一种弯折测试设备和弯折测试方法与流程

测量装置的制造及其应用技术1.本技术涉及测试技术领域，尤其涉及一种弯折测试设备和弯折测试方法。背景技术：2.折叠手机具有穿轴的fpc，即柔性印刷电路板，其动态弯折能力直接决定了手机的动态弯折能力，故需要检测fpc的弯折能力。3.目前的测试方法如下：将fpc安装到弯折测试仪器，弯折到一定次数(比如1万次、2万次、3万次等)时，将fpc从弯折测试仪器上拆下，使用万用表逐个网络进行测量。4.但是fpc一般具有多个线路，通常具有40-80pin，检测时需要用万用表逐个线路进行检测，测试效率低，测试周期长，而且这种测试方式也无法准确判断实际弯折失效所对应的弯折次数，测试结果还依赖于人工判断，可靠性不足。技术实现要素：5.本技术实施例提供了一种弯折测试设备和弯折测试方法，可以实时监控待测试件第一线路的电阻变化，测试结果准确可靠，且测试效率高、测试周期短。6.一方面，本技术实施例提供一种弯折测试设备，用于测试具有多条第一线路的待测试件，所述弯折测试设备包括转接结构，所述转接结构设有多条第二线路，多条所述第二线路能够和多条所述第一线路连接后形成一条串联线路。7.本技术实施例中，待测试件的多条第一线路由相互独立设置的状态，由转接结构连接后变为串联状态，则仅对该串联线路的两个连接端进行监测，即可实现阻抗组态的实时监测。任一条第一线路发生折断、磨损或者其他损伤等失效情况，都会导致电阻值发生较大变化，从而可及时获悉待测试件的第一线路处于失效状态，并相应地获得失效时弯折次数的数据。可见，本方案仅对一条串联线路进行监测，测试效率高，测试周期短；而且，可以实时对待测试件的第一线路状况进行监测，获得的失效数据及时、可靠。8.基于一方面，本技术实施例还提供了一方面的第一种实施方式：9.多条所述第一线路并排布置于所述待测试件，每条第一线路具有两个连接端；所述转接结构包括分设于所述待测试件两侧的第一转接部和第二转接部，所述第一转接部和所述第二转接部均设有所述第二线路；所述第一转接部的多条所述第二线路用于连接多条所述第一线路的一侧所述连接端，所述第二转接部的多条所述第二线路用于连接多条所述第一线路的另一侧所述连接端，以形成所述串联线路。10.转接结构包括分设于待测试件两侧的第一转接部和第二转接部，可以分别对多条第一线路两侧的连接端进行相应的连接，从而便于实现串联线路的形成。11.基于一方面的第一种实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第二种实施方式：12.还包括连接器，所述第一转接部和所述第二转接部的所述第二线路，分别通过对应的连接器与所述待测试件的所述第一线路连接。13.通过连接器连接第一线路和第二线路，可实现快速连接，从而进一步缩短测试时间，提高测试效率。14.基于一方面的第一种实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第三种实施方式：15.所述串联线路的两个连接端分别为第一测试端口和第二测试端口，所述第一测试端口和所述第二测试端口均位于所述第一转接部或均位于所述第二转接部。16.两个测试端口处于同一个转接部，便于和外部设备建立连接。17.基于一方面的第三种实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第四种实施方式：18.所述第一测试端口和所述第二测试端口处均设有焊盘，所述第一测试端口和所述第二测试端口通过对应的所述焊盘与外部设备连接。19.通过焊盘与外部设备连接，连接方便、可靠。20.基于一方面的第三种实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第五种实施方式：21.所述弯折测试设备包括弯折结构，所述弯折结构包括第一弯折部和第二弯折部，所述第一弯折部相对所述第二弯折部转动，以带动所述待测试件弯折；所述第一转接部位于所述第一弯折部，所述第二转接部位于所述第二弯折部，所述串联线路的所述第一测试端口以及所述第二测试端口均设于所述第二转接部。22.第一弯折部相对第二转接部转动，第二弯折部保持不动，则串联线路的两个测试端口位于第二弯折部时不受弯折实验的影响，有利于测试系统的稳定。23.基于一方面的第五种实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第六种实施方式：24.所述弯折测试设备还包括弯折控制模块，所述弯折控制模块用于控制所述第一弯折部和所述第二弯折部相对转动。25.设置弯折控制模块以控制弯折，便于弯折的自动进行，相应地也就便于存储弯折的次数。26.基于一方面，以及一方面的第一至第六种的任一实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第七种实施方式：27.还包括数据采集模块，所述串联线路与所述数据采集模块连接。28.设置数据采集模块，可以采集串联线路的电阻信息，从而便于判断串联线路是否发生失效。29.基于一方面的第七种实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第八种实施方式：30.还包括数据输出模块，所述数据采集模块以及所述弯折控制模块均与所述数据输出模块连接。31.数据输出模块可输出弯折次数和待测试件的第一线路电阻变化，有利于及时掌控第一线路失效时的弯折次数。32.基于一方面，以及一方面的第一至第六种的任一实施方式，本技术实施例还提供了一方面的第九种实施方式：33.所述待测试件为fpc；或所述待测试件为折叠式电子设备或者折叠式电子设备的一部分，所述折叠式电子设备具有fpc，所述fpc具有所述第一线路。34.待测试件可以直接为fpc，测试零件简单；待测试件为折叠式电子设备，则测试结果和实际整机一致，弯折过程与整机一致，弯折测试结果与整机对应性良好。35.第二方面，本技术实施例提供了一种弯折测试方法，基于一方面以及一方面的第一至第九种任一实施方式，监测所述串联线路的电阻并记录所述待测试件的弯折次数，根据所述电阻的变化，获得所述串联线路失效时对应的弯折次数。该弯折测试方法具有与上述弯折测试设备相同的技术效果，不赘述。附图说明36.图1为本发明实施例中弯折测试设备的结构示意图；37.图2为本发明实施例中转接结构和待测试件的连接原理示意图；38.图3为图2中部分第一线路通过第二线路连接的原理图；39.图4为本发明实施例中弯折测试设备带动待测试件进行滑动弯折的原理示意图。具体实施方式40.本发明实施例提供一种弯折测试设备，用于测试具有多条第一线路21的待测试件2，待测试件2在使用过程中需要弯折，第一线路21会随之弯折，具体在本方案中，待测试件2包括折叠手机的转轴结构和中框，转轴结构包括穿轴的fpc(flexible printed circuit，柔性印刷电路板)2a，第一线路21即fpc2a的线路，当然，待测试件2也可以是其他具有线路且需要进行弯折测试的部件，弯折测试设备可以带动待测试件2进行弯折。41.如图1所示，图1为本发明实施例中弯折测试设备的结构示意图。42.该实施例中的弯折测试设备包括转接结构，转接结构设有多条第二线路121，多条第二线路121和多条第一线路21连接后可形成一条串联线路。如前所述，待测试件2具有多条第一线路21，多条第一线路21相互独立，使用设有多条第二电路的转接结构进行连接后，可以将多条第一线路21串接起来，从而形成一条串联线路，即多条第一线路21通过转接结构串联在一起，从而形成菊花链线路。43.具体可结合图2理解，图2为本发明实施例中转接结构和待测试件2的连接原理示意图；图3为图2中部分第一线路21通过第二线路121连接的原理图。44.待测试件2的多条第一线路21相互独立，多条第一线路21具体是并排布置于待测试件2，如图2所示，多条第一线路21沿上、下方向并排分布。其中，每条第一线路21都会具有两个连接端，在图2中沿左右方向，可分别定义为第一连接端211和第二连接端212，相应地，转接结构包括分设于待测试件2左、右两侧的第一转接部12a和第二转接部12b，第一转接部12a和第二转接部12b可以是板状结构，第一转接部12a和第二转接部12b均设有上述的第二线路121。45.如图2所示，此时，第一转接部12a的多条第二线路121用于连接多条第一线路21的一侧连接端，即用于连接左侧的多个第一连接端211，第二转接部12b的多条第二线路121用于连接多条第一线路21的另一侧连接端，即用于连接右侧的多个第二连接端212。如图3所示，假设共有n条第一线路21，其中一条第一线路21定义为线路i，其中，i《n，且n大于等于2，由于多条第一线路21并排设置，则与线路i相邻的两个第一线路21分别为线路i-1和线路i+1，为了形成一条串联线路，线路i的第一连接端211通过第一转接部12a的一条第二线路121和线路i+1的第一连接端211连接，线路i的第二连接端212通过第二转接部12b的一条第二线路121和线路i-1的第二连接端212连接。即，多条第一线路21沿排布方向，依次进行相邻的两个第一连接端211相连、相邻的两个第二连接端212相连，从而将多条第一线路21串联到一起。可知，为达此目的，多条第二线路121和多条第一线路21数量并不对应，第二线路121的数量为n-1即可。46.如此设置，待测试件2的多条第一线路21由相互独立设置的状态，变为串联状态，则仅对该串联线路的两个连接端进行监测，即可实现阻抗组态的实时监测。应知，多个第一线路21中任一条发生折断、磨损或者其他损伤等失效情况，都会导致电阻值发生较大变化，此时即可及时获悉待测试件2的第一线路21处于失效状态，从而及时获得失效时弯折次数的数据。可见，本方案仅对一条串联线路进行监测，测试效率高，测试周期短；而且，可以实时对待测试件2的第一线路21状况进行监测，获得的失效数据及时、可靠。47.由此可知，本实施例主要目的在于通过转接结构将待测试件2的多个第一线路21连接为串联线路，以便于线路的阻抗监测，转接结构的具体结构形式不限于图2所示两个分设于待测试件2两侧的第一转接部12a和第二转接部12b，比如，多条第一线路21的两个连接端均位于同一侧，此时多条第一线路21例如是同心设置的弧形线路，则转接结构也可以是设于与所有连接端同侧的结构。48.一般而言，第一线路21需要进行弯折，是基于第一线路21的两个连接端需要分别连接到相对弯折的两个部件上，所以最好设置分别与第一线路21两个连接端对应的两个转接部。实际应用中，可根据待测试件2的多条第一线路21的排布方式进行设计，只要便于第二线路121和第一线路21进行对应的连接即可，转接结构的具体结构形式本方案不做具体限制。49.具体在本实施例中，第一转接部12a和第二转接部12b可分别通过连接器与待测试件2扣合，以连接第一线路21和第二线路121。以fpc2a为例，其本身设置有接口，以将多条第一线路21的两侧连接端和其应用设备中的其他电子元器件进行连接，则设置连接器可以更为便利地直接连接第一线路21，转接结构的第一转接部12a和第二转接部12b在设计完毕第二线路121位置后，可以配备相应的接口，从而通过连接器即可扣合插接，从而方便地实现第一线路21和对应第二线路121的连接，在进行弯折实验时，直接通过连接器实现串联连接，可进一步缩短连接时间，提高测试效率，连接器例如可以是btb连接器。50.另外，本实施例中串联线路的两个连接端可以均位于第一转接部12a或第二转接部12b。请继续参考图1、2，串联线路的两个连接端均位于左侧的第二转接部12b，两个连接端分别是图2中所示的第一测试端口1211、第二测试端口1212。将第一测试端口1211和第二测试端口1212都设置在一个转接部上，便于将两个测试端口和外部设备连接，以便进行电阻值监控。可以理解，第一测试端口1211和第二测试端口1212分别设置在第一转接部12a和第二转接部12b也可以。51.请继续结合图1理解，该弯折测试设备具体包括弯折结构，弯折结构包括第一弯折部11a和第二弯折部11b，待测试件2的一部分定位到第一弯折部11a，另一部分定位在第二弯折部11b，则弯折结构的第一弯折部11a和第二弯折部11b相对转动时，可带动待测试件2弯折。应当理解，弯折测试主要是测试待测试件2的第一线路21的弯折性能，第一弯折部11a和第二弯折部11b转动而带动待测试件2弯折时，需要第一线路21随之弯折。52.此时，可将上述转接结构的第一转接部12a固定于第一弯折部11a，第二转接部12b固定于第二弯折部11b，当待测试件2置于弯折结构时，第一转接部12a和第二转接部12b恰好位于待测试件2的多条第一线路21的两侧，从而便于进行第一线路21和第二线路121的连接。可知，第一转接部12a和第二转接部12b也可以是弯折结构的一部分，比如一体设于弯折结构，这里分体设置第一转接部12a和第二转接部12b，便于布置第二线路121，也便于检修、更换等操作，比如当待测试件2的类型发生变化时，可以更换对应的转接结构。53.继续参考图1，该弯折结构中的第二弯折部11b相对固定，即第二弯折部11b相对整个设备不动，而第一弯折部11a相对第二弯折部11b可做转动运动，此时可将第一转接部12a固定于第一弯折部11a，第二转接部12b固定于第二弯折部11b，则第二转接部12b也保持相对固定，则可将串联线路的第一测试端口1211和第二测试端口1212都置于第二转接部12b，两个测试端口引出的和外部设备连接的线路不受弯折实验的影响，也就不易发生疲劳断路，而第一转接部12a即便随第一弯折部11a转动，但第一转接部12a的第二线路121仅需与相对应的第一线路21连接，二者不存在相互运动，故第一转接部12a也不受转动的影响。本实施例中，可以在转接结构上设置焊盘，图2中在第二转接部12b上设置焊盘，便于第一测试端口1211和第二测试端口1212与外部设备的连接，同样，由于第二转接部12b保持固定，焊盘也不容易失效。54.需要说明的是，这里将第二弯折部11b和第二转接部12b设置为保持固定，以使第一测试端口1211和第二测试端口1212能够处于相对稳定的状态，从而不易疲劳失效。但显然，本实施例不限于如此设置，比如第一测试端口1211和第二测试端口1212都设于第一转接部12a，或者第一弯折部11a和第二弯折部11b同时进行转动操作，也都可以。55.如图1所示，本实施例中，弯折测试设备还包括弯折控制模块，弯折控制模块用于控制弯折结构的第一弯折部11a和第二弯折部11b的相对转动。弯折控制模块可以包括图1中所示的第一控制面板13，测试人员可以通过第一控制面板13输入测试指令控制弯折结构，例如输入启动指令、输入弯折的频率等。另外，弯折测试设备还可以包括数据采集模块14，转接结构和待测试件2连接后形成的串联线路可与数据采集模块14连接，具体地，即上述的串联线路的第一测试端口1211和第二测试端口1212可以通过连接线15与数据采集模块14连接，从而对串联线路的电阻情况进行实时监测，连接线15具体可以是焊接到上述的焊盘建立连接。56.另外，弯折测试设备还可以包括数据输出模块16，数据采集模块14可以和数据输出模块16连接，弯折控制模块也可以和数据输出模块16连接，这样数据采集模块14获得串联线路的电阻变化，数据输出模块16可以予以输出，同时弯折结构的弯折次数也可以输出至数据输出模块16，则数据输出模块16可获知串联线路的电阻变化，并可根据电阻变化判断出待测试件2的第一线路21失效的时间，继而获得失效时所对应的弯折次数。数据输出模块16可以包括显示面板，便于测试人员及时获知相关的测试数据。本实施例中，数据输出模块16还可以配设第二控制面板，除了上述的第一控制面板13，测试人员还可以通过第二控制面板控制弯折结构，以提供更多的控制结构，方便操作和互为冗余。如图1所示，数据输出模块16和第二控制面板可以是显示器，同时配设有主机17。57.另外需要说明的是，本实施例中的弯折结构带动待测试件2一部分往复地靠近或远离另一部分进行弯折，此种弯折方式中第一线路21的折弯位置固定，这种弯折方式可以是以一定的折弯半径进行弯折，即弯折位置为具有一定弧度的曲面，也可以是直接对折，即弯折位置为一条直线。58.但弯折测试的形式不限于此。可参照图4理解，图4为本发明实施例中弯折测试设备带动待测试件2’进行滑动弯折的原理示意图。该实施例中弯折结构的第一弯折部12a’和第二弯折部12b’可以带动待测试件2’滑动弯折，即待测试件2’弯折到一定角度，然后将相对的两部分进行往复滑动，此种弯折方式中第一线路的折弯位置动态变化。因此，本方案实施例中对弯折测试设备带动待测试件2’进行弯折的具体形式不做限制，与待测试件的具体使用方式相适应。59.值得注意的是，本方案中待测试件2包括折叠手机的转轴结构和中框，转轴结构和中框可以是折叠手机的实际产品，fpc设置在转轴结构处，为穿轴fpc，在具体进行测试时，将转轴结构两侧的中框分别固定到第一弯折部11a和第二弯折部11b，即本实施例中利用实际产品的转轴结构和中框作为待测试件2，测试结果和实际整机一致，弯折过程与整机一致，弯折测试结果与整机对应性良好。测试时，转接结构位于弯折结构，转接结构的第二线路需要连接到转轴结构处的fpc，故中框置放到弯折结构上时，可以部分覆盖或全部覆盖到转接结构，中框在fpc上第一线路的连接端位置可以做挖空设计，以便与转接结构的第二线路进行连接，比如利用前述的连接器进行扣合连接。60.待测试件2也可以是折叠手机的模型，只要处于折弯位置的结构与实际产品相同即可，中框其他位置和实际产品是否相同不做限制。本实施例中待测试件2包括折叠手机的一部分，即包括转轴结构和中框，显然，待测试件2也可以是完整的折叠手机，本方案不做具体限制，只要能够达到模拟实际场景即可。61.待测试件2也可以是其他具有fpc的折叠式电子设备，折叠式电子设备例如可以是可穿戴设备、车载设备、增强现实(augmented reality，ar)/虚拟现实(virtual reality，vr)设备、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，umpc)、上网本、个人数字助理(personal digital assistant，pda)等移动终端，或者，也可以是数码相机、单反相机/微单相机、运动摄像机、云台相机、无人机等专业的拍摄设备，只要使用过程中存在需要弯折的第一线路21，都可以采用本实施例中的弯折测试设备进行弯折测试，本技术实施例对折叠式电子设备的具体类型不作限制。62.另外可知，待测试件2也可以直接是fpc，此时，可将fpc的一部分定位到第一转接部12a，另一部分定位到第二转接部12b。63.本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。









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