一种花键轴叉耳孔位置度检具及检测方法与流程

测量装置的制造及其应用技术1.本发明涉及机械零件加工技术领域，具体为一种花键轴叉耳孔位置度检具及检测方法。背景技术：2.目前在花键轴叉的生产加工中，花键轴叉耳孔对花键轴叉轴线的位置度要求很高，一般控制在0.08mm之内。若加工精度满足≥0.08mm，很有可能就会导致花键轴叉耳孔部分强度不够，在极端情况下会导致断裂从而产生安全事故，因此位置度的精度要求对于保证花键轴叉的强度和使用寿命具有较大的影响。3.但是也正是因为如此，其加工精度高，肉眼无法判断，在实际生产中根本无法进行有效的检测和调整，因此如何检测花键轴叉位置度的精度成为了目前继续解决的问题。技术实现要素：4.针对现有技术中存在的问题，本发明提出了一种新的技术方案，即提出了一种专用于测量花键轴叉耳孔位置度的检具，通过使用该检具来完成对花键轴叉耳孔位置度的检测。5.本发明提出的具体方案如下：6.一种花键轴叉耳孔位置度检具，包括基板，7.所述基板上设置有转台，所述转台可绕自身轴线旋转；8.第一尖轴，固定在所述转台上；所述第一尖轴向上凸出且被配置为上顶花键轴叉的下中心孔；所述第一尖轴的轴身上开设有贯通孔，所述贯通孔的直径大小与所述花键轴叉的耳孔直径相同；9.芯轴，其外径尺寸与所述贯通孔直径相同；所述芯轴被配置为同时穿过花键轴叉的耳孔和贯通孔；10.第二尖轴，位于所述第一尖轴的正上方；所述第二尖轴向下凸出且被配置为下顶花键轴叉的上中心孔；和11.百分表，可移动的设置在所述基板上，所述百分表的指针与所述芯轴中部接触，从而使得所述百分表呈现数值。12.进一步的，还包括压块，所述压块相对于所述基板可摆动设置；所述压块被配置为按压穿设所述贯通孔的芯轴。13.进一步的，所述压块有两个，两个所述压块沿所述芯轴的轴线方向间隔设置；两个所述压块分别通过圆柱销铰接在底座上，所述底座与所述基板固定相接。14.进一步的，所述百分表固定在滑块上；15.所述基板上还固定有第一挡块和第二挡块，所述第一挡块与所述第二挡块垂直相接形成挡位空间，所述滑块位于所述挡位空间中。16.进一步的，还包括支撑架，所述支撑架的顶部还安装有伸缩件，所述第二尖轴固定在所述伸缩件的输出端使得所述第二尖轴可在竖直方向上上下移动。17.进一步的，所述伸缩件为气缸。18.通过采用本方案提供的检具，能够有效的对花键轴叉耳孔位置度进行检测，为以后花键轴叉的批量生产或者质检提供可靠的数据支撑。19.针对以上检具，我们同时还提出了一种花键轴叉耳孔位置度的检测方法，具体包括以下步骤：20.s1.将花键轴叉放入检具内，其下中心孔放入第一尖轴的顶尖内，其上中心孔与第二尖轴的顶尖对齐，在气缸的作用下伸出与上中心孔固定；21.s2.将芯轴依次通过花键轴叉的两个耳孔和贯通孔中；22.s3.再转动压块，使得两个压块分别与芯轴的前后两段搭接上；23.s4.将滑块沿着第二挡块向芯轴方向慢慢移动直到碰到第一挡块，此时调整百分表指针与芯轴中部接触，记下此时百分表数值；24.s5.将滑块向着远离芯轴的方向移动，然后重复步骤s4，多次测量，取得平均值a1；25.s6.再次将滑块向远离芯轴的方向移动，然后将压块抬起，通过转动转台使得花键轴叉转动180°；重复步骤s2～s5，多次测量后得到的平均值为a2；26.s7.计算a1与a2之间的差值，该差值即为花键轴叉耳孔对花键轴叉轴线的位置度。27.通过采用以上方案进行对花键轴叉耳孔位置度的测量，可以检测花键轴叉耳孔对花键轴叉轴线的位置度，从而有效地控制花键轴叉的质量。附图说明28.图1为本方案的主视结构图。29.图2为本方案的侧视结构图。30.图3为本方案的俯视结构图。31.其中：10基板、20转台、31第一尖轴、32第二尖轴、33伸缩件、40芯轴、50压块、100百分表、101滑块、110第一挡块、120第二挡块。具体实施方式32.以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。33.本实施例提供了一种花键轴叉耳孔位置度检具，通过采用该检具能够有效的完成对花键轴叉耳孔轴线与轴叉轴线之间的位置度测量，及时的检测产出的花键轴叉的质量，同时也为后续花键轴叉的批量生产提供可靠的数据支持。34.具体的，参见图1-图3，本实施例中提供的检具包括基板10，该基板10用于为后续的部件安装提供可靠的支撑；同时在基板10上还设置有转台20，该转台20可绕自身轴线旋转；也即可以理解为，这里的转台20可以相对于基板10进行转动；转台20的存在主要便于第一尖轴31的转动；具体的，在转台20上固定设置有第一尖轴31，这里的第一尖轴31向上凸出且被配置为上顶花键轴叉的下中心孔；可以理解为，在目前提供的花键轴叉具有上中心孔和下中心孔，而这里的第一尖轴31就的顶尖就定在这里的下中心孔上；同时在第一尖轴31的轴身上开设有贯通孔，这里的贯通孔的直径大小与花键轴叉的耳孔直径相同；将贯通孔的设置为与花键轴叉耳孔的直径相同，其主要目的在于方便芯轴40的穿插，避免贯通孔与花键轴叉耳孔的尺寸出现偏差。35.芯轴40作为保证花键轴叉耳孔与第一尖轴31连接的重要连接件，这里的芯轴40的外径尺寸同样需要保持与贯通孔直径相同；在芯轴40同时穿过花键轴叉的耳孔和贯通孔时，尽量降低彼此之间因为尺寸误差带来的影响。36.为了完全对花键轴叉进行固定，我们这里还提出了第二尖轴32，第二尖轴32位于第一尖轴31的正上方；这里的第二尖轴32向下凸出且被配置为下顶花键轴叉的上中心孔；也即第二尖轴32将抵接在花键轴叉的上中心孔处。37.此时不难得出，花键轴叉将会被初步固定，第一尖轴31和第二尖轴32分别抵接在花键轴叉的下中心孔和上中心孔处；同时花键轴叉的耳孔还被芯轴40贯穿固定。38.当然，此时的花键轴叉还没有被完全限定，因为转台20还处于可转动的状态，为了进一步的限定花键轴叉，本方案中还提出了压块50，压块50相对于基板10可摆动设置；压块50被配置为按压穿设贯通孔的芯轴40；也即理解为通过这里的压块50，可以实现对芯轴40进行搭接按压，通过限制芯轴40的方式，限制了转台20的转动，同时也就限制了花键轴叉的转动。39.置于此，花键轴叉通过这里的检具被完全固定，然后再利用百分表100进行测量；本方案中的百分表100可移动设置在基板10上，百分表100的指针与芯轴40中部接触，从而使得百分表呈现数值。也即对花键轴叉进行固定后，在通过这里百分表100进行相关数值的检测。40.可选的，上文提及的压块50有两个，两个压块50沿芯轴40的轴线方向间隔设置；两个压块50分别通过圆柱销铰接在底座上，底座与基板10固定相接，两个压块50的结构需要完全相同，还需要同时搭接在芯轴上。压块50一前一后的搭接在芯轴40上，能够有效的对芯轴40进行限制，避免其在测量过程中出现转动的现象。41.本方案中，百分表100的可以滑动是通过滑块101实现的，即百分表100固定在滑块101上；同时在基板10上还固定有第一挡块110和第二挡块120，第一挡块110与第二挡块120垂直相接形成挡位空间，滑块101位于这里的挡位空间中。42.可选的，支撑架，支撑架的顶部还安装有伸缩件33，第二尖轴32固定在伸缩件33的输出端使得第二尖轴32可在竖直方向上下移动。这里的伸缩件33优选为气缸。43.通过采用本方案提供的检具，能够有效的对花键轴叉进行固定，并且在百分表100的配合下，完成对花键轴叉耳孔位置度进行检测，为以后花键轴叉的批量生产或者质检提供可靠的数据支撑。44.针对以上检具，我们同时还提出了一种花键轴叉耳孔位置度的检测方法，具体包括以下步骤：45.s1.将花键轴叉放入检具内，保证花键轴叉下中心孔放入第一尖轴31的顶尖内，此时花键轴叉的上中心孔与第二尖轴32的顶尖对齐，第二尖轴32在气缸33的作用下伸出与上中心孔固定。46.s2.将芯轴40依次通过花键轴叉的两个耳孔和贯通孔中；47.s3.再转动压块50，使得两个压块50分别与芯轴40的前后两段搭接上；此时的花键轴叉已经处于被限制的状态。48.s4.将滑块101沿着第二挡块120向芯轴40方向慢慢移动直到碰到第一挡块110，此时调整百分表100指针与芯轴40中部接触，记下此时百分表数值。49.s5.将滑块101向着远离芯轴40的方向移动，然后重复步骤s4，多次测量，取得平均值a1。50.s6.再次将滑块101向远离芯轴40的方向移动，然后将压块50抬起，通过转动转台20使得花键轴叉转动180°；重复步骤s2～s5，多次测量后得到的平均值为a2；51.s7.计算a1与a2之间的差值，该差值即为花键轴叉耳孔对花键轴叉轴线的位置度。52.这样通过采用以上检测的方案步骤进行对花键轴叉耳孔位置度的测量，可以检测花键轴叉耳孔对花键轴叉轴线的位置度，从而有效地控制花键轴叉的质量。53.以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。









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