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一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置的制作方法 专利技术说明

作者:admin      2022-11-26 11:44:57     244



计算;推算;计数设备的制造及其应用技术1.本发明涉及硬盘测试技术领域,具体为一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置。背景技术:2.硬盘是由负责存储的机械系统和负责控制及通信的电路系统组成的,硬盘长时间使用后,出现老化,其影响也主要表现在这两个方面,一是机械系统的老化,为磁头老化和电机老化,二是电路系统的老化,当硬盘的电路系统老化时,最容易出现的故障就是硬盘识别不正常,其表现为硬盘工作中突然就不能正常识别了,重启或放置一段时间后,又可以正常工作,且故障反复发作。3.当进行硬盘投入批量生产时,应进行硬盘的老化测试,但现有的老化测试通常采用密封装置下的高温检测,这样并不能完全模拟硬盘在真正使用过程中出现的老化问题,因此测试出的结果具有明显偏差,因此如何高度模拟硬盘使用时老化环境,以提高测试结果精准性是本领域人员应当解决的问题。技术实现要素:4.本发明的目的在于提供一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。5.为了解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置,包括排气组件、测试组件、承压组件和硬盘测试系统,其中:6.所述测试组件包括测试箱,所述测试箱的内部底面上固定有支撑盘,所述支撑盘中间固定有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的顶端处轴承连接有转盘,所述转盘的外圈上均匀固定有若干连杆,若干所述连杆外端安装有夹持部,所述夹持部的上端开设有连接口,所述夹持部的内部安装有老化测试仪,所述老化测试仪与连接口间导线连接,所述连接口一侧固定有温度传感器,所述老化测试仪和温度传感器均与硬盘测试系统无线连接,所述测试箱的一侧转动连接有箱门。7.本发明进一步说明,所述排气组件包括风机、加热管和排气口,其中:8.所述测试箱的左壁上安装有加热电源,所述加热电源与加热管电连接,所述风机位于测试箱上方,所述风机与测试箱内部管道连接,且管道上安装有控制阀,所述排气口开设于测试箱的底部。9.本发明进一步说明,所述承压组件包括测压元件和承压板,其中:10.所述测压元件上端与承压板的底部相固定,所述测压元件的下端与电动伸缩杆的顶部相固定,所述测试箱的内壁上安装有摄像头;11.所述硬盘测试系统包括控制模块、分析模块和调试模块。12.本发明进一步说明,所述硬盘测试系统的运行方法如下:13.s1:测试箱为开放式结构,打开箱门,将待测硬盘依次安装在夹持部上,并且接通连接口,随后关闭箱门,硬盘测试系统启动;14.s2:硬盘测试系统进行待测硬盘的老化测试,设定初始加热温度为125℃,且初始检测时间为t0,排气组件运行,进行内部老化环境模拟;15.s3:测试组件与排气组件同步运行,控制待测硬盘在模拟环境中达到预设效果状态,实现受热均匀,以提高老化检测过程中数据的精准性;16.s4:在待测硬盘达到预设效果后,承压组件以及温度传感器将检测的压力数据以及温度数据传输至分析模块,分析模块对硬盘的实际检测时间进行自动调整,进而使得老化测试仪接收到的数据精准。17.本发明进一步说明,所述s2的具体步骤为:18.s21:加热电源启动,使内部的加热管的温度达到125℃;19.s22:风机启动,外部气流经控制阀进入测试箱内部,并从排气口排出,使得内部进行暖气流流动,进行硬盘投入使用状态下的高温环境模拟。20.本发明进一步说明,所述s3的具体内容为:21.在内部气流流动时,摄像头对转盘的运行状态进行监测,设定预设效果的检测状态为转盘在内部气流作用下,带动待测硬盘发生转动,转速记为r,且0《r≤0.1r/s;22.当摄像头检测到转盘未发生转动时,说明转盘所处的高度偏低,导致气流分散,不足以带动转盘旋转,因此控制模块控制电动伸缩杆以v0的移速带动转盘缓慢上移,当摄像头检测到转盘受气流作用发生转动时,控制模块控制电动伸缩杆停止上移并保持现有高度,进行老化测试;23.设定测试箱内部空间足够大,当电动伸缩杆带动转盘上移到最高距离,且未达到转动状态时,控制模块通过调节控制阀的阀口大小使得内部进气量增大,使得内部气流增多,以促使转盘发生转动。24.本发明进一步说明,所述s4中的承压组件对气流压力以及灰尘积聚的压力进行检测,并将转盘刚进行转动时承压板的承受压力记为f,在装置稳定运行固定时间段后的压力记为f1,设定测压元件11所承受气压的最大压力值记为fmax。25.本发明进一步说明,所述分析模块结合f1和f建立压力变化系数α,且和f建立压力变化系数α,且其中设定灰尘施加的压力小于气流施加压力,因此0≤α《1。26.本发明进一步说明,所述老化测试仪对硬盘处的温度传感器所检测的温度进行采集,并检测接收信号的稳定性,设定接收频率处于平稳状态时,传输信号为0,接收频率处于波动状态时,传输信号为1。27.所述调试模块根据温度传感器以及信号稳定性数据进行实际检测时间t的计算。28.本发明进一步说明,所述实际检测时间t的计算公式如下:[0029][0030]其中,t为初始检测时间,α为压力变化系数,i为测试箱内为达到受热均匀效果下固定时间段的使用次数。[0031]与现有技术相比,本发明所达到的有益效果是:本发明,采用测试箱、排气组件和测试组件,为硬盘的老化测试提供开放式检测设备,模拟出硬盘在老化测试中通风状态下的高温环境,更加贴合硬盘的实际使用情况,同时在测试过程中,实现多个硬盘的均匀受热,提高测试结果的精准性。附图说明[0032]附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:[0033]图1是本发明的整体正面剖视结构示意图;[0034]图2是本发明的整体内部示意图;[0035]图中:1、测试箱;2、风机;3、控制阀;4、加热电源;5、箱门;6、加热管;7、排气口;8、支撑盘;9、电动伸缩杆;10、转盘;11、测压元件;12、承压板;13、连杆;14、夹持部;15、连接口。具体实施方式[0036]以下结合较佳实施例及其附图对本发明技术方案作进一步非限制性的详细说明。显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。[0037]实施例一[0038]请参阅图1-2,本发明提供技术方案:一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置,包括排气组件、测试组件、承压组件和硬盘测试系统,其中:[0039]测试组件包括测试箱1,测试箱1的内部底面上固定有支撑盘8,支撑盘8中间固定有电动伸缩杆9,电动伸缩杆9的顶端处轴承连接有转盘10,转盘10的外圈上均匀固定有若干连杆13,若干连杆13外端安装有夹持部14,夹持部14的上端开设有连接口15,夹持部14的内部安装有老化测试仪,老化测试仪与连接口15间导线连接,连接口15一侧固定有温度传感器,老化测试仪和温度传感器均与硬盘测试系统无线连接,测试箱1的一侧转动连接有箱门5。[0040]排气组件包括风机2、加热管6和排气口7,其中:[0041]测试箱1的左壁上安装有加热电源4,加热电源4与加热管6电连接,风机2位于测试箱1上方,风机2与测试箱1内部管道连接,且管道上安装有控制阀3,排气口7开设于测试箱1的底部。[0042]承压组件包括测压元件11和承压板12,其中:[0043]测压元件11上端与承压板12的底部相固定,测压元件11的下端与电动伸缩杆9的顶部相固定,测试箱1的内壁上安装有摄像头;[0044]本实施例中,采用开放式检测装置,打开箱门5,将待测硬盘通过接口与连接口15连接,同时夹持部14对硬盘进行固定,当进行硬盘检测时,排气组件对内部通热气流,模拟硬盘使用时出现的高温环境,同时设立了测试组件和摄像头,摄像头对转盘10上硬盘转动情况进行监测,当内部通气流时,气流从风机2处引进并从排气口7排出时,使转盘10围绕电动伸缩杆9顶部发生转动,通过转动工序,使硬盘在进行老化检测时实现均匀受热,当摄像头监测到转盘10并未发生旋转时,可以先通过电动伸缩杆9的上升带动转盘10上移,提高气流对转盘10所施加的压力,使得转盘10发生转动,若是转盘10仍不转动,可以调节控制阀3实现通气量的增大,进而使转盘10发生转动,这样就模拟了硬盘在老化测试中通风状态下的高温环境,更加贴合硬盘的实际使用情况,同时在测试过程中,实现多个硬盘的均匀受热,提高测试结果的精准性。[0045]当需要进行硬盘替换时,直接打开箱门5进行硬盘更换即可,操作过程简单。[0046]实施例二[0047]请参阅图1-2,本实施例的结构与实施例一基本相同,不同的是在实施例一的基础上增加以下结构:硬盘测试系统包括控制模块、分析模块和调试模块;[0048]控制模块用于控制排气组件、测试组件以及承压组件的运行,排气组件用于控制测试装置内部通热气,提供老化测试中的高温环境,测试组件结合摄像头对内部硬盘的测试状态进行调整,使之达到待测硬盘连接在连接口15处能够发生缓慢转动达到受热均匀的预设效果,承压组件用于进行内部压力检测,并将检测数据传输至分析模块,分析模块用于根据承压组件数据以及老化测试仪数据进行分析是否受热均匀以及内部检测数据的稳定性,调试模块用于根据温度传感器的实时数据进行内部加热时间调整。[0049]硬盘测试系统的运行方法如下:[0050]s1:测试箱1为开放式结构,打开箱门5,将待测硬盘依次安装在夹持部14上,并且接通连接口15,随后关闭箱门5,硬盘测试系统启动;[0051]s2:硬盘测试系统进行待测硬盘的老化测试,设定初始加热温度为125℃,且初始检测时间为t0,排气组件运行,进行内部老化环境模拟;[0052]s3:测试组件与排气组件同步运行,控制待测硬盘在模拟环境中达到预设效果状态,实现受热均匀,以提高老化检测过程中数据的精准性;[0053]s4:在待测硬盘达到预设效果后,承压组件以及温度传感器将检测的压力数据以及温度数据传输至分析模块,分析模块对硬盘的实际检测时间进行自动调整,进而使得老化测试仪接收到的数据精准。[0054]s2的具体步骤为:[0055]s21:加热电源4启动,使内部的加热管6的温度达到125℃;[0056]s22:风机2启动,外部气流经控制阀3进入测试箱1内部,并从排气口7排出,使得内部进行暖气流流动,进行硬盘投入使用状态下的高温环境模拟。[0057]s3的具体内容为:[0058]在内部气流流动时,摄像头对转盘10的运行状态进行监测,设定预设效果的检测状态为转盘10在内部气流作用下,带动待测硬盘发生转动,转速记为r,且0《r≤0.1r/s,通过气流的转动运行不仅节约电机能源的使用,同时达到更佳地模仿硬盘在实际使用中的热风影响效果,以上过程使得待测硬盘在高温环境下均匀受热,使测试结果精准;[0059]当摄像头检测到转盘10未发生转动时,说明转盘10所处的高度偏低,导致气流分散,不足以带动转盘10旋转,因此控制模块控制电动伸缩杆9以v0的移速带动转盘10缓慢上移,当摄像头检测到转盘10受气流作用发生转动时,控制模块控制电动伸缩杆9停止上移并保持现有高度,进行老化测试;[0060]设定测试箱1内部空间足够大,当电动伸缩杆9带动转盘10上移到最高距离,且未达到转动状态时,控制模块通过调节控制阀3的阀口大小使得内部进气量增大,使得内部气流增多,以促使转盘10发生转动。[0061]s4中的承压组件对气流压力以及灰尘积聚的压力进行检测,并将转盘10刚进行转动时承压板12的承受压力记为f,在装置稳定运行固定时间段后的压力记为f1。[0062]其中,f设定为在刚达到预设效果时,只有气流对承压板12施加向下压力,测压元件11对气流所施加的压力进行检测,在固定时间段运行后,气流引进灰尘进入测试箱1中,模拟硬盘在长时间运行后的积灰状态,f1为承压板12上的积灰与气流所施加的共同压力,并且设定测压元件11所承受气压的最大压力值记为fmax。[0063]分析模块结合f1和f建立压力变化系数α,且其中设定灰尘施加的压力小于气流施加压力,因此0≤α《1。[0064]老化测试仪对硬盘处的温度传感器所检测的温度进行采集,并检测接收信号的稳定性,设定接收频率处于平稳状态时,传输信号为0,接收频率处于波动状态时,传输信号为1;[0065]调试模块根据温度传感器以及信号稳定性数据进行实际检测时间t的计算;[0066]调试模块的运行方法如下:[0067]a1:温度传感器将检测到的温度数据传输至分析模块,进行待测硬盘是否完成均匀受热,当待测硬盘检测的结果为未达到均匀受热时,承压组件先不进行检测,进行第二个固定时间段内的旋转受热,直至受热均匀;[0068]当待测硬盘检测的结果达到均匀受热时,先判断老化测试仪的接收信号是否稳定,再根据信号稳定性进行下一步处理工序;[0069]a2:在a1设定条件下,当接收信号为0时,说明在受热均匀且信号稳定,调试模块根据压力变化系数α进行实际检测时间调整,并将实际检测时间标记为t,考虑到灰尘因素影响,提高硬盘老化检测的精度性;[0070]当接收信号为1时,说明受热均匀状态下,但信号不稳定,调试模块直接进行报警,提示工作人员关闭测试系统,对显示信号不稳的硬盘进行单独更换处理。[0071]实际检测时间t的计算公式如下:[0072][0073]其中,t为初始检测时间,α为压力变化系数,i为测试箱1内为达到受热均匀效果下固定时间段的使用次数。[0074]本实施例中,在气流引进过程中,加入灰尘数据,灰尘也是影响硬盘使用寿命的影响因素,在老化测试中,自动根据灰尘量调整老化测试中的检测时间,其中检测时间与灰尘量的大小成反比关系,当灰尘量越多时,在高温状态下检测时间应当缩短,这样才能精准获取硬盘相关的老化数据。[0075]在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。[0076]最后需要指出的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制。尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。









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