信号处理装置的制作方法

测量装置的制造及其应用技术1.本公开涉及信号处理装置，所述信号处理装置使用从片状的检测对象物检测出的一个特性数据、和从片状的检测对象物检测出且具有与一个特性数据不同的特性的另一个特性数据。背景技术：2.以往，在信号处理装置中，有将片状的检测对象物即包含纸币或有价证券在内的原稿作为对象来处理多个特性不同的数据的信号处理装置(例如，参照专利文献1至专利文献5)。专利文献1公开了从片状的检测对象物分别检测不同特性的三个传感器。详细而言，公开了对检测对象物的厚度进行检测的厚度检测传感器、获取检测对象物的光学图像的光学线性传感器、获取检测对象物的磁图像的磁线性传感器。专利文献2公开了将分别通过光学线性传感器和磁线性传感器获取到的数据相互补充来进行图像识别的技术。3.专利文献3和专利文献4公开了以下技术：在光学图像的读取位置和磁读取位置处使读取范围重复，获取光学图像和磁图像的数据，将光学图像与磁图像的位置关系也作为信息来进行读取。专利文献5公开了对检测对象物的静电电容的变化进行检测的静电电容检测传感器、以及获取检测对象物的光学图像的光学线性传感器。通过对检测对象物的静电电容的变化进行检测，从而能够对检测对象物的厚度进行检测。另外，静电电容检测传感器或上述厚度检测传感器有时也用于对片状的检测对象物的透明胶带等异物进行检测。4.另一方面，在现有的磁线性传感器中存在对通过检测元件从检测对象物依次检测得到的检测对象物的信号成分进行信号处理的传感器(例如，参照专利文献6、专利文献7、专利文献8)。专利文献6中公开了不对检测定时施加限制且不受随时间变化或环境变化所引起的传感器特性的变化的影响而读取磁墨的印刷图像或磁图案的技术。专利文献7公开了降低在检测对象物的读取期间内所产生的检测信号的电平变动的影响的技术。专利文献8中公开了对由环境变化或随时间变化所引起的输出信号电平的偏差进行抑制的技术。现有技术文献专利文献5.专利文献1：wo2018/168645专利文献2：wo2019/202715专利文献3：wo2014/163148专利文献4：wo2016/52613专利文献5：日本专利特开2018-92655号公报专利文献6：日本专利特开2013-182281号公报专利文献7：wo2014/77276专利文献8：wo2015/147045技术实现要素：发明所要解决的技术问题6.但是，以往，在信号处理装置中，存在未想到下述情况的问题：在从片状的检测对象物检测出的一个特性数据、和从片状的检测对象物检测出的具有与一个特性数据不同的另一个特性数据中，至少有一个特性数据存在不需要的部分。7.本公开是为了消除上述问题而完成的，涉及一种信号处理装置，即使在从片状的检测对象物检测出的一个特性数据、和从片状的检测对象物检测出的具有与一个特性数据不同的特性的另一个特性数据中至少有一个特性数据存在不需要的部分的情况下也能进行应对。用于解决技术问题的技术手段8.本公开所涉及的信号处理装置使用由第一检测元件从片状的检测对象物检测出的第一特性数据、以及由第二检测元件从所述检测对象物检测出的具有与所述第一特性数据不同的特性并与所述第一特性数据存在相关性的第二特性数据，所述信号处理装置的特征在于，包括：评价值生成部，该评价值生成部使用与所述第二特性数据的相关性，生成判定所述第一特性数据是否有不需要的部分的评价值；以及校正量决定部，该校正量决定部使用所述评价值来决定所述第一特性数据的校正量，以对通过所述评价值生成部的判定而被作为所述不需要的部分的数据进行校正。发明效果9.如上所述，根据本公开，能够获得容易对特性数据的不需要部分进行校正的信号处理装置。附图说明10.图1是实施方式1所涉及的信号处理装置的功能框图。图2是实施方式1所涉及的信号处理装置的功能框图。图3是实施方式2所涉及的信号处理装置的功能框图。图4是实施方式2所涉及的信号处理装置的功能框图。图5是实施方式2所涉及的信号处理装置的功能框图。具体实施方式11.实施方式1.以下，使用图1和图2对实施方式1所涉及的信号处理装置(信号处理装置10)进行说明。信号处理装置10至少具有评价值生成部3和校正量决定部4。评价值生成部3或校正量决定部4可以与第一检测元件1和第二检测元件2中的至少一个成为一体。图1所示的信号处理装置10是一组第一检测元件1和一组第二检测元件2的情况下的结构。图2所示的信号处理装置是一组第一检测元件1和两组第二检测元件2的情况下的结构。当然，第二检测元件2也可以是三组以上。当有多个第二检测元件2时，优选多个第二检测元件2的从片状的检测对象物检测的特性数据具有彼此不同的特性。片状的检测对象物在传送方向(副扫描方向)上相对地进行传送，并且通过第一检测元件1和第二检测元件2分别获得特性。第一检测元件1和第二检测元件2优选为在主扫描方向上延伸的线性传感器。主扫描方向与传送方向交叉(例如，正交)。因此，如上所述，传送方向也可以称为副扫描方向。图中，相同标号表示相同或相当的部分，因此省略对它们的详细说明。12.在图1和图2中，第一检测元件1从片状的检测对象物检测第一特性数据。第二检测元件2从片状的检测对象物检测具有与第一特性数据不同的特性并与第一特性数据存在相关性的第二特性数据。另外，片状的检测对象物是包含纸币或有价证券在内的原稿，也可以称为读取对象物。所谓特性是作为通过传感器从检测对象物得到的光学、电磁学等物理量而得到的。信号处理装置10使用由第一检测元件1检测出的第一特性数据、以及由第二检测元件2检测出的、具有与第一特性数据不同的特性并且与第一特性数据存在相关性的第二特性数据。13.在图1和图2中，评价值生成部3使用第一特性数据中的与第二特性数据的相关性，生成判定第一特性数据中是否存在不需要的部分的评价值(增益值a、增益值b、或增益值a、增益值b、增益值c)。在本技术中，说明了由于例示了增益调整而使用增益校正量作为评价值的情况，虽然包含附图在内作为增益值，但是评价值不限于增益校正量。校正量决定部4使用评价值来决定第一特性数据的校正量，以对通过评价值生成部3的判定而被作为不需要的部分的数据进行校正。优选地，实施方式1所涉及的信号处理装置(信号处理装置10)还可以具备数据运算部5。数据运算部5使用校正量决定部4所决定的校正量，进行将不需要的部分从第一特性数据中排除的运算。数据运算部5可以考虑使用增益校正及偏移校正中的至少一个来进行将不需要的部分从第一特性数据中排除的运算，但不限于此。14.在图1和图2中，副扫描开始位置检测部6检测第一特性数据的副扫描开始位置，并且如图1和图2所示，可以从第一特性数据进行检测，也可以从相对于第一检测元件1被相对地传送的片状的检测对象的传送位置检测第一特性数据的副扫描开始位置。另外，副扫描开始位置是所传送的片状的检测对象物中成为副扫描前端(副扫描方向上的前端)的位置。形成副扫描开始位置检测部6，以对读取对象物的副扫描前端进行检测并对信号增益进行校正。评价值生成部3包括副扫描开始对齐部7。15.在图1和图2中，副扫描开始位置对齐部7不仅需要进行多个第二特性数据(有多个的情况下)之间的调整，还需要使第一特性数据和第二特性数据相匹配，因此，与副扫描开始位置检测部6协作地进行与第一特性数据的匹配，从而对第二特性数据或多个第二特性数据进行调整。如果偏差量的相对值不因传送读取对象物的传送机而发生大的变化(基本固定)，则副扫描开始位置对齐部7能够使用固定参数进行调整。另外，副扫描开始位置检测部6和副扫描开始位置对齐部7可以在评价值生成的后级实施，也可以在前级实施。也就是说，附图中的顺序是一个示例。另外，评价值生成部3在判定是否存在不需要的部分之前，也可以进行使有相关性的数据的分辨率匹配的处理。当第一检测元件1和第二检测元件2的主扫描方向和副扫描方向上的分辨率不同时，与任意分辨率相匹配地对数据样本数进行调整。16.尤其是，图2中，信号处理装置10使用由第一检测元件1从检测对象物检测出的第一特性数据、以及由多个其他检测元件(多个第2检测元件2)分别从检测对象物检测出的、具有与第一特性数据不同的特性且与第一特性数据存在相关性的多个其他特性数据(第二特性数据)。校正量决定部4与图1同样地，使用评价值来决定第一特性数据的校正量，以对通过评价值生成部3的判定而被作为不需要的部分的数据进行校正。另一方面，也可以说评价值生成部3使用与其他特性数据的相关性来生成对第一特性数据中是否存在不需要的部分进行判定的评价值。如上所述，优选多个其他检测元件(多个第二检测元件2)检测出的多个其他特性数据(多个第二特性数据)具有彼此不同的特性。在该优选情况下，也可以说评价值生成部3使用多个其他特性数据(多个第二特性数据)彼此特性不同这一相关性，来对第一特性数据中是否存在不需要的部分进行判定。评价值生成部3可以仅生成评价值，并由校正量决定部4实施不需要的部分的判定。在该情况下，也可以说校正量决定部4具有评价值生成部3的一部分功能。17.另外，在多个其他检测元件(多个第二检测元件2)检测出的多个其他特性数据(多个第二特性数据)具有彼此不同的特性的情况下，也可以说是下述情况。评价值生成部3针对多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个生成评价值，校正量决定部4能够使用多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值中的至少一个，来决定第一特性数据的校正量。另外，校正量决定部4能够使用多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值中的、去除了包含与第一特性数据的相关性较低的数据在内的其他特性数据(第二特性数据)的评价值后所获得的至少一个评价值，来决定第一特性数据的校正量。18.另外，评价值生成部3和校正量决定部4中的至少一个可以对多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值进行合成来生成评价值，校正量决定部4也能够使用对多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值进行合成而得到的评价值，来决定第一特性数据的校正量。评价值生成部3针对多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个生成评价值，校正量决定部4能够对多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值进行合成，来决定第一特性数据的校正量。另外，当在评价值生成部3或校正量决定部4中对多个其他特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值进行合成时，只要使用两个以上的评价值即可，而不必使用第二特性数据的所有评价值。例如，在评价值生成部3或校正量决定部4中，可以考虑以下等处理：将多个其它特性数据(多个第二特性数据)的每一个的评价值中的、与第一特性数据的相关性较低的评价值从进行合成的对象中排除。19.实施方式1所涉及的信号处理装置(信号处理装置10)即使在获得了检测对象物的第一特性数据的情况下，从获取第一特性数据的第一检测元件1的性能上来看，在第一特性数据中包含不需要的部分的情况下也是有效的。与检测对象物的第一特性数据存在相关性的检测对象物的第二特性数据与第一特性数据本身不同，因此不能取代第一特性数据而直接使用。然而，由于与第一特性数据存在相关性，因此，在第一检测元件1检测出的第一特性数据中包含不是真的第一特性数据的部分的情况下，能够从第二特性数据中将不是真的第一特性数据的部分确定为不需要的部分。然后，可以从第一特性数据中排除不需要的部分以获得真的第一特性数据。另外，也可以说即使为了获得真的第一特性数据而确定出的不需要的部分不能在第二特性数据中作为不需要的部分来检测出、或者难以作为不需要的部分而检测出，第一特性数据和第二特性数据也存在相关性。这是由于，例如，即使是在第一特性数据中应该没有输出分布的部分(在为真的第一特性数据的情况下)，由于对应于该部分的第二特性数据中的输出分布在第一检测元件1与第二检测元件2之间的特性不同，因此，有时也可以说是如下情况。即，在检测对象物那样的部位，在能够用第二特性数据检测出的(输出分布)是即使用第一特性数据也能检测出的(输出分布)的情况下，并不是真的第一特性数据，而可以说是包含在第一特性数据中的不需要的部分。因此，也可以说即使为了获得真的第一特性数据而确定出的不需要的部分不能在第二特性数据中作为不需要的部分来检测出、或者难以作为不需要的部分而检测出，第一特性数据和第二特性数据也存在相关性。20.实施方式2.以下，使用图3、图4、图5对实施方式2所涉及的信号处理装置(信号处理装置10)进行说明。在实施方式2中，将特别说明第一检测元件1是作为对静电电容的变化进行检测的元件的静电电容检测部1的情况。另外，静电电容检测部1可以是对检测对象物的厚度进行检测的厚度检测传感器。厚度检测传感器除了静电电容检测部1以外，还有超声波传感器、光学传感器、辊子等。另一方面，第二检测元件2是下述中的任一个的情况，即：作为从检测对象物检测磁图像的元件(磁图像读取元件)的磁图像检测部2、作为从检测对象物检测图像的元件(图像读取元件)的图像检测部2、作为从检测对象物的表面(一个表面)检测反射光图像的元件(图像读取元件)的表面反射图像检测部2、作为从检测对象物的背面(另一个表面)检测反射光图像的元件(图像读取元件)的背面反射图像检测部2、作为从检测对象物检测透射光图像的元件(图像读取元件)的透射图像检测部2。实施方式2中的评价值生成部3、校正量决定部4、数据运算部5的基本动作与实施方式1相同。这对于副扫描开始位置检测部6和副扫描开始对齐部7也是同样的。21.图3所示的信号处理装置是一组第一检测元件1(静电电容检测部1)和一组第二检测元件2(图像检测部2)的情况。图4所示的信号处理装置是一组第一检测元件1(静电电容检测部1)和两组第二检测元件2(磁图像检测部2、图像检测部2)的情况。当然，第二检测元件2也可以如图5所示那样为三组以上。图5所示的信号处理装置是一组第一检测元件1(静电电容检测部1)和四组第二检测元件2(磁图像检测部2、表面反射图像检测部2、背面反射图像检测部2、透射图像检测部2)的情况。22.即使在实施方式2中，优选多个第二检测元件2从片状的检测对象物检测出的特性数据具有彼此不同的特性。片状的检测对象物在传送方向(副扫描方向)上被相对地传送，并且通过第一检测元件1和第二检测元件2分别获得特性。第一检测元件1和第二检测元件2优选为在主扫描方向上延伸的线性传感器。图中，相同标号表示相同或相当的部分，因此省略对它们的详细说明。23.由于这样的结构，在实施方式2所涉及的信号处理装置(信号处理装置10)中，评价值生成部3使用与具有以下多个图像中的任意图像的特性来作为与第一特性数据不同的特性的数据的相关性，所述图像包括：来自检测对象物的基于可见光的反射光图像、基于不可见光的反射光图像、基于可见光的透射光图像、基于不可见光的透射光图像、以及磁图像。24.在图3、图4、图5中，第一预处理部8对由第一检测元件1检测出的第一特性数据实施预处理的校正。各预处理如框图所述。这是一个示例，也可以考虑其他结构。预处理是吸收每个元件的检测信号的偏差的处理。第二预处理部9形成在评价值生成部3的内部(也可以是外部)，对由第二检测元件2检测出的第二特性数据实施预处理的校正。各预处理如框图所记载的那样。作为与第一预处理部8同样是一个示例，也可以考虑其他结构。预处理是吸收每个元件的检测信号的偏差的处理。在实施方式1中，说明了评价值生成部3在判定是否存在不需要的部分之前进行使存在相关性的数据的分辨率匹配的处理，但在实施方式2中，在第二预处理部9中，在判定是否存在不需要的部分之前进行使存在相关性的数据的分辨率匹配的处理。当第一检测元件1和第二检测元件2的主扫描方向和副扫描方向上的分辨率不同时，与任一个分辨率相匹配地调整数据样本数。25.图3所示的信号处理装置10使用由检测静电电容的变化的元件从片状的检测对象物所检测出的第一特性数据、以及由图像读取元件从片状的检测对象物所检测出的、与第一特性数据存在相关性的第二特性数据。详细而言，信号处理装置10包括：评价值生成部3，该评价值生成部3使用与第二特性数据的相关性来生成判定第一特性数据中是否有不需要的部分的评价值；以及校正量决定部4，该校正量决定部4使用评价值来决定第一特性数据的校正量，以对通过评价值生成部3的判定而被作为不需要的部分的数据进行校正。图3所示的信号处理装置10也可以说是图1所示的信号处理装置10的第一检测元件1是静电电容检测部1、第二检测元件2是图像检测部2的情况。26.图4所示的信号处理装置10是图3所示的信号处理装置10中的第二检测元件2有两个的情况的示例，除了图像检测部2之外，还具有磁图像检测部2。在图4中，对来自磁图像检测部2的输出进行积分并将其发送到第二预处理部9，但是，这是假定在需要积分的情况下的磁线性传感器，而不是必须的结构。因此，只要根据需要进行信号转换即可，积分的处理是例示。图4所示的信号处理装置10也可以说是图2所示的信号处理装置10的第一检测元件1是静电电容检测部1、第二检测元件2是磁图像检测部2及图像检测部2的情况。图像检测部2是透射图像检测部2、表面反射图像检测部2和背面反射图像检测部2的任一个。用于读取的光源的波长不限于红外线1，也可以是可见光、紫外线、红外线等。27.图5所示的信号处理装置10是图3所示的信号处理装置10中的第二检测元件2有四个的情况的示例，具有磁图像检测部2、透射图像检测部2、表面反射图像检测部2、背面反射图像检测部2。与图4所示的信号处理装置10同样地，对来自磁图像检测部2的输出进行积分并将其发送到第二预处理部9，但是，这是假定在需要积分的情况下的磁线性传感器，而不是必须的结构。透射反射图像检测部2从用于读取的光源向检测对象物照射红外线(红外线1)，并接收透过检测对象物的透射光。另外，用于读取的光源的波长不限于红外线1，也可以是可见光、紫外线等其他波长。28.在图5中，表面反射图像检测部2从用于读取的光源向检测对象物的一个表面(表面)照射与红外线1不同的波长的红外线(红外线2)，并接收其反射光。背面反射图像检测部2从用于读取的光源向检测对象物的另一个表面(背面)照射与红外线1不同的波长的红外线(红外线2)，并接收其反射光。另外，透射反射图像检测部2用于读取的红外线(红外线1)可以是检测对象物的一个表面和另一个表面中的任一个。可以设置两个透射反射图像检测部2以从检测对象物的一个表面和另一个表面分别读取透射光。另外，用于读取的光源的波长不限于红外线2，也可以是可见光、紫外线等其他波长。29.在实施方式2所涉及的信号处理装置(信号处理装置10)中，也可以说即使用真的第一特性数据检测到的部分不能在第二特性数据中作为不需要的部分检测到，难以或者作为不需要的部分检测到，第一特性数据与第二特性数据也存在相关性。这里以信号处理装置10接收输入的第一检测元件1是静电电容检测部1、第二检测元件2是透射图像检测部2的情况为示例进行说明。例如，讨论下述情况：想从静电电容检测部1检测附着在片状的检测对象物上的透明胶带(严格地说，因透明胶带而产生与其他部分不同的静电电容的变化)作为第一特性数据。30.利用由静电电容检测部1检测出的检测对象物的静电电容的变动(第一特性数据)与由透射图像检测部2检测出的检测对象物的透射图像(第二特性数据)在透明胶带以外的部分中有相关性这一情况，在能够用第二特性数据检测出的部分(输出分布)是用第一特性数据也能检测出的部分(输出分布)的情况下，信号处理装置10能够判定为是包含在由静电电容检测部1检测出的第一特性数据中的不需要的部分，而不是真的第一特性数据(由于透明胶带而产生与其他部分不同的静电电容的变化)。因此，也可以说即使为了获得真的第一特性数据而确定出的不需要的部分不能在第二特性数据中作为不需要的部分来检测出，或者难以作为不需要的部分而检测出，第一特性数据与第二特性数据也存在相关性。31.在这样的第一检测元件1是静电电容检测部1、第二检测元件2是透射图像检测部2的情况下，当想检测附着在检测对象物上的透明胶带(严格地说，由于透明胶带而产生与其他部分不同的静电电容的变化)时，可以考虑利用作为由透射图像检测部2获得的透射光源的输出的透射图像中的、照明深度特性相对于介质位置线性地发生变化这一情况。此外，也可以考虑根据透射光源的输出电平来推测检测对象物的介质位置，并设定相对于静电电容检测部1的输出的二值化阈值(可变阈值)。标号说明32.1第一检测元件(静电电容检测部)2第二检测元件(磁图像检测部、图像检测部、表面反射图像检测部、背面反射图像检测部、透射图像检测部)3评价值生成部4校正量决定部5数据运算部6副扫描开始位置检测部7副扫描开始位置对齐部8第一预处理部9第二预处理部10信号处理装置。









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