一种涂胶缺陷检测方法及装置与流程

计算;推算;计数设备的制造及其应用技术1.本技术涉及涂胶技术领域，具体而言，涉及一种涂胶缺陷检测方法及装置。背景技术：2.目前，在对软包电池完成涂胶之后，会打上蓝色光源，使胶呈现蓝色的颜色，然后进行拍摄以获得图像。之后，针对该图像进行分析以检测出涂胶缺陷。然而，在进行波浪线的涂胶检测时，一般在拐角处容易误判。技术实现要素：3.本技术实施例提供了一种涂胶缺陷检测方法及装置，其能够通过在将涂胶区域变换为一条直线之后再进行图像分析的方式，减少涂胶拐点处缺陷的误判，从而增加软包电池波浪形涂胶的缺陷检出率，减少检测的误判率，提高生产效率。4.本技术的实施例可以这样实现：5.第一方面，本技术实施例提供一种涂胶缺陷检测方法，所述方法包括：6.根据原始涂胶图像，获取涂胶延伸方向；7.在所述涂胶延伸方向上将所述原始涂胶图像拆分为多个像素列；8.根据所述原始涂胶图像的像素当量，获取与各个像素列对应的伺服轴运动参数；9.依据所述伺服轴运动参数对相应的像素列进行方位补偿，得到目标涂胶图像，其中，所述目标涂胶图像中的涂胶区域为一条直线；10.依据视觉检测机构对所述目标涂胶图像进行分析，以获取涂胶检测结果。11.第二方面，本技术实施例提供一种涂胶缺陷检测装置，所述装置包括：12.方向获取模块，用于根据原始涂胶图像，获取涂胶延伸方向；13.拆分模块，用于在所述涂胶延伸方向上将所述原始涂胶图像拆分为多个像素列；14.参数获取模块，用于根据所述原始涂胶图像的像素当量，获取与各个像素列对应的伺服轴运动参数；15.补偿模块，用于依据所述伺服轴运动参数对相应的像素列进行方位补偿，得到目标涂胶图像，其中，所述目标涂胶图像中的涂胶区域为一条直线；16.分析模块，用于依据视觉检测机构对所述目标涂胶图像进行分析，以获取涂胶检测结果。17.本技术实施例提供了一种涂胶缺陷检测方法及装置，在获得原始涂胶图像的情况下，基于该原始涂胶图像中的涂胶延伸方向将该原始涂胶图像拆分为多个像素列，并且基于该原始涂胶图像的像素当量获取各个像素列对应的伺服轴运动参数；然后，依据伺服轴运动参数对相应的像素列进行方位补偿，得到目标涂胶图像，该目标涂胶图像中的涂胶区域为一条直线；最后，依据视觉检测机构对该目标涂胶图像进行分析，以获取涂胶检测结果。如此，可通过在将涂胶区域变换为直线之后再进行缺陷分析的方式，减少涂胶拐点处缺陷的误判，从而增加软包电池波浪形涂胶的缺陷检出率，减少检测的误判率，提高生产效率。附图说明18.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。19.图1为涂胶区域的示意图；20.图2为本技术实施例提供的涂胶缺陷检测方法的流程示意图；21.图3为本技术实施例提供的涂胶区域在处理之前的示意图；22.图4为本技术实施例提供的涂胶区域在处理之后的示意图；23.图5为图2中的步骤s130包括的子步骤的流程示意图；24.图6为图2中步骤s140包括的子步骤的流程示意图；25.图7为本技术实施例提供的涂胶缺陷检测装置的方框示意图；26.图8为本技术实施例提供的电子设备的方框示意图；27.图标：200-涂胶缺陷检测装置；210-方向获取模块；220-拆分模块；230-参数获取模块；240-补偿模块；250-分析模块；300-电子设备；310-存储器；320-处理器；330-通信单元。具体实施方式28.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。29.因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。30.需要说明的是，术语“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。31.当前一般是直接针对拍摄得到的图像进行分析，以得到涂胶缺陷检测结果。比如，对拍摄图像采用bolb分析的方法，直接利用二值化开运算和闭运算进行处理，从而获得涂胶缺陷检测结果。然而，本技术发明人经研究发现，直接对拍摄图像进行分析的方式，可以检测直线的涂胶，但用在图1所示的波浪线的涂胶检测上时，近似直线的位置的检出率较高，拐角处容易造成误判。32.为了避免拐角处的误判，本技术实施例提供了一种涂胶缺陷检测方法及装置，在将涂胶区域变换为直线之后再进行图像分析，如此可以减少涂胶拐点处缺陷的误判，从而增加软包电池波浪形涂胶的缺陷检出率，减少检测的误判率，提高生产效率。33.下面结合附图，对本技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。34.在本实施例中，在涂胶完成之后，可利用图像拍摄设备对完成涂胶的软包电池进行拍摄，从而得到原始涂胶图像，并将该原始涂胶图像发送给检测设备。检测设备可以先将该原始涂胶图像中的涂胶区域经过图像变换处理为一条直线，然后对处理之后的图像进行分析，以获得涂胶缺陷检测结果。35.下面以检测设备为执行主体，对本技术实施例提供的涂胶缺陷检测方法进行示例性说明。36.请参照图2，图2为本技术实施例提供的涂胶缺陷检测方法的流程示意图。下面对涂胶缺陷检测方法的具体流程进行详细阐述。该方法可以包括步骤s110～s150。37.步骤s110，根据原始涂胶图像，获取涂胶延伸方向。38.其中，涂胶延伸方向，表示原始涂胶图像中的涂胶的长度延伸方向。39.步骤s120，在所述涂胶延伸方向上将所述原始涂胶图像拆分为多个像素列。40.步骤s130，根据所述原始涂胶图像的像素当量，获取与各个像素列对应的伺服轴运动参数。41.其中，像素当量，用于表示图像中一个像素点代表的实际物理尺寸是多少，也即表示一个像素格长度代表的实际长度。42.步骤s140，依据所述伺服轴运动参数对相应的像素列进行方位补偿，得到目标涂胶图像。43.其中，所述目标涂胶图像中的涂胶区域为一条直线。44.步骤s150，依据视觉检测机构对所述目标涂胶图像进行分析，以获取涂胶检测结果。45.如此，基于伺服轴运动参数对原始涂胶图像中的各像素列进行方位补偿，从而将涂胶区域变换为一条直线，进而进行图像分析，得到涂胶检测结果。该方式由于在进行图像分析前，将涂胶区域处理为了一条直线，因此可以减少涂胶拐点处缺陷的误判，从而增加软包电池波浪形涂胶的缺陷检出率，减少检测的误判率，提高生产效率。46.请参照图3及图4，在处理之前，原始涂胶图像中的涂胶区域为如图3所示的波浪形涂胶，若直接针对该波浪形涂胶进行检测，容易在拐角处误判。而在本实施例中，经过方位补偿，可将图3中的波浪形涂胶处理为图4所示的直线形涂胶，如此可增加波浪形涂胶的缺陷检测率。47.在本实施例中，原始涂胶图像，可以是图像拍摄设备通过对涂胶后的软包电池进行拍摄得到并发送给检测设备的，也可以是用户手动从检测设备已存储的涂胶图像中选出的需要进行涂胶缺陷检测的图像，当然可以理解的是，该需要进行检测的原始涂胶图像也可以通过其他方式确定，在此对其确定方式不进行具体限定。其中，检测设备已存储的涂胶图像，可以是图像拍摄设备预先通过对涂胶后的软包电池进行拍摄得到并发送给检测设备的。48.为避免图像不清楚导致涂胶检测结果不准确，可以预先设定好软包电池的拍照位置，在该位置进行拍摄可以呈现出成像清晰对比度明显的图片。如此，可以获得清晰对比度明显的原始涂胶图像。49.在获得原始涂胶图像的情况下，可以对该原始涂胶图像进行分析，以得到涂胶延伸方向。作为一种可能的示例，可以对原始涂胶图像进行二值化处理，以从原始涂胶图像中检测出目标像素点。其中，目标像素点为有涂胶的像素点。可以理解的是，通过二值化方式确定出目标像素点的方式仅为举例说明，也可以采用其他方式确定出目标像素点。然后，基于目标像素点在原始涂胶图像中的分布情况，得到涂胶延伸方向。如图3所示，假设图3中的黑色部分为目标像素点，则可以确定涂胶延伸方向为从左向右。50.在本实施例中，在确定出涂胶延伸方向之后，可沿着涂胶延伸方向，将原始涂胶图像拆分为一列列的像素列。作为一种可能的示例，也可以在检测出原始涂胶图像中的目标像素点的情况下，仅将包含所有目标像素点的区域在涂胶延伸方向拆分为多个像素列。如图3所示，涂胶延伸方向为从左向右，即为y轴方向，则可以在y轴上，将包含所有目标像素点的区域拆分为多个像素列。51.在本实施例中，步骤s130可以在涂胶过程中执行。可以基于像素当量及伺服轴涂胶过程中的移动情况，得到与各个像素列对应的伺服轴运动参数。伺服轴运动参数，可以为涂胶机构在伺服轴上移动后的位置在xy坐标系下表示出的坐标；即，伺服轴运动参数中可以包括xy坐标系中的坐标，一个坐标中包括x值及y值。该xy坐标系可如图3所示，xy坐标系的y轴的方向为涂胶延伸方向，xy坐标系的x轴的方向为与所述涂胶延伸方向垂直的涂胶起伏方向；原始涂胶图像中一个像素点代表的涂胶机构在伺服轴上移动的实际物理尺寸即为所述像素当量，基于所述像素当量，可以将原始涂胶图像中的像素列与涂胶机构在伺服轴上移动后的位置对应起来，从而根据位置的变化关系对原始涂胶图像中的像素列进行上下平移。52.作为一种可能的示例，可通过图5所示方式获得各像素列对应的伺服轴运动参数。请参照图5，图5为图2中的步骤s130包括的子步骤的流程示意图。在本实施例中，步骤s130可以包括子步骤s131～子步骤s133。53.子步骤s131，获得所述原始涂胶图像的像素当量。54.原始涂胶图像中一个像素点代表的涂胶机构在伺服轴上移动的实际物理尺寸即为所述像素当量。可以获得图像拍摄设备的分辨率，并通过尺子测量得到该图像拍摄设备的成像视野尺寸信息。该图像拍摄设备用于通过拍摄得到所述原始涂胶图像。该成像视野尺寸信息可以包括成像视野的实际长度和实际宽度。然后，即可根据该分辨率及该成像视野尺寸信息，计算得到像素当量。55.再比如，可以指定一个特征点，在伺服轴移动了固定距离之后，根据该特征点在视野内像素坐标的变换情况以及固定距离，计算得到单像素精度，即得到像素当量。56.值得说明的是，上述像素当量的获取方式仅为举例说明，也可以结合实际情况采用其他方式获得像素当量，在此不对像素当量的获取方式进行具体限定。57.子步骤s132，将伺服轴开始涂胶时的起点位置作为基准点，并设置所述基准点在所述xy坐标系下的坐标。58.可选地，可以设置该基准点在所述xy坐标系下的坐标为(0,0)，也可以设置为其他值，具体可以结合实际需求设置。后续涂胶的坐标可以根据具体的运动距离、运动方向以及基准点的坐标得到。其中，所述基准点对应所述原始涂胶图像的涂胶区域中在所述涂胶延伸方向上的第一个像素列。59.子步骤s133，在所述伺服轴涂胶过程中，每当所述伺服轴在所述涂胶延伸方向上移动一个所述像素当量时，获得在所述xy坐标系下的当前坐标，直到涂胶结束。60.在利用伺服轴涂胶时，每当伺服轴在所述xy坐标系下的y轴方向上移动一个像素当量时，可获得该伺服轴在所述xy坐标系下的当前坐标；也即伺服轴在y轴方向上每经过一个像素当量时，记录此时的x值及y值作为伺服轴当前在xy坐标系下的坐标。以此类推，直到涂胶结束，从而得到多个坐标。61.其中，涂胶过程中获得的坐标对应的像素列为所述原始涂胶图像的涂胶区域中在所述涂胶延伸方向上依次排列的像素列。比如，假设原始涂胶图像的涂胶延伸方向为从左向右，并且原始涂胶图像的涂胶区域中从左向右依次排列的像素列为像素列a、b、c、d，则在涂胶过程中获得的基准点的坐标对应像素列a，获得的第二个坐标对应像素列b，获得的第三个坐标对应像素列c，获得的第四个坐标对应像素列d。如此，可利用涂胶机构的伺服轴的运动轨迹，至少获得带有涂胶的像素列各自对应的伺服轴运动参数。62.在获得伺服轴运动参数的情况下，可以通过图6所示方式完成方位补偿。请参照图6，图6为图2中步骤s140包括的子步骤的流程示意图。在本实施例中，步骤s140可以包括子步骤s141～子步骤s143。63.子步骤s141，从与各个像素列对应的坐标中，确定出参考像素列对应的坐标。64.其中，所述参考像素列为已获得的伺服轴运动参数对应的各个像素列中的其中一个像素列。可选地，可以由用户指定其中一个像素列作为参考像素列，也可以随机选出参考像素列，或者如图3及图4所示固定将原始涂胶图像的涂胶区域中在涂胶延伸方向上的第一个像素列(p点所在像素列)作为参考像素列。在确定出参考像素列之后，则可以确定出参考像素列对应的坐标。参考像素列可以不平移，即不需要方位补偿，参考像素列对应的坐标的偏移信息为0。65.子步骤s142，获得各其他像素列对应的坐标中的x值相较于所述参考像素列对应的坐标中的x值的偏移信息。66.可以针对每一个已经获得了对应的伺服轴运动参数的其他像素列，基于该其他像素列对应的坐标中的x值及参考像素列对应的坐标中的x值，计算得到该其他像素列对应的坐标所对应的偏移信息。可选地，偏移信息的具体方式可以结合对变换之后的直线的要求进行确定。比如，若要求该直线为与y轴方向存在大于0°的夹角的直线，则可以基于该要求计算出各坐标对应的偏移信息。67.作为一种可能的示例，变换之后的直线与y轴方向平行。在本实施例中，所述偏移信息包括偏移距离及偏移方向，可以针对每一个其他像素列，将其他像素列对应的坐标中的x值减去与所述参考像素列对应的坐标中的x值，得到计算结果；在所述计算结果为0时，确定所述偏移信息为无偏移；在所述计算结果为正数时，将所述计算结果作为所述偏移距离，并确定所述偏移方向为向上；在所述计算结果为负数时，将所述计算结果的绝对值作为所述偏移距离，并确定所述偏移方向为向下。如此，便于在保证在将涂胶区域处理为直线的情况下快速得到各坐标对应的偏移信息。68.子步骤s143，根据各所述坐标对应的偏移信息，对各所述坐标对应的像素列进行方位补偿。69.在获得各坐标对应的偏移信息的情况下，则可以基于偏移信息中的偏移方向及偏移距离，将各坐标对应的像素列进行平移，从而实现方位补偿。比如，若像素列b对应的坐标所对应的偏移信息为：向上偏移2个像素距离，则可以将像素列b向下平移2个像素距离。70.可以理解的是，若是直接进行原始涂胶图像拆分为多个像素列，且其中仅有部分像素列为带有涂胶的像素列，可以仅对带有涂胶的像素列进行方位补偿，其他未带有涂胶的像素列未进行平移。71.在经过方位补偿之后，可获得涂胶区域为一条直线的目标涂胶图像，可以利用视觉检测机构对该目标涂胶图像进行分析，获得涂胶检测结果。其中，具体分析方法可以结合实际需求确定。72.可选地，可以基于blob检测算法对所述目标涂胶图像进行分析，得到所述涂胶检测结果。在该算法中，先通过二值化确定涂胶区域。若存在较大的缺陷，则通过特征提取，确定出较大缺陷所在的缺陷区域。若存在较小一些的缺陷，则通过开运算和闭运算分别得到一幅二值化的图像，再通过将两张图像相减，得到一张新的图像，进而针对所述新的图像进行特征提取，从而以得到涂胶的缺陷区域。基于缺陷区域的情况生成涂胶检测结果。73.在本实施例中，将涂胶轨迹在y轴方向上按照像素均分，然后根据划分之后的每列像素在x轴方向上需要平移的像素数量及方向，对各列像素列在x轴方向进行平移，从而得到新的为直线的涂胶轨迹。其中，需要平移的像素数量及方向，基于伺服轴的运动轨迹得到。如此，可以基于伺服轴涂胶的轨迹，将波浪形涂胶区域转换成直线的涂胶区域，从而减少拐点处检测导致的误检，提升检出率。74.为了执行上述实施例及各个可能的方式中的相应步骤，下面给出一种涂胶缺陷检测装置200的实现方式，请参照图7，图7为本技术实施例提供的涂胶缺陷检测装置200的方框示意图。需要说明的是，本实施例所提供的涂胶缺陷检测装置200，其基本原理及产生的技术效果和上述实施例相同，为简要描述，本实施例部分未提及之处，可参考上述的实施例中相应内容。该涂胶缺陷检测装置200可以包括：方向获取模块210、拆分模块220、参数获取模块230、补偿模块240及分析模块250。75.所述方向获取模块210，用于根据原始涂胶图像，获取涂胶延伸方向。76.所述拆分模块220，用于在所述涂胶延伸方向上将所述原始涂胶图像拆分为多个像素列。77.所述参数获取模块230，用于根据所述原始涂胶图像的像素当量，获取与各个像素列对应的伺服轴运动参数。78.所述补偿模块240，用于依据所述伺服轴运动参数对相应的像素列进行方位补偿，得到目标涂胶图像。其中，所述目标涂胶图像中的涂胶区域为一条直线；79.所述分析模块250，用于依据视觉检测机构对所述目标涂胶图像进行分析，以获取涂胶检测结果。80.可选地，在本实施例中，所述伺服轴运动参数中包括xy坐标系中的坐标，所述xy坐标系的x轴的方向为所述涂胶延伸方向，所述xy坐标系的x轴的方向为与所述涂胶延伸方向垂直的涂胶起伏方向，所述xy坐标系的单位长度等于所述像素当量，所述坐标中包括x值及y值。所述补偿模块240具体用于：从与各个像素列对应的坐标中，确定出参考像素列对应的坐标，其中，所述参考像素列为所述各个像素列中的其中一个像素列；获得各其他像素列对应的坐标中的x值相较于所述参考像素列对应的坐标中的x值的偏移信息；根据各所述坐标对应的偏移信息，对各所述坐标对应的像素列进行方位补偿。81.可选地，在本实施例中，所述偏移信息包括偏移距离及偏移方向；所述补偿模块240具体用于：针对每一个其他像素列，将其他像素列对应的坐标中的x值减去与所述参考像素列对应的坐标中的x值，得到计算结果；在所述计算结果为0时，确定所述偏移信息为无偏移；在所述计算结果为正数时，将所述计算结果作为所述偏移距离，并确定所述偏移方向为向上；在所述计算结果为负数时，将所述计算结果的绝对值作为所述偏移距离，并确定所述偏移方向为向下。82.可选地，在本实施例中，所述参数获取模块230具体用于：获得所述原始涂胶图像的像素当量；将伺服轴开始涂胶时的起点位置作为基准点，并设置所述基准点在所述xy坐标系下的坐标，其中，所述基准点对应所述原始涂胶图像的涂胶区域中在所述涂胶延伸方向上的第一个像素列；在所述伺服轴涂胶过程中，每当所述伺服轴在所述涂胶延伸方向上移动一个所述像素当量时，获得在所述xy坐标系下的当前坐标，直到涂胶结束，其中，涂胶过程中获得的坐标对应的像素列为所述原始涂胶图像的涂胶区域中在所述涂胶延伸方向上依次排列的像素列。83.可选地，在本实施例中，所述参数获取模块230具体用于：获得图像拍摄设备的分辨率及所述图像拍摄设备的成像视野尺寸信息，其中，所述图像拍摄设备用于通过拍摄得到所述原始涂胶图像；根据所述分辨率及成像视野尺寸信息，计算得到所述像素当量。84.可选地，在本实施例中，所述方向获取模块210具体用于：从所述原始涂胶图像中检测出目标像素点，其中，所述目标像素点为有涂胶的像素点；根据目标像素点在所述原始涂胶图像中的分布情况，得到所述涂胶延伸方向。85.可选地，在本实施例中，所述分析模块250具体用于：基于blob检测算法对所述目标涂胶图像进行分析，得到所述涂胶检测结果。86.请参照图8，图8为本技术实施例提供的可实现上述涂胶缺陷检测方法的电子设备300的方框示意图。所述电子设备300可以包括存储器310、处理器320及通信单元330。所述存储器310、处理器320以及通信单元330各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。87.其中，存储器310用于存储程序或者数据。所述存储器可以是，但不限于，随机存取存储器(random access memory，ram)，只读存储器(read only memory，rom)，可编程只读存储器(programmable read-only memory，prom)，可擦除只读存储器(erasableprogrammable read-only memory，eprom)，电可擦除只读存储器(electric erasableprogrammable read-only memory，eeprom)等。88.处理器320用于读/写存储器中存储的数据或程序，并执行相应地功能。89.通信单元330用于通过所述网络建立所述电子设备300与其它通信终端之间的通信连接，并用于通过所述网络收发数据。90.应当理解的是，图8所示的结构仅为该电子设备300的结构示意图，所述电子设备还可包括比图8中所示更多或者更少的组件，或者具有与图8所示不同的配置。图8中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。91.本技术实施例还提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的涂胶缺陷检测方法。92.综上所述，本技术实施例提供了一种涂胶缺陷检测方法及装置，在获得原始涂胶图像的情况下，基于该原始涂胶图像中的涂胶延伸方向将该原始涂胶图像拆分为多个像素列，并且基于该原始涂胶图像的像素当量获取各个像素列对应的伺服轴运动参数；然后，依据伺服轴运动参数对相应的像素列进行方位补偿，得到目标涂胶图像，该目标涂胶图像中的涂胶区域为一条直线；最后，依据视觉检测机构对该目标涂胶图像进行分析，以获取涂胶检测结果。如此，可通过在将涂胶区域变换为直线之后再进行缺陷分析的方式，减少涂胶拐点处缺陷的误判，从而增加软包电池波浪形涂胶的缺陷检出率，减少检测的误判率，提高生产效率。93.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本技术的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。94.另外，在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。95.所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。96.以上所述仅为本技术的可选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。









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