一种基于SRAMPUF的硬件指纹提取方法及系统与流程

计算;推算;计数设备的制造及其应用技术一种基于sram puf的硬件指纹提取方法及系统技术领域1.本发明涉及信息安全技术领域，尤其涉及一种基于sram puf的硬件指纹提取方法及系统。背景技术：2.随着物联网、大数据和人工智能等技术的迅速发展，信息安全已经成为当今不容忽视的热点问题。基于集成电路工艺的物理不可克隆函数(physically unclonable function,puf)自提出便被认为是保障信息安全的新型基础技术。基于集成电路工艺的puf，又称硅puf，利用芯片制造过程中不可控的物理特性产生不可克隆的芯片指纹，在密钥生成、授权、认证等领域有着广泛的应用前景。在puf的开发和应用过程中，稳定性、均匀性和唯一性是puf设计的重要指标。稳定性是指同一puf在不同时间和环境条件下受相同激励输出响应序列的相似度，常用片内汉明距离来衡量；均匀性是指任一puf在各种时间和环境条件下受激励输出响应序列中1所占的比例，常用分数汉明重量来衡量；唯一性是指不同puf在各种时间和环境条件下受相同激励输出响应序列的区别度，常用片间汉明距离来衡量。3.硅puf的实现方法可以分为基于固有延迟特性的puf,包括基于仲裁器puf,基于环形振荡器puf和毛刺puf等；基于存储器的puf，包括触发器puf,sram puf和锁存器puf等。目前，sram(static random access memory，静态随机存储)puf是研究较多的一种puf技术实现方式。典型的sram puf熵源为基于sram逻辑存储单元实现，sram逻辑存储单元可以看作是由两个交叉耦合的反相器构成，由于制造过程中的不可控因素，比如掺杂浓度的均匀性、晶体管沟道长宽比等细微差异，使得sram存储器阵列在上电过程中会随机产生具有先天唯一性的0或者1响应，即具有puf特性。但是，在温度、老化等各种环境条件下，sram puf输出的响应序列为有噪声的硬件指纹，质量不高并且不稳定，不适用于硬件安全场景。技术实现要素：4.鉴于上述的分析，本发明旨在提供一种基于sram puf的硬件指纹提取方法及系统，用以解决现有sram puf输出的响应序列质量不高并且不稳定，不适用于硬件安全场景的问题。5.一方面，本发明提供了一种基于sram puf的硬件指纹提取方法，其特征在于，包括以下步骤：6.注册阶段：7.sram puf上电，读取上电瞬间sram阵列中比特单元的地址和对应的上电值，其中，所述上电值为0或1；8.根据所述sram阵列中比特单元的上电值对所述sram阵列中的比特单元进行分组并存储分组；9.根据分组中各比特单元的上电值对各分组进行大数判决，将判决结果序列作为硬件指纹；10.重建阶段：11.sram puf再次上电，根据读取的上电瞬间sram阵列中与注册阶段相同地址比特单元的上电值，得到注册阶段存储分组的各比特单元的上电值；12.对各分组进行大数判决，得到判决结果序列；13.对判决结果序列进行纠错，将纠错后的序列作为重建阶段重建出的硬件指纹。14.进一步地，所述对sram阵列中的比特单元进行分组的步骤如下：15.选取sram阵列中满足分数汉明重量要求的m个上电值所对应的m个比特单元作为基准组，其余n-m个比特单元作为票仓组；其中，m为要提取的所述硬件指纹的比特数，n为sram阵列的比特单元总数；16.根据基准组中每一比特单元，将票仓组中至多k-1个与基准组对应比特单元具有相同上电值且未被分组的比特单元，与基准组对应比特单元分为一组，得到m个分组；将票仓组中剩余具有不同上电值且未被分组的比特单元分入组内比特单元个数不足k的分组中，或者，将票仓组中剩余未被分组的比特单元不分入分组，完成分组；其中，k为各分组中比特单元个数的最大值。17.进一步地，各分组中的比特单元个数的最大值k为奇数。18.可选地，利用优先遍历基准组的并行分组法进行分组，步骤为：对于基准组的m个比特单元所在的分组，依次找到各分组的第j个组内比特单元：19.对于各分组的第j个组内比特单元,遍历基准组的比特单元：对于基准组的第i个比特单元，若在票仓组找到一个具有相同上电值且未被分组的比特单元，则将该比特单元分入基准组第i个比特单元所在的分组，作为该分组的第j个组内比特单元；否则，将票仓组中第一个未被分组的比特单元作为基准组第i个比特单元所在分组的第j个比特单元；20.其中，j∈[2,k]，i∈[1,m]。[0021]可选地，利用优先遍历基准组的串行分组法进行分组，步骤为：[0022]依次遍历基准组的比特单元：[0023]对于基准组中的第i个比特单元，若在票仓组中依次找到k-1个与其具有相同上电值且未被分组的比特单元，则将该k-1个比特单元分入基准组的第i个比特单元所在分组；否则，结束基准组的遍历，将基准组中第i个至第m个比特单元分别作为唯一组内比特单元完成分组，得到m个分组；其中，i∈[1,m]。[0024]可选地，还利用优先遍历票仓组的方法进行分组，步骤为：[0025]依次遍历票仓组中的比特单元：[0026]对于票仓组第g个未被分组且上电值为bg的比特单元，若在基准组中找到分组内比特单元个数不足k且上电值为bg的比特单元，则将票仓组第g个比特单元分入基准组的比特单元所在分组中；否则，结束票仓组的遍历，将票仓组第g个至第n-m个未被分组比特单元依次分入基准组中组内比特单元个数不足k的分组中，得到m个分组；其中，g∈[1,n-m],bg的值为0或1。[0027]进一步地，在注册阶段或重建阶段，对各分组进行大数判决的步骤为：[0028]对每一分组进行判决，若该分组的比特单元数量为k个，当至少有(k+1)/2个比特单元的上电值为1时，则判决结果为1；否则为0；若该分组的比特单元数量为1个，则将该比特单元的上电值作为判决结果；[0029]将各分组分别进行大数判决，得到m个比特单元的判决结果序列。[0030]另一方面，本发明提供了一种基于sram puf的硬件指纹提取系统，包括sram阵列、分组器和大数判决器；[0031]所述sram阵列，包括多个比特单元，用于在注册阶段以及重建阶段通过上电得到各比特单元的上电值；[0032]所述分组器，用于在注册阶段通过sram puf上电，读取上电瞬间sram阵列中比特单元的地址和对应的上电值；并根据所述sram阵列中比特单元的上电值，对sram阵列的比特单元进行分组；[0033]所述大数判决器，用于在注册阶段根据分组中各比特单元的上电值对各分组进行大数判决，将判决结果序列作为硬件指纹；用于在重建阶段，通过sram puf再次上电，根据读取的上电瞬间sram阵列中与注册阶段相同地址比特单元的上电值，得到注册阶段存储分组的各比特单元的上电值，并对各分组进行大数判决，得到判决结果序列，然后对判决结果序列进行纠错，将纠错后的序列作为重建阶段重建出的硬件指纹。[0034]进一步地，所述对sram阵列中的比特单元进行分组的步骤如下：[0035]选取sram阵列中满足分数汉明重量要求的m个上电值所对应的m个比特单元作为基准组，其余n-m个比特单元作为票仓组；其中，m为要提取的所述硬件指纹的比特数，n为sram阵列的比特单元总数；[0036]根据基准组中每一比特单元，将票仓组中至多k-1个与基准组对应比特单元具有相同上电值且未被分组的比特单元，与基准组对应比特单元分为一组，得到m个分组；将票仓组中剩余具有不同上电值且未被分组的比特单元分入组内比特单元个数不足k的分组中，或者，将票仓组中剩余未被分组的比特单元不分入分组，完成分组；其中，k为各分组中比特单元个数的最大值。[0037]进一步地，各分组中的比特单元个数的最大值k为奇数。[0038]与现有技术相比，本发明的有益效果如下：[0039]本技术中在注册阶段根据sram阵列的上电值将sram阵列的比特单元进行分组，对各分组进行大数判决得到硬件指纹；并在重建阶段根据再次读取的sram阵列的上电值，对每一分组进行大数判决，将判决结果纠错后得到重建阶段重建出的硬件指纹，使得在sram阵列中部分比特单元的上电值由于存在环境噪声等而发生变化后，仍能输出准确的硬件指纹。通过该方法在每次重建sram puf时，保证了输出的硬件指纹更加稳定，实现了将sram puf输出的有噪声的硬件指纹转换为稳定的硬件指纹，较大幅度提高了提取硬件指纹的质量和稳定性，更加适用于硬件安全场景，使得绝大多数集成电路工艺中都可准确产生稳定的puf芯片指纹。[0040]本发明中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。附图说明[0041]附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。[0042]图1为本发明实施例1提供的基于sram puf的硬件指纹提取方法中注册阶段流程示意图；[0043]图2为本发明实施例1提供的基于sram puf的硬件指纹提取方法中重建阶段流程示意图；[0044]图3为本发明实施例2提供的基于sram puf的硬件指纹提取系统中结构示意图；[0045]图4为本发明实施例3提供的基于sram puf的硬件指纹提取方法实现过程中优先遍历基准组的并行分组方法示意图。具体实施方式[0046]下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本技术一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。[0047]实施例1[0048]本发明的一个具体实施例，公开了一种基于sram puf的硬件指纹提取方法，如图1和图2所示，包括以下步骤：[0049]注册阶段：[0050]sram puf上电，读取上电瞬间sram阵列中比特单元的地址和对应的上电值；其中，所述上电值为0或1。[0051]根据所述sram阵列中比特单元的上电值对所述sram阵列中的比特单元进行分组并存储分组；应当注意的是，在将分组进行存储时，将分组存储在非易失存储器中，以供在重建阶段使用。[0052]根据分组中各比特单元的上电值对各分组进行大数判决，将判决结果序列作为硬件指纹。[0053]重建阶段：[0054]sram puf再次上电，根据读取的上电瞬间sram阵列中与注册阶段相同地址比特单元的上电值，得到注册阶段存储分组的各比特单元的上电值。[0055]对各分组进行大数判决，得到判决结果序列。[0056]对判决结果序列进行纠错，将纠错后的序列作为重建阶段重建出的硬件指纹。[0057]具体实施时，对判决序列的纠错过程可根据现有的纠错方法进行，比如重复码、二进制格雷码、循环码、级联码，根据纠错方法的不同，可在注册阶段生成相应纠错码对应的帮助数据，在重建阶段进行纠错过程，本实施例不作具体限制，实现纠错功能即可。此外，本实施例中使用分组并对分组进行大数判决的方式，已对错误数据进行了一次处理，由此可选择复杂度较低的纠错方法进一步降低误码率。[0058]与现有技术相比，本技术中在注册阶段根据sram阵列的上电值将sram阵列的比特单元进行分组并保存分组，对各分组进行大数判决得到硬件指纹，在重建阶段根据再次读取的sram阵列的上电值，对各分组进行大数判决，对判决结果进行复杂度较低的纠错后处理，就能重建出sram puf的硬件指纹，较大幅度提高提取硬件指纹的质量和稳定性，更加适用于硬件安全场景。[0059]具体的，sram阵列也就是静态随机存储阵列，根据其设计原理，其中的各比特单元均有固定的存储地址，比特单元的地址可直接读取得到；上电值指sram puf上电后测量各比特单元得到的值，根据sram puf的设计原理，上电就能测量到各比特单元的上电值是0或1；因此，在sram puf上电时，可读取得到各比特单元的地址，并读取到各比特单元的上电值。[0060]应当注意的是，在注册阶段可以一次读取，也可以多次读取sram阵列中比特单元的上电值，多次读取更有益于得到稳定的sram阵列比特单元的上电值，从而更有益于准确分组，进而更有益于降低误码率，本实施例对此不作限制。在注册阶段得到的分组是对sram阵列中的比特单元的分组，是固定存储的，每次重建的上电值会与注册阶段略有不同，因此，在重建阶段是根据固定地址的sram单元分组和重建时读取的新上电值进行大数判决。此外在重建阶段可以根据sram puf的使用情况进行多次重建，硬件指纹不作存储仅在需要的时候生成。[0061]实施时，所述对sram阵列中的比特单元进行分组的步骤如下：[0062]选取sram阵列中满足分数汉明重量要求的m个上电值所在的m个比特单元作为基准组，即作为后续分组的参照基准。其余n-m个比特单元作为票仓组；其中，m为要提取的所述硬件指纹的比特数，n为sram阵列的比特单元总数，也就是说，根据需要提取的硬件指纹的比特数m,将sram阵列的n个比特单元分为m组。具体实施时，在选取基准组时，可优先选取sram阵列中的前m个比特单元，在前m个比特单元的上电值不满足puf应用指标中分数汉明重量要求时，再从sram阵列的n个比特单元中选择其他满足要求的m个比特单元。应当注意的是分数汉明重量为汉明重量除以比特长度，即m个比特单元的上电值之和与m之间的比值。满足分数汉明重量要求的m个上电值，也就是指m个比特单元的上电值之和与m之间的比值满足puf应用指标的中分数汉明重量的具体阈值要求，比如阈值要求为[0.45，0.55]，可根据实际中puf应用指标的具体要求确定。[0063]根据基准组中每一比特单元，将票仓组中至多k-1个与基准组对应比特单元具有相同上电值且未被分组的比特单元，与基准组对应比特单元分为一组，得到m个分组；将票仓组中剩余具有不同上电值且未被分组的比特单元分入组内比特单元个数不足k的分组中，或者，将票仓组中剩余未被分组的比特单元不分入分组，完成分组；其中，k为各分组中比特单元个数的最大值。应当注意的是，该步骤中通过将sram阵列分成m个不相交的分组，即各分组中的比特单元都不相同，尽量将具有相同上电值的比特单元分为一组，使得在重建阶段部分比特单元的上电值发生变化后，仍能够通过大数判决保证输出的序列以接近于1的概率为准确的，即增强了重建的硬件指纹的稳定性，保证了用较低复杂度的纠错后处理就能提取出硬件指纹。[0064]具体的，各分组中的比特单元个数的最大值k为奇数。应当注意的是，k为小于等于n/m向下取整的奇数，更便于在实际应用中重建阶段大数判决的实现。[0065]可选的一种实施方式，利用优先遍历基准组的并行分组法进行分组，步骤为：[0066]对于基准组的m个比特单元所在的分组，依次找到各分组的第j个组内比特单元：[0067]对于各分组的第j个组内比特单元,遍历基准组的比特单元：对于基准组的第i个比特单元，若在票仓组找到一个具有相同上电值且未被分组的比特单元，则将该比特单元分入基准组第i个比特单元所在的分组，作为该分组的第j个组内比特单元；否则，将票仓组中第一个未被分组的比特单元作为基准组第i个比特单元所在分组的第j个比特单元，也就是说，此时，在票仓组未被分组的比特单元均只具有上电值0或1，则不再比较上电值，而是直接将票仓组未被分组的比特单元依次分入组内比特单元不足k的分组中。其中，j∈[2,k]，i∈[1,m]。[0068]应当注意的是，在票仓组中寻找与基准组的比特单元具有相同上电值且未被分组的比特单元时，是在票仓组中由前至后依次寻找的；基准组的各比特单元为各分组的第一个组内比特单元，因此在票仓组中寻找的组内比特单元是从各分组的第2个比特单元开始寻找的。[0069]可选的一种实施方式，利用优先遍历基准组的串行分组法进行分组，步骤为：[0070]依次遍历基准组的比特单元：[0071]对于基准组中的第i个比特单元，若在票仓组中依次找到k-1个与其具有相同上电值且未被分组的比特单元，则将该k-1个比特单元分入基准组的第i个比特单元所在分组；否则，结束基准组的遍历，将基准组中第i个至第m个比特单元分别作为唯一组内比特单元完成分组，得到m个分组，也就是说，在票仓组中剩余的与基准组的比特单元具有相同上电值且未被分组的比特单元不足k-1个，则票仓组中剩余的未分组的比特单元不在分入分组，全部丢弃，仅以基准组中的第i个至第m个比特单元分别作为唯一组内比特单元完成分组；其中，i∈[1,m]。[0072]可选的一种实施方式中，还可以利用优先遍历票仓组的方法进行分组，步骤为：[0073]依次遍历票仓组中的比特单元：[0074]对于票仓组第g个未被分组且上电值为bg的比特单元，若在基准组中找到分组内比特单元个数不足k且上电值为bg的比特单元，则将票仓组第g个比特单元分入基准组的比特单元所在分组中；否则，结束票仓组的遍历，将票仓组第g个至第n-m个未被分组比特单元依次分入基准组中组内比特单元个数不足k的分组中，得到m个分组，也就是说，组内比特单元不足k的分组所对应的基准组比特单元的上电值均为1-bg，此时直接将票仓组中未被分组的比特单元依次放入组内比特单元不足k的分组中，其中，g∈[1,n-m],bg的值为0或1。[0075]应当注意的是，若基准组的比特单元为sram阵列的前m个单元，则票仓组的比特单元是后n-m个，相对于sram阵列的n个比特单元，票仓组的第一个比特单元为sram阵列的第m+1个比特单元，票仓组的最后一个比特单元为sram阵列的第n个比特单元。[0076]实施时，在注册阶段或重建阶段，对各分组进行大数判决的步骤为：[0077]对每一分组进行判决，若该分组的比特单元数量为k个，当至少有(k+1)/2个比特单元的上电值为1时，则判决结果为1；否则为0；若该分组的比特单元数量为1个，则将该比特单元的上电值作为判决结果。[0078]将各分组分别进行判决，得到m个比特单元的判决结果序列。具体的，在注册阶段得到的判决结果序列即为所要提取的硬件指纹，重建阶段得到的判决结果序列需要进一步纠错后处理，才能提取出与注册阶段相同的硬件指纹。[0079]应当注意的是，本实施中通过对各分组进行大数判决得到判决结果序列，可以在部分比特单元上电值发生变化时，增强得到序列的稳定性。[0080]实施例2[0081]本发明的另一个具体实施例，公开了一种基于sram puf的硬件指纹提取系统，如图3所示，包括sram阵列、分组器和大数判决器。[0082]sram阵列，包括多个比特单元，用于在注册阶段以及重建阶段通过上电得到各比特单元的上电值。[0083]分组器，用于在注册阶段通过sram puf上电，读取上电瞬间sram阵列中比特单元的地址和对应的上电值；并根据所述sram阵列中比特单元的上电值，对sram阵列的比特单元进行分组。[0084]大数判决器，用于在注册阶段根据分组中各比特单元的上电值对各分组进行大数判决，将判决结果序列作为硬件指纹；用于在重建阶段，通过sram puf再次上电，根据读取的上电瞬间sram阵列中与注册阶段相同地址比特单元的上电值，得到注册阶段存储分组的各比特单元的上电值，并对各分组进行大数判决，得到判决结果序列，然后对判决结果序列进行纠错，将纠错后的序列作为重建阶段重建出的硬件指纹。[0085]实施时，所述对sram阵列中的比特单元进行分组的步骤如下：[0086]选取sram阵列中满足分数汉明重量要求的m个上电值所对应的m个比特单元作为基准组，其余n-m个比特单元作为票仓组；其中，m为要提取的所述硬件指纹的比特数，n为sram阵列的比特单元总数。[0087]根据基准组中每一比特单元，将票仓组中至多k-1个与基准组对应比特单元具有相同上电值且未被分组的比特单元，与基准组对应比特单元分为一组，得到m个分组；将票仓组中剩余具有不同上电值且未被分组的比特单元分入组内比特单元个数不足k的分组中，或者，将票仓组中剩余未被分组的比特单元不分入分组，完成分组；其中，k为各分组中比特单元个数的最大值。[0088]实施时，各分组中的比特单元个数的最大值k为奇数。[0089]需要说明的是，本实施例与实施例1相关之处可相互借鉴，此处为重复描述。如本实施2分组器具体的分组方式，可选择实施例1中任一可选的实施方式；本实施例2大数判决器的判决方式，选择实施例1的具体判决方式。[0090]实施例3[0091]本发明的具体实施例3，以从1120bit sram存储器阵列中筛选出160bit的稳定puf响应序列作为硬件指纹为例，对实施例1和实施例2中的方法和系统的具体实现过程进行说明：[0092]如图3所示，本实施例的装置包括sram阵列、分组器(图3中的标记1)和大数判决器(图3中的标记2)。如图4所示，本实施例中采用优先遍历基准组的并行分组法，并行分组法更便于硬件的实现。优选地，本实施例中使用sram阵列中前1至m个比特单元作为基准组的比特单元，这样对每个分组都可少存储一个比特单元，相对于直接存储m个分组，存储比特单元数从nlogn降为(n-m)logm。[0093]实施时，分组器用于对1120bit的sram存储器阵列中的比特单元分组。对于满足puf应用特性的1至160bit的每一比特单元，尽量用其余161至1120比特单元中的6个具有相同上电值且未被分组的比特单元构成为一组，将1120个比特单元分为160组，每组含有7个比特单元。[0094]具体的，分别用i1,i2,j作为160个基准组比特单元、960个票仓组比特单元和每一基准组比特单元组内比特单元的索引，即i1∈[1,160],i2∈[161,1120],j∈[2,7]。如图4所示，采用并行分组方法，具体步骤为：对于1至160bit的比特单元的第j＝2个分组值，当i1＝1时，若第i2＝161个比特单元的上电值与第i1个比特单元的上电值相同，则将第i2个单元标记为i1,否则令i2＝i2+1,直到找到与第i1个比特单元具有相同上电值且未被标记的i2,则令i1＝i1+1,当为i1＝160找到具有相同上电值且未被标记的比特单元时，令j＝j+1,重复以上步骤，直到j＝8,即已为基准组所有160bit的比特单元完成分组。特别地，对于第i1个比特单元的第j个分组值，若i2遍历完[161,1120],都找不到未被标记的、与第i1个比特单元具有相同上电值的比特单元，则从基准组的第i1个比特单元开始不在寻找票仓组中具有相同上电值的比特单元，直接将[161,1120]中第一个未被标记的比特单元标记为i1。[0095]大数判决器用于在注册阶段或重建阶段，根据读取的上电值，对160个分组分别进行大数判决，得到160bit的判决结果序列，即对于第i∈[1,160]组，有7个标记为i的单元(包括前160个比特单元即基准组中的第i个单元)，若这7个单元中有大于等于4个单元的上电值为1，则第i比特判决为1，否则判决为0。对160组进行判决后，得到160个比特单元的判决结果序列，在注册阶段，即得到160比特稳定的硬件指纹，在重建阶段，利用复杂度较低的纠错后处理即可重建硬件指纹。[0096]相比于现有技术，本实施例提供的硬件指纹提取方法通过尽量将sram阵列中具有相同上电值的比特单元分为一组，得到m个分组，在重建阶段时，通过根据重新读取的上电值对每一分组进行大数判决，重建硬件指纹，可以避免在重建阶段也就是使用硬件指纹时因sram puf在温度、老化等各种环境条件下sram阵列中的部分比特单元的上电值不稳定而导致的输出的硬件指纹含有不可消除的噪声的问题，极大程度地提高了硬件指纹提取的效率。[0097]本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，所述计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。[0098]以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。









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