具有一个或多个光学滤波器的旋转盘d,多个光学滤波器中的每个被布置成当旋转时其中心穿过光学路径op;配置成根据控制信号旋转盘d的致动器。所述方法包括:步骤710:控制盘d旋转到第一位置。盘被旋转到一个位置,在该位置一个或多个光学滤波器中的第一滤波器与光学路径op相交在第一点p1。91.光学滤波器与光学路径相交是指光学滤波器被放置或布置在一个位置,在该位置光学路径穿过光学滤波器、使得光传感器s能够记录发射的光的(通常是预定的)光衰减。92.在第一示例中,参考图3,滤波器f1被旋转到一个位置,在该位置光学路径在第一点p1穿过光学滤波器。93.通常由计算机110通过向驱动单元/致动器m发送控制信号来将盘d控制到第一位置。94.步骤720:测量第一光吸收值。95.在一个示例中,参考图2,首先参考光强度值被参考传感器rs记录/测量,该参考光强度值指示由光发射器le发射的光的光强度。其次,并且基本上同时,光传感器s记录/测量接收到的光强度值。计算机110然后可将第一光吸收值测量/计算为接收到的光强度值和参考光强度值之间的指标。96.步骤730:控制盘d旋转到不同于第一位置的第二位置,其中第一滤波器仍然在第二点p2与光学路径op相交。97.通常由计算机110通过向驱动单元/致动器m发送控制信号来将盘d控制到第二位置。在一个示例中,驱动单元/致动器m是响应于控制信号移动到预定位置的步进马达。步进马达可例如每分辨率具有200个预定位置/步,并且对于在预定位置之间每个完整步旋转1.8度。98.步骤740:测量第二光吸收值。99.在一个示例中,参考图2,首先参考传感器rs记录/测量第二参考光强度值,该第二参考光强度值指示由光发射器le发射的光的光强度。其次,并且基本上同时,光传感器s记录/测量第二接收到的光强度值。计算机110然后可将第二光吸收值测量/计算为第二接收到的光强度值和第二参考光强度值之间的指标。100.步骤750:生成累积光吸收值。101.在一个实施例中,通过使用所述第一光吸收值和所述第二光吸收值计算平均值来生成所述累积光吸收值。102.在一个示例中,通过计算第一光吸收值和第二光吸收值的算术平均来生成累积光吸收值。103.在一个实施例中,所述平均值被计算为算术平均、几何平均和调和平均的选择。104.尽管通过累积两个不同点处的光吸收值来说明生成累积光吸收值的原理,但是应当理解,在不脱离本公开的情况下,可使用更大数量的值,诸如3-50。105.步骤760:通过将所述累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来校准所述设备131。106.在一个实施例中,校准包括通过将所述累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来执行吸收率准确度测试,其中,比较包括计算所述累积光吸收值和所述参考光吸收值之间的绝对差。107.在一个实施例中,校准包括通过生成多个累积光吸收值来执行线性准确度测试,每个累积光吸收值是针对不同幅度的发射的光/不同的光学滤波器生成的,将多个累积光吸收值与参考光吸收曲线进行比较,其中比较包括计算所述多个累积光吸收值中的每个与曲线在对应幅度下和/或使用对应光学滤波器时的光吸收值之间的绝对差。这可例如通过将多个累积光吸收值与直线进行比较来执行。108.根据本公开的另外方面,提供了一种计算机程序,并且其包括计算机可执行指令,该计算机可执行指令用于当该计算机可执行指令在计算机110中包括的处理电路系统上执行时,使得计算机110执行本文描述的方法步骤的任何方法步骤。109.根据本公开的另外方面,提供了一种计算机程序产品,其包括计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质具有在其中体现的上述计算机程序。110.根据本公开的另外方面,提供了一种载体,并且其包含上述计算机程序,其中该载体是电子信号、光学信号、无线电信号或计算机可读存储介质之一。111.在一个实施例中,盘d沿着平面延伸,并绕垂直于所述平面的旋转轴旋转,并且其中,第一点p1和第二点p2位于平面中,并且与旋转轴相距第一相等距离,并且彼此相距第二距离。112.在一个实施例中,所述第二距离在1-1000 mm的范围内。113.根据本公开的一些方面,提供了一种校准滤波器布置。校准滤波器布置300适于校准用于测量物质的光吸收率的设备/分光光度计131。114.校准滤波器布置300包括:盘d,其沿着平面延伸,并且被布置成围绕旋转轴410旋转,并且将一个或多个光学滤波器f1-f4保持在沿着该平面与旋转轴410相距第一距离d1处;旋转驱动单元m,其耦合到盘d,并且配置成响应于接收到的控制信号将盘d围绕旋转轴旋转到预定位置。旋转驱动单元m可例如是配置成旋转到多个预定位置之一的电动步进马达。115.在一个实施例中,所述盘d包括圆弓形或半圆形的形状。116.在一个实施例中,滤波器布置包括盘d,其中该盘包括第一部分pr1和/或第二部分pr2和/或一个或多个滤波器f1-f4。盘d可进一步包括配置成将第一部分pr1固定到第二部分pr2的一个或多个紧固布置fa1-fa3。第一部分pr1和第二部分pr2布置在平面的相对侧上,并且其中一个或多个滤波器f1-f4沿着该平面布置。117.根据本公开的一些方面,提供了一种用于测量物质的光吸收率的设备,诸如分光光度计131。设备131通常用于色谱设备100。设备131包括用于使流体能够被测量的导管c、配置成沿着光学路径op向光传感器s发射光的光发射器le,该光传感器s配置成测量发射的光。可选地,光学路径与导管c的中心线相交。118.设备131进一步包括具有一个或多个光学滤波器f1-f4的旋转盘d。一个或多个光学滤波器中的每个通常被布置成当旋转到光学路径op中时其中心与光学路径op对准。换句话说,当盘d旋转时,一个或多个光学滤波器f1-f4的中心将在一些位置与光学路径op重合。119.设备131进一步包括配置成根据控制信号在预定位置之间旋转盘d的致动器m。120.设备131进一步包括和/或通信地耦合到包括电路的计算机110,该电路包括处理电路系统612和存储器615,所述存储器615包括可由所述处理电路系统612执行的指令,其中计算机110通信地耦合到设备131,其中所述计算机配置成当指令由所述处理电路系统612执行时执行本文描述的任何方法步骤。121.图8示出了用于测量物质131的光吸收率的设备的实施例,该设备被提供有外部校准滤波器布置300。如从图8能看出的,设备131的光学路径进一步包括配置成将光发射器le光学耦合到去往(一个或多个)光学滤波器f1-f4的第一光纤fib1。在一个示例中,第一光纤fib1将来自分束器的光耦合到第一透镜l1,该分束器配置成分离来自le的光。第一透镜l1配置成照准从一光纤fib1沿着光学路径朝向盘/d和/或滤波器f1-f4的光。设备131的光学路径进一步包括配置成将过滤的光光学耦合到去往光传感器s的第二光纤fib2。在一个另外的示例中,第二光纤fib2将来自第二透镜l2的已经被光学滤波器f1-f4之一滤波的光耦合到光传感器s。第二透镜l2配置成将经滤波的光或已经通过滤波器f1-f4之一的光聚焦到第二光纤fib2。122.因此,校准滤波器布置300可以可选地被布置为设备131的集成部分或者布置为光学耦合到设备131的外部部分。123.在实施例中,通信网络使用有线或无线通信技术进行通信,这些技术可以包括以下中的至少一个:局域网(lan)、城域网(man)、全球移动网络系统(gsm)、增强型数据gsm环境(edge)、通用移动电信系统、长期演进、高速下行链路分组接入(hsdpa)、宽带码分多址(w-cdma)、码分多址(cdma)、时分多址(tdma)、蓝牙®、zigbee®、wi-fi、因特网协议语音(voip)、lte高级、ieee802.16m、高级无线man、演进高速分组接入(hspa+)、3gpp长期演进(lte)、移动wimax (ieee 802.16e)、超移动宽带(umb)(以前的演进数据优化(ev-do)修订版c)、采用无缝切换正交频分复用的快速低等待时间接入(flash-ofdm)、高容量空分多址(iburst®)和移动宽带无线接入(mbwa)(ieee 802.20)系统、高性能无线电城域网(hiperman)、波分多址(bdma)、全球微波接入互通(wi-max)和超声通信等,但不局限于此。124.而且,由技术人员认识到,计算机110可包括采取例如用于执行本解决方案的功能、部件、单元、元件等形式的必要通信能力。其它这样的部件、单元、元件和功能的示例是:处理器、存储器、缓冲器、控制逻辑、编码器、解码器、速率匹配器、解速率匹配器、映射单元、乘法器、决策单元、选择单元、交换机、交织器、解交织器、调制器、解调器、输入、输出、天线、放大器、接收器单元、传送器单元、dsp、msd、tcm编码器、tcm解码器、电源单元、馈电器、通信接口、通信协议等,它们适当地布置在一起,以用于执行本解决方案。125.尤其是,本公开的处理电路系统和/或处理部件可包括处理电路、处理器模块和配置成相互协作的多个处理器、中央处理单元(cpu)、处理单元、处理电路、处理器、专用集成电路(asic)、微处理器、现场可编程门阵列(fpga)或可解释和执行指令的其它处理逻辑的一个或多个实例。因此,表述“处理电路系统”和/或“处理部件”可表示包括多个处理电路的处理电路系统,诸如例如上面提到的处理电路中的任何、一些或全部。处理部件可进一步执行用于输入、输出和处理数据的数据处理功能,包括数据缓冲和装置控制功能,诸如用户界面控制等等。126.最后,应当理解,本发明不局限于上述实施例,而且涉及并结合了所附独立权利要求范围内的所有实施例。

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