生产多个分析测试条的方法和系统与流程

其他产品的制造及其应用技术1.本技术涉及一种通过使用卷到卷过程来生产分析测试条的方法。本发明进一步涉及一种用于通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条的制造系统。背景技术：2.在医疗技术和诊断领域中，一般来讲，测试条（例如分析测试条）可以用于检测存在于身体组织和体液 (body fluid/bodily fluid) 中的一者或多者的样品中（例如存在于血液、间质液、尿液、唾液或其他类型的体液中）的至少一种分析物。待检测分析物的示例为葡萄糖、酮、甘油三酯、乳酸盐、胆固醇或通常存在于这些体液中的其他类型的分析物。如有必要，可根据分析物的浓度和/或存在情况选择适当的处理。3.通常，技术人员已知的生产多个分析测试条的方法和系统利用卷到卷过程。通常，此类卷到卷过程可以用于印刷，例如用于印刷行业中。作为示例，de 10 2015 221 663 a1 描述了一种层压机，该层压机具有至少一个材料来源，该至少一个材料来源呈用于待层压材料的片材进料器的形式。层压机具有包括至少一个第一层压源的至少一个层压单元，以用于层压材料，该至少一个第一层压源配置为第一换辊机并且具有至少两个第一辊保持装置。4.此外，de 10 2015 221 661 a1 描述了一种可用于分离材料幅材的部分的分离装置。分离装置具有至少一个前夹持装置，该至少一个前夹持装置具有至少一个前夹持点；和至少一个后夹持装置，该至少一个后夹持装置具有至少一个后夹持点；以及至少一个第一拉伸元件。通过至少该至少一个第一拉伸装置在至少一个第一横动位置与至少一个第一分离位置之间的移动，分离装置可以在至少一种横动模式与至少一种分离模式之间进行切换。5.ep 2 907 573 a1 描述了一种用于生产至少一个分析装置的方法。分析装置具有至少一个毛细管元件。该方法包括以下步骤：a) 提供至少一个载体层；b) 提供至少一个间隔层；c) 在载体层的顶部上施加间隔层；d) 提供至少一个覆盖层；e) 在间隔层的顶部上施加覆盖层。该方法进一步包括至少一个切割步骤，其中从间隔层切割出毛细管元件的至少一个毛细管通道。通过使用至少两个切割工具来执行切割步骤，切割工具彼此补充以形成毛细管通道的轮廓。6.us 2007/278097 a1 描述了一种测试条或生物传感器，其包括在其上形成电极系统的基部基底。一个或多个层压层覆盖在基部基底上以形成样品接收室，试剂沉积在该样品接收室中。设置从样品接收室至生物传感器的外部的开口。该层和基部基底被激光焊接以固定生物传感器。该层和基部基底中的一者具有透光性，以允许在它们之间的界面处进行激光焊接。生物传感器可以由一系列连续的幅材形成，该一系列连续的幅材随后被切片以形成单独的生物传感器。7.在医疗技术和诊断领域中，具体为当生产分析测试条时，与常见制造工艺（例如印刷行业中使用的制造工艺）相比，可以应用关于制造工艺的不同要求，特别是在精度、安全性和卫生方面。因此，当生产分析测试条时，制造工艺通常必须满足对精度和卫生的高要求。作为示例，为了避免污染，通常可以将敏感表面的接触限制在最低限度。因此，例如在 ep 0 734 986 a2 中描述的移动的材料条的位置的非接触式检测可能优于接触位置检测。在 ep 0 734 986 a2 中，描述了一种用于非接触式检测移动的材料条的位置的装置。移动的材料条在条（该条在其整个宽度上方延伸）的一侧上并且在来自振荡器的材料条的边缘区域中的另一侧上具有检测器电极，使得发射电极与检测器电极之间的电容耦合在相对方向上对带与中心的位置偏差作出反应。8.因此，尽管已经取得了一些进展（例如有了上述概念），但仍然存在若干技术挑战。具体地，迄今为止，通常用高时间偏移量来检测在分析测试元件的卷到卷生产过程中的故障或非理想部分的检测，从而可能废弃超过必要量的材料。此外，介于两个从动辊之间的材料运输的常见方法通常可能增加损坏和污染的风险。此外，当使用超过一层或甚至超过两层时，相对定位的准确度和精确性通常具有挑战性。迄今为止，当接近 《 0.01 mm 的精度时，已知工艺中使用的常见边缘检测传感器通常达到其极限。因此，一般来讲，可能需要改善安全性和制造准确度和精度。此外，通常可能需要在故障位置和/或错位的校正中改善准确度并且使时间延迟最小化。因此，可以以高精度的直接误差校正为目标。9.有待解决的问题因此，期望提供解决上述生产多个分析测试条的技术挑战的方法和系统。具体地，应提出适合于改善安全性和制造准确度的方法和系统。技术实现要素：10.通过使用具有独立权利要求的特征的卷到卷过程来生产多个分析测试条的方法和系统解决了该问题。在从属权利要求中列出了可能以隔离方式或以任意组合实现的有利实施例。11.如下文所使用的，术语“具有”、“包括”或“包含”或者它们的任意语法变化形式以非排他性方式使用。因此，这些术语既可以指除了由这些术语引入的特征之外，在此上下文中描述的实体中不存在其他特征的情况，也可以指存在一个或多个其他特征的情况。作为示例，表述“a 具有 b”、“a 包含 b”和“a 包括 b”可以指除 b 之外，a 中不存在其他任何元素的情况（即，a 单独地和排他地由 b 组成的情况），以及除 b 之外，实体 a 中还存在一个或多个其他元素诸如元素 c、元素 c 和 d 或甚至其他元素的情况。12.此外，应注意，指示特征或元素可存在一次或多次的术语“至少一个”、“一个或多个”或类似表述通常在引入相应特征或元素时仅使用一次。在下文中，在大多数情况下，当提及相应的特征或元素时，尽管相应的特征或元素可能只存在一次或多次，但不会重复使用表述“至少一个”或“一个或多个”。13.此外，如下所用，术语“优选地”、“更优选地”、“特别地”、“更特别地”、“具体地”、“更具体地”或类似的术语与可选特征结合使用，而不限制替代可能性。因此，由这些术语引入的特征是任选特征，并且无意以任何方式限制权利要求的范围。如技术人员将认识到的，本发明可以通过使用替代特征来执行。类似地，由“在本发明的实施例中”引入的特征或类似表述意图成为可选特征，而对本发明的替代实施例没有任何限制，对本发明的范围没有任何限制，并且对将以这种方式引入的特征与本发明的其他可选或非可选特征相结合的可能性也没有任何限制。14.在第一方面，公开了一种通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条的方法。每个分析测试条包括具有至少一个第一电极的至少一个第一层、至少一个间隔层和具有至少一个第二电极的至少一个第二层。该方法包括以下步骤，作为示例，可按照给定顺序执行以下步骤。然而，应当注意的是，不同的顺序也是可能的。此外，可一次性或重复地执行方法步骤中的一个或多个或甚至全部方法步骤。此外，可以同时或以及时重叠的方式执行两个或更多个方法步骤。该方法可以包括未列出的附加方法步骤。15.通常，生产多个分析测试条的方法包括以下步骤：i. 提供至少一种连续的第一层幅材，该至少一种连续的第一层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第一电极层，第一层幅材具有第一层边缘；ii. 在至少一个第一层压站中将至少一种连续的间隔层幅材连续地设置到第一层幅材的第一侧上，其中间隔层幅材具有间隔层边缘，其中通过将第一层边缘的位置用作主位置并且将间隔层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制，其中进行该设置，使得间隔层边缘与第一层边缘偏移，并且因此第一层的第一侧的一部分和第一电极层的一部分保持未由间隔层幅材覆盖的状态；以及iii. 在至少一个第二层压站中将至少一种连续的第二层幅材连续地设置到间隔层幅材上，第二层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第二电极层，其中执行该设置使得第二电极层面向第一层幅材，其中第二层幅材具有第二层边缘，其中进行该设置，使得第二层边缘与第一层边缘对齐，并且其中通过将第二层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。16.如本文所用，术语“生产”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于制造过程。具体地，生产多个分析测试条可以指至少一个元件和/或部件以诸如取回该多个分析测试条的方式来进行加工。17.如本文所用，术语“分析测试条”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于元件或装置，其经配置用于检测液体样品中（例如在体液中，具体为在体液的样品中）的分析物或确定液体样品中分析物的浓度。分析测试条也可以称为测试条或测试元件。作为示例，分析测试条可以包含至少一种组分，当分析物存在于体液中时，该组分改变至少一种可检测特性。分析测试条具体适合用于体外测量。分析测试条具体可以为电化学测试条。18.如本文所用，术语“分析物”是广义术语，并且将被赋予对于本领域普通技术人员普通和惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于任意化学、生化或生物物质、组分或化合物，诸如分子，例如葡萄糖、甘油三酯、乳酸盐或胆固醇。特别地，术语“分析物”也可以指样品的可检测特性（例如在体液的样品内）。因此，分析物具体可以指样品的（例如体液的样品的）至少一个参数。其中，术语“参数”通常可以指在分析测试内或通过分析测试可获得的任意值（例如测量值）。示例性地，参数可以对应于样品的特性和/或如上所述的该至少一种分析物的特性。具体地，参数可以是凝固参数，例如对分析物的凝固时间。19.如本文所用，术语“体液”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于存在于人或动物的身体组织（例如间质组织）中的任意液体体液。作为示例，体液可以为或可以包括血液、间质液、尿液、唾液等中的一者或多者。20.如本文所用，术语“卷到卷过程”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于涉及至少两个转动和/或旋转物体（例如至少两个旋转轮和/或卷筒）的过程。卷到卷过程具体可以包括将存储在第一卷筒上的至少一个元件（例如具有片材形式和/或带状形式的元件）转移至第二卷筒上，其中在转移过程中执行至少一个处理步骤。因此，作为示例，卷到卷过程可以是指从一卷筒材料（例如从第一卷筒）开始的任意过程，并且在执行该过程后重新卷入例如输出卷筒中（例如卷入第二卷筒中）。卷到卷过程也可以称为辊到辊过程。21.如本文所用，术语“层”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于形成片材或膜（作为独立膜或作为沉积在基底上的膜）的材料的任意等分试样。该层具体可以布置在多个层的至少一个束中（例如在叠堆和/或多层元件中），其中至少一个层可以放置和/或安放在至少一个其他层之上或之下。分析测试条包括至少两层，这些层称为“第一层”和“第二层”，其中术语“第一”和“第二”仅用于命名目的，不对层进行排序或编号并且未给出任何偏好。22.一般来讲，如本文所用的术语“第一”和“第二”仅用于命名目的，不旨在进行排序或编号并且未给出任何偏好。23.如本文所用，术语“间隔层”可以指具有预定厚度的任意层。间隔层具体可以经配置用于定位在至少两个其他层之间，例如用于允许所述其他两个层的相对定位。特别地，间隔层可以允许该至少两个其他层以至少一个最小距离进行相对定位，其中最小距离具体可以大于或等于间隔层的厚度。24.如本文所用，术语“电极”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指电导体，例如至少一种导电材料，例如导电金属或碳。因此，具有至少一个电极的层具体可以指包含至少一种电导体的层。例如，电导体可以布置在该层的至少一侧上，诸如布置和/或放置在该层的该至少一侧上的导电材料（例如导电金属（例如金）或碳）的薄层和/或膜。具体地，术语“电极层”可以指电极的层，例如指导电材料层。在此，电极层可以称为“第一电极层”和“第二电极层”，其中术语“第一”和“第二”同样仅用于命名目的，不对这些层进行排序或编号并且未给出任何偏好。25.如本文所用，术语“提供”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于供应和/或使其可用的任意过程。特别地，在步骤 i) 中，可以提供（例如供应）至少一种连续层幅材。作为示例，在步骤 i) 中，可以将该至少一种连续的第一层幅材提供（诸如供应和/或使其可用）给第一层压站，如下文进一步详细公开的。26.如本文所用，术语“层幅材”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于层的未加工的和/或预处理的状态。特别地，层幅材可以为或可以包括未加工的材料层（例如提供在卷筒或卷上）。特别地，层幅材可以指任意材料的薄片材和/或板和/或条。层幅材具体可以以连续形式提供，例如在卷筒和/或卷上。在此，层幅材可以称为“第一层幅材”和“第二层幅材”，其中术语“第一”和“第二”同样仅用于命名目的，不对这些层幅材进行排序或编号并且未给出任何偏好。27.如本文所用，术语“连续”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于不间断和/或持续的特性和/或形式。因此，作为示例，可以通过将例如设置在卷和/或线轴上的层幅材（例如在一卷筒层幅材中）与例如也设置在卷和/或线轴上的随后的层幅材进行附加和/或延伸来提供连续的层幅材，从而允许层幅材的不间断和/或持续可用性。作为示例，为了提供连续层幅材，至少一个拼接站可以用于附加和/或延伸层幅材。特别地，连续层幅材可以为或可以包括多个附加的层幅材卷筒，诸如盘绕和/或卷起的层幅材量。28.如本文所用，术语“层边缘”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于该层的边缘和/或边界。特别地，层边缘可以布置在层幅材的宽度的一个端部上，例如在层幅材的至少一侧上。在此，层边缘可以称为“第一层边缘”和“第二层边缘”，其中术语“第一”和“第二”同样仅用于命名目的，不对这些层边缘进行排序或编号并且未给出任何偏好。29.如本文所用，术语“连续地设置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于将一种任意材料不间断地和/或不停地放置和/或定位至另一种任意材料上的过程。30.如本文所用，术语“层压站”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于对至少两个层进行层压的装置和/或系统。其中，术语“层压”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于接合至少两个层的过程。特别地，当在层压站中层压该至少两个层时，可以生成至少一个合并层（例如包括该至少两个接合层的层）。31.如本文所用，术语“间隔层幅材”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于间隔层的未加工的和/或预处理的状态。特别地，间隔层幅材可以为或可以包括未加工的间隔材料（例如具有预定厚度的材料）层（例如提供在卷筒或卷上）。特别地，间隔层幅材可以指任意间隔材料的薄片材和/或板和/或条。间隔层幅材具体可以以连续形式提供，例如在卷筒和/或卷上。32.如本文所用，术语“间隔层边缘”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于间隔层的边缘和/或边界。特别地，间隔层边缘可以布置在间隔层幅材的宽度的一个端部上，例如在间隔层幅材的至少一侧上。33.如本文所用，术语“位置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于空间中的位置。任意物体的位置可以例如为或可以包括关于物体的空间信息，并且可以例如在坐标系中给出。34.如本文所用，术语“位置控制”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于引导和/或影响位置（例如任意物体的位置）的过程。因此，引导和/或影响具体可以以将位置的实际值与位置的目标值相比较的方式发生，并且发生影响和/或引导以便发生以下中的一者或多者：减少、最小化或消除偏差。特别地，任意物体的位置受控设置可以指由于物体的位置而对受到影响和/或调试的物体进行放置和/或定位的过程。作为示例，可以通过遵循预定的规则和/或顺序来控制位置。具体地，可以以主从方式对设置进行位置控制。35.如本文所用，术语“主从方式”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于当控制位置时要遵循的规则和/或顺序，其中从位置配置为根据主位置来进行调试。因此，作为示例，从位置可以根据主位置以主从方式来进行控制。术语“主位置”可以为或可以包括任意主导性和/或支配性物体的位置，而术语“从位置”可以为或可以包括任意追随性和/或下属性物体的位置。特别地，从位置可以根据主位置以主从方式来进行调试。36.如本文所用，术语“偏移”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于在至少两个值、物体或元件之间的位移，例如预定位移（例如指预定距离）。37.如本文所用，术语“对齐”和/或“对准”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于将至少两个物体和/或元件以线和/或平行的方式进行相对定位的过程。因此，第二层边缘与第一层边缘对齐可以指第二层边缘和第一层边缘以平行方式（例如以一条线的方式）进行定位。38.作为示例，可以执行步骤 iii. 使得第一层边缘的位置可以用作主位置。因此，在步骤 iii. 中，第一层边缘的位置可以用作主导性位置。39.该方法可以进一步包括具体地通过使用位于第二层压站的下游的至少一个对齐传感器来检测第二层边缘与第一层边缘之间的对齐。特别地，该方法可以进一步包括通过使用位于第二层压站的下游的该至少一个对齐传感器来检测第二层边缘与第一层边缘之间的对齐，以及控制被进料至第二层压站中的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置。因此，该方法可以包括通过使用例如用于检测对齐的该至少一个对齐传感器来控制被进料至第二层压站中的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置。40.如本文所用，术语“检测”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于定性地和/或定量地确定待检测的元件和/或物体的存在的过程。具体地，检测对齐可以指确定和/或监测至少两个物体和/或元件之间的对齐的过程。特别地，可以通过使用对齐传感器来检测对齐。41.如本文所用，术语“传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于任意元件，该任意元件经配置用于对至少一个测量变量或计量属性进行以下操作中的一个或多个操作：检测、测量或监测。具体地，传感器可能能够生成至少一个信号，例如测量信号（例如电信号），该至少一个信号为测量变量和/或计量属性的定性或定量指标。42.如本文所用，术语“对齐传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于确定和/或检测至少两个元件和/或物体之间的对齐的传感器。43.对齐传感器具体可以位于和/或布置在第二层压站的下游。其中，术语“下游”可以指执行的顺序和/或次序的规格。具体地，布置在参考步骤的下游的步骤可以指在执行参考步骤之后执行的步骤。因此，对齐传感器可以进行定位和/或布置，例如以便在第一层边缘和第二层边缘（例如第一层幅材和第二层幅材）经过层压站之后执行对第二层边缘与第一层边缘之间的对齐的检测。特别地，可以在层幅材可能已经经过第二层压站之后执行对该对齐的检测。因此，作为示例，对齐传感器可以位于和/或定位在第二层压站之后和/或后面。44.对齐传感器可以包括至少一个光学距离传感器。如本文所用，术语“光学距离传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于通过使用至少一种光学方法来确定和/或测量任意物体和/或元件的至少一个距离和/或至少一个位置的传感器。特别地，光学距离传感器可以在光学上测量和/或确定物体和/或元件的该至少一个位置。45.具体地，光学距离传感器可以具有基本上平行于第一层幅材的延伸平面的感测方向。特别地，如本文所用的感测方向可以指观察方向，例如光学距离传感器的光学观察轴线。如本文所用，术语“基本上平行”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于可以与平行取向相差不超过 10°、具体地相差不超过 5°，更具体地相差不超过 3°ꢀ的取向。特别地，光学距离传感器可以例如具有朝向和/或垂直于第一层边缘和第二层边缘（和优选地间隔层边缘）的感测方向。46.对齐传感器可以包括至少一个激光传感器，具体为激光轮廓传感器。如本文所用，术语“激光传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于通过使用至少一个激光器来确定和/或测量至少一个物体和/或元件的至少一个位置的传感器。47.对齐传感器具体可以经配置用于同时检测第一层边缘、间隔层边缘和第二层边缘的位置。48.特别地，对齐传感器可以是上位传感器，例如更高层次的传感器（例如君主传感器和/或众王之王传感器）。因此，作为示例，在主从方式位置控制中，由对齐传感器确定和/或检测的对齐可以用作上位位置（例如君主位置和/或众王之王位置）。具体地，在对齐位置上（例如在第二层边缘与第一层边缘以及优选地间隔层边缘之间的对齐上）的由对齐传感器生成的该至少一个信号（例如呈电信号的形式）可以用作上位信号（例如众王之王信号和/或众主之主信号），主位置（例如第一层边缘的位置）可以根据该上位信号来进行调试。作为示例，由对齐传感器（例如由位于和/或布置在第二层压站的下游的对齐传感器）确定和/或检测的对齐可以用作上位位置信息，主位置和从位置中的任何一者或甚至两者根据该上位位置信息来进行调试。因此，详细地说，例如位于和/或布置在第二层压站下游的对齐传感器可以为上位传感器，并且因此可以用作用于监测和/或控制第一层幅材、第二层幅材和间隔层幅材中的一者或多者或甚至全部的定位的控制机构。49.第一层边缘与第二层边缘之间的对齐的偏差可以通过校正被进料至第二层压站的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置来至少部分地进行校正。作为示例，可以自动地执行第二层边缘的位置的校正。特别地，第二层边缘的位置的自动校正可以由计算机执行（例如无需来自人类的任何动作）。50.第二层边缘的位置的校正具体可以包括使至少一个辊倾斜，连续的第二层幅材通过该至少一个辊被进料至第二层压站中。如本文所用，术语“倾斜”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于移动和/或倾侧的过程。因此，如本文所用，术语“使辊倾斜”具体可以指但不限于移动和/或倾侧至少一个辊（诸如滑轮和/或卷）的过程。特别地，辊可以为或可以包括圆柱形形状并且可以经配置用于引导层幅材，具体为第二层幅材。作为示例，辊（例如圆柱形辊）可以经配置用于通过借助于至少一个可控电机使辊倾斜来改变层幅材沿着辊轴线的位置。特别地，电机可以配置为经由至少一个心轴和/或轴来作用于辊的移动。作为示例，心轴和/或轴可以具有 1 mm 的节距。辊具体可以为或可以包括防滑表面。51.步骤 ii. 和 iii. 中的位置受控设置可以为关于与幅材的传输方向的方向垂直的位置的位置受控设置。特别地，该设置可以通过在垂直于传输方向（例如垂直于幅材的行进方向）的方向上移位和/或移动幅材来进行位置控制。特别地，作为示例，幅材的行进方向可以通过使辊倾斜而轴向地向左或向右改变。52.该方法可以进一步包括通过使用位于第一层压站的下游的至少一个偏移传感器来检测间隔层边缘与第一层边缘之间的偏移，以及控制被进料至第一个层压站的连续的间隔层幅材的间隔层边缘的位置。如本文所用，术语“偏移传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于确定和/或测量至少一个物体和/或元件相对于另一个物体和/或元件的至少一个偏移（例如至少两个物体和/或元件之间的至少一个偏移）的传感器。53.偏移传感器具体可以包括至少一个图像识别装置，该至少一个图像识别装置经配置用于在横向于第一层幅材的延伸平面的观察方向上对相机图像进行连续的图像识别。具体地，偏移传感器的图像识别装置可以经配置用于在横向和/或垂直于幅材（具体为第一层幅材）的行进和/或传输方向的观察方向上对相机图像进行连续的图像识别。如本文所用，术语“图像识别装置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于检测和/或确定图像中的物体的物体和/或元件。特别地，图像识别装置可以经配置用于例如通过识别至少一种幅材的（例如第一层幅材的）形状或边界线，来使用技术人员通常已知的图像识别技术和/或方法。54.该偏移具体可以与至少一个标称偏移进行比较，例如与至少一个预定偏移和/或目标偏移进行比较。特别地，该偏移与标称偏移之间的偏差可以通过校正被进料至第一层压站的连续的间隔层幅材的间隔层边缘的位置来至少部分地进行校正。作为示例，间隔层边缘的位置的校正具体可以包括使至少一个辊倾斜，间隔层幅材通过该至少一个辊被进料至第一层压站中。55.该方法可以进一步包括通过使用至少一个第一层传感器来检测被进料至第一层压站的连续的第一层幅材的第一层边缘的位置。第一层传感器可以包括至少一个红外传感器。特别地，第一层传感器具体可以包括至少一个红外传感器，该至少一个红外传感器具有横向于第一层幅材的延伸平面的感测方向。如本文所用，术语“红外传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于通过使用红外光（例如在红外光谱中发射的光，例如波长 λ 为 700 nm ≤ λ ≤ 1 mm，具体为 700 nm ≤ λ ≤ 30ꢀµm 的光）来确定和/或测量至少一个物体和/或元件的至少一个位置的传感器。56.另外地或替代性地，真空吸附平台可以用于控制第一层幅材的（例如第一层边缘的）位置。因此，作为示例，真空吸附平台可以经配置用于以稳定的平面布置引导第一层幅材。真空吸附平台例如可以包括用于引导在预定位置的第一层幅材（具体为第一层边缘）的对角直立轮。57.该方法可以进一步包括通过使用至少一个间隔层传感器来检测被进料至第一层压站中的连续的间隔层幅材的间隔层边缘的位置。间隔层传感器可以包括至少一个红外传感器。特别地，间隔层传感器具体可以包括至少一个红外传感器，该至少一个红外传感器具有横向于间隔层幅材的延伸平面的感测方向。58.该方法可以进一步包括通过使用至少一个层压传感器来检测在步骤 ii. 中生成的连续的中间层压幅材的第一层边缘的位置。如本文所用，术语“中间层压幅材”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于至少部分地加工的幅材，例如指包括合并材料层的幅材。层压幅材可以包括第一层幅材和间隔层幅材。具体地，中间层压幅材可以为或可以包括与间隔层幅材合并的第一层幅材（例如在第一层压站中合并）。特别地，层压幅材（例如中间层压幅材）可以被进料至第二层压站。59.层压传感器可以包括至少一个红外传感器，具体为具有横向于层压幅材的延伸平面的感测方向的至少一个红外传感器。60.除此之外或替代性地，真空吸附平台可以用于控制被进料至第二层压站的层压幅材的位置。61.该方法可以进一步包括通过使用至少一个第二层传感器来检测被进料至第二层压站的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置。62.第二层传感器具体可以包括超声传感器和红外传感器中的至少一者，具体为具有横向于第二层幅材的延伸平面的感测方向的超声传感器和/或红外传感器。如本文所用，术语“超声传感器”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于通过使用超声（例如以超声频率发射的声音，例如频率 f 为 20,000 hz ≤ f ≤ 200,000,000 hz、具体为 30,000 hz ≤ f ≤ 100,000,000 hz，更具体为 50,000 hz ≤ f ≤ 50,000,000 hz 的声音）来确定和/或测量至少一个物体和/或元件的至少一个位置的传感器。因此，作为示例，超声传感器可以经配置用于使用频率为 f = 150,000 hz 的声音。63.在又一个方面，公开了一种用于切割至少一种未加工的层幅材的切割站。根据本发明（诸如根据上述实施例中任一项和/或根据下文进一步详细描述的实施例中任一项）的生产多个分析测试条的方法可以暗示使用该至少一个切割站。此外，根据本发明（例如根据下文进一步详细描述的实施例中任一项）的用于生产多个分析测试条的制造系统还可以包括该至少一个切割站。此外，如本文所提出的切割站也可以独立进行使用，而无需根据本发明的方法或制造系统的其他特征。64.如本文所用，术语“切割”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于分离至少一个物体和/或元件的过程，其中生成限定的和/或受控的边缘和/或切割边缘。切割站包括至少一个切割刀片，该至少一个切割刀片用于以介于未加工的层幅材的表面与切割刀片的表面之间的切割角 α 切割未加工的层幅材，其中 20°ꢀ≤ α ≤ 40°。65.特别地，切割站可以经配置用于平行于未加工的层幅材的延伸部的纵向方向而切割该至少一种未加工的层幅材。如本文所用，术语“未加工的”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于任意材料的预处理状态，例如指未精制的和/或粗制的状态。如本文所用的未加工的层幅材具体可以指层幅材在切割之前的状态，例如指未切割的层幅材。66.具体地，切割站可以经配置用于通过使用该至少一个切割刀片来切割该至少一种未加工的层幅材。特别地，切割站可以经配置用于通过使用 25°ꢀ≤ α ≤ 35°、具体地 27°ꢀ≤ α ≤ 33°，更具体地 29°ꢀ≤ α ≤ 31°ꢀ的切割角 α 来切割该至少一种未加工的层幅材。优选地，切割角 α = 30°。特别地，切割角 α 可以例如等于 30°，其中最大公差为ꢀ±ꢀ5°，具体地，最大公差为ꢀ±ꢀ3°，更具体地，最大公差为ꢀ±ꢀ1°。67.α = 30°ꢀ的切割角 α 可以具体地允许层幅材的边缘的精确切割，同时避免层幅材边缘的剥落和/或分层。68.切割站可具体包括至少一个吻切站。如本文所用，术语“吻切站”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于将任意材料切割直至预定深度的切割站。特别地，吻切站可以经配置用于对层幅材（例如间隔层幅材）进行吻切，并且可以包括切割刀片，该切割刀片经配置用于进入间隔层幅材的表面直至达到预定深度。因此，例如，吻切站可以经配置用于仅切割层幅材的预定深度。69.特别地，吻切站可以经配置用于例如在预定长度上方逐渐加深切割。因此，在幅材可以经过吻切站的同时，吻切站可以逐渐加深切割直至预定深度。具体地，层幅材可以执行高达 180°ꢀ的行进方向改变（例如围绕吻切站的缠绕），同时逐渐加深切割直至预定深度。70.生产多个如上所述或如将在下文进一步详细描述的分析测试条的方法具体可以利用切割站。特别地，在该方法中，至少一个切割站可以用于切割至少一种未加工的层幅材（诸如未加工的第一层幅材和/或未加工的第二层幅材和/或未加工的间隔层幅材）。因此，对于术语的可能定义，可以参考切割站的描述和该方法的描述。具体地，关于该方法或切割站给出的定义可以互换地指代。71.特别地，该方法的在步骤 i. 中提供连续的第一层幅材可以包括将连续的未加工的第一层幅材提供给至少一个第一切割站。在第一切割站中，可以在平行于未加工的第一层幅材的延伸部的纵向方向的切割方向上切割连续的未加工的第一层幅材，由此可以生成第一层边缘。72.具体地，可以从第一层供应轮提供连续的未加工的第一层幅材。如本文所用，术语“供应轮”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于提供存储在卷轴和/或滚筒上的任意材料的卷轴和/或滚筒。特别地，材料可以被缠绕和/或放置在供应轮上，以提供用于进一步加工的材料。在本例中，连续的未加工的层幅材可以在供应轮上（诸如在卷轴和/或滚筒上）卷起，并且可以通过供应轮的旋转移动而提供给切割站，从而将连续的未加工的层幅材展开。供应轮也可以称为供应卷。73.该方法可以进一步包括将连续的未加工的第二层幅材提供给至少一个第二切割站。在第二切割站中，可以在平行于未加工的第二层幅材的延伸部的纵向方向的切割方向上切割连续的未加工的第二层幅材，由此可以生成第二层边缘。可以从第二层供应轮提供连续的未加工的第二层幅材。74.该方法可以进一步包括将至少一种连续的未加工的间隔层幅材提供给至少一个间隔层切割站，例如提供给经配置用于切割该至少一个未加工的间隔层的切割站。特别地，间隔层切割站可以经配置用于在将连续的间隔层幅材进料至第一层压站中之前将连续的未加工的间隔层幅材切割成连续的间隔层幅材。75.间隔层切割站具体可以包括该至少一个如上所述的或将在下文进一步详细描述的吻切站。特别地，未加工的间隔层可以包括超过一个层，例如超过间隔层。作为示例，未加工的间隔层除了间隔层还可以包括至少一个粘合剂层，例如具有粘合特性的层（例如胶水等的层）。因此，吻切站可以经配置用于通过仅切割该至少一个粘合剂层同时保持间隔层完整而将未加工的间隔层切割成连续的间隔层幅材。76.分析测试条的第一电极具体可以形成工作电极。分析测试条的第二电极可以形成对电极和参考电极中的一者或两者。77.第一电极层可以包括至少一个金属层和设置在金属层上的至少一个检测层。特别地，检测层可以包括经配置用于检测该至少一种分析物的至少一种化合物。如本文所用，术语“化合物”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于在至少一种其他材料的存在下执行反应过程的物质。该化合物具体可以经配置用于通过在分析物的存在下改变至少一个可检测特性来执行反应过程。因此，该化合物具体可以经配置用于在待检测的分析物的存在下改变该至少一个可检测特性。78.检测层可以包含至少一种酶。如本文所用，术语“酶”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于生物催化剂。酶可以经配置用于增加检测层中的反应速率。因此，酶可以经配置用于特别地加速反应过程，例如化合物的反应过程。酶可以为或可以包含分析物特异性蛋白质，例如允许分析物特异性检测反应的蛋白质。特别地，酶可以经配置用于仅作用于特定分析物和/或分析物组。因此，酶可以经配置用于仅转化样品中的特定分析物（例如血液样品中的葡萄糖）。79.第一层幅材具体可以被提供给第一层压站，其中第一侧以向上的方式进行取向。因此，当被进料至第一层压站中时，第一层幅材的第一侧可以面向上方（例如在与重力方向相反的方向上）。80.可将连续的第二层幅材进料至第二层压站中，其中第一侧面向上方。因此，当被进料至第二层压站中时，第二层幅材的第一侧可面向下方（例如在重力方向上）。81.连续的第一层幅材具体可以经由多个辊进料至第一层压站中，其中第一侧可以背离辊。因此，该多个辊具体可以经配置用于将第一层幅材引导至第一层压站而不接触第一层幅材的第一侧。82.作为示例，辊可以包括至少一个真空辊。特别地，当将第一层幅材进料至第一层压站中时，真空辊可以利用真空和/或吸力。因此，为了引导第一层幅材，可以使用至少一个真空辊。83.连续的第二层幅材可以经由多个辊进料至第二层压站中，其中第一侧背离辊。因此，该多个辊具体可以经配置用于将第二层幅材引导至第二层压站而不接触第二层幅材的第一侧。辊（具体为将第二层幅材进料至第二层压站中的该多个辊）可以包括至少一个真空辊。因此，作为示例，为了引导第二层幅材，可以使用至少一个真空辊。84.在该方法的步骤 iii. 中，作为示例，可以生成连续的分析测试条幅材，其中该方法可以进一步包括将连续的分析测试条幅材进料至至少一个测试条切割站中。特别地，在测试条切割站中，可以从连续的分析测试条幅材切割下来单独的分析测试条。85.该方法可以进一步包括使用至少一个故障检测站。如本文所用，术语“故障检测站”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于识别缺陷和/或误差的装置。具体地，故障检测站可以经配置用于检测第一层幅材、第二层幅材、间隔层幅材、在步骤 ii. 中生成的连续的中间层压幅材，以及在步骤 iii. 中生成的连续的分析测试条幅材中的一者或多者中的故障和/或缺陷。86.此外，故障检测站可以包括经配置用于对检测为有故障的幅材部分进行标记的至少一个标记装置。因此，例如除了识别缺陷之外，故障检测站还可以经配置用于标记已识别的缺陷（例如通过标记包括第一层幅材、第二层幅材、间隔层幅材、在步骤 ii. 中生成的连续的中间层压幅材，以及在步骤 iii. 中生成的连续的分析测试条幅材中的一者或多者中的故障和/或缺陷的相应幅材部分）。87.故障检测站可以包括至少一个图像识别装置。因此，作为示例，至少一个图像识别装置可以用于检测和/或识别故障检测站中的缺陷和/或故障。88.该方法可以进一步包括至少一个处置站，其中在处置站中，将标记为有故障的幅材部分处理掉。处置站例如可以为该至少一个测试条切割站的一部分。89.该方法可以进一步包括至少一个静电放电站。如本文所用，术语“静电放电站”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于经配置用于消散静电荷的系统和/或单元。作为示例，静电放电站可以为或可以包括至少一个接地棒。90.静电放电站具体可以布置在第一层压站的上游（例如布置在第一层压站之前）。特别地，静电放电站可以被布置成使得间隔层可以在进入第一层压站之前进行放电。91.特别地，层幅材（具体为第一层幅材和第二层幅材）可以不通过接触层幅材的侧面（诸如层幅材的正面和/或端面）来进行引导，以便避免损坏检测层，例如以用于防止分层和剥落。因此，第一层幅材和第二层幅材可以仅通过接触层幅材的后侧，具体地接触层幅材的与第一侧相对的一侧（例如与电极层可以在其上布置和/或存在的一侧相对的一侧）来机械地引导。特别地，至少一个具有浮动轴承的无框架辊可以用于引导和/或调试层幅材（例如第一层幅材和/或第二层幅材）的位置。此外，真空辊（例如具有其下方带有节流喷嘴的微孔表面和/或穿孔的不锈钢表面）可以用于引导层幅材（例如，第一层幅材、间隔层幅材和/或第二层幅材）。此外，进料辊（例如具有粘合剂涂层的进料辊）可以用于引导层幅材。92.特别地，本方法可以允许满足所生产的分析测试条的第一层和第二层的对齐的 0ꢀ±ꢀ0.1 mm 的制造公差。该制造公差具体地是可以达到的，因为对齐传感器（例如激光传感器）可以被布置成使得感测方向可以基本上平行于第一层幅材的延伸平面（例如可以垂直地面向第一层边缘）。然后，由对齐传感器检测到的测量值和位置可以直接用于控制，并且如果需要，用于以主从方式根据第一层边缘来校正间隔层边缘的位置。作为示例，经由辊对从位置的位置的（例如间隔层边缘的位置的）调试可以为或可以包括 ≤ 0.2 μm 的精度，因此作为示例，可以允许高度准确和精确地重新调节位置。93.此外，在该方法中，可以用针对某个恒定距离（例如除了测得的对齐值）的第二差分测量来执行连续的校准。因此，每个测得的对齐值可以永久地经受可靠性测试。94.在又一个方面，公开了一种制造系统，该制造系统用于通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条，每个分析测试条均包括具有至少一个第一电极的至少一个第一层、至少一个间隔层和具有至少一个第二电极的至少一个第二层。制造系统包括：i. 至少一个供应装置，该至少一个供应装置用于提供至少一种连续的第一层幅材，第一层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第一电极层，第一层幅材具有第一层边缘；ii. 至少一个第一层压站，第一层压站经配置用于将至少一种连续的间隔层幅材连续地设置到第一层幅材的第一侧上，其中间隔层幅材具有间隔层边缘，其中通过将第一层边缘的位置用作主位置并且将间隔层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制，其中进行该设置，使得间隔层边缘与第一层边缘偏移，并且因此第一层的第一侧的一部分和第一电极层的一部分保持未由间隔层幅材覆盖的状态；以及iii. 至少一个第二层压站，第二层压站经配置用于将至少一种连续的第二层幅材连续地设置到间隔层幅材上，第二层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第二电极层，其中执行该设置使得第二电极层面向第一层幅材，其中第二层幅材具有第二层边缘，其中进行该设置，使得第二层边缘与第一层边缘对齐，并且其中通过将第二层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。95.如本文所用，术语“供应装置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于任意形成的材料储存器，该材料储存器经配置用于提供该至少一种材料和/或使该至少一种材料可用。96.制造系统具体可以经配置用于执行生产多个如上所述的或如下文进一步详细描述的分析测试条的方法。因此，对于可能的附加定义和实施例，可以参考上文给出的描述或者下文的进一步详细描述。97.制造系统可以进一步包括至少一个控制装置，该至少一个控制装置经配置用于控制第一层压站和第二层压站中的至少一者。如本文所用，术语“控制装置”是广义的术语且被赋予对本领域普通技术人员而言普通且惯常的含义，并且不限于特殊或自定义的含义。该术语具体可以指但不限于用于监测和/或调节目的的系统。特别地，控制装置可以经配置用于监测和/或调节第一层压站的至少一个特性和/或第二层压站的至少一个特性。98.用于提供连续的第一层幅材的供应装置具体可以包括至少一个供应卷，例如至少一个供应轮。99.制造系统可以进一步包括用于提供连续的间隔层幅材的至少一个供应装置，具体为至少一个供应卷（例如至少一个供应轮）。100.制造系统可以进一步包括用于提供连续的第二层幅材的至少一个供应装置，具体为至少一个供应卷（例如至少一个供应轮）。101.此外，制造系统可以包括至少一个存储装置，以用于中间存储由第二层压站生成的连续的分析测试条幅材。102.制造系统具体可以进一步包括至少一个如上所述的或将在下文进一步详细描述的切割站。103.根据本发明的制造系统和/或根据本发明的方法可以完全或部分地由计算机控制。因此，制造系统可以包括至少一个控制器（例如至少一个处理器）以用于控制制造系统和/或方法。104.与已知的方法、站和系统相比，根据本发明的方法、站和系统可提供大量的优点。特别地，与已知的系统和方法相比，所公开的生产多个分析测试条的制造系统和方法可以减少生产废品的量。具体地，可以减少划痕和污染物的出现。此外，在所提出的系统和方法中，可以显著减少或甚至消除由最先进的引导系统引起的材料损坏（诸如剥落和分层）。因此，特别地，可以将由于材料相关的安全性问题而导致的评定废弃率最小化并且可以增加制造良率。105.此外，该方法、站和系统可以允许更精确和准确地制造分析测试条。因此，生产过程可以得到改善，并且由于降低废弃率并且更有效地利用资源而具体地可以变得更经济。106.总结并在不排除进一步可能实施例的情况下，可设想下列实施例：实施例1:一种通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条的方法，每个分析测试条均包括具有至少一个第一电极的至少一个第一层、至少一个间隔层和具有至少一个第二电极的至少一个第二层，该方法包括：i.提供至少一种连续的第一层幅材，该至少一种连续的第一层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第一电极层，第一层幅材具有第一层边缘；ii.在至少一个第一层压站中将至少一种连续的间隔层幅材连续地设置到第一层幅材的第一侧上，其中间隔层幅材具有间隔层边缘，其中通过将第一层边缘的位置用作主位置并且将间隔层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制，其中进行该设置，使得间隔层边缘与第一层边缘偏移，并且因此第一层的第一侧的一部分和第一电极层的一部分保持未由间隔层幅材覆盖的状态；以及iii.在至少一个第二层压站中将至少一种连续的第二层幅材连续地设置到间隔层幅材上，第二层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第二电极层，其中执行该设置使得第二电极层面向第一层幅材，其中第二层幅材具有第二层边缘，其中进行该设置，使得第二层边缘与第一层边缘对齐，并且其中通过将第二层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。107.实施例2:根据前一项实施例所述的方法，其中执行步骤iii.使得第一层边缘的位置被用作主位置。108.实施例3:根据前述实施例中任一项所述的方法，该方法进一步包括通过使用位于第二层压站的下游的至少一个对齐传感器来检测介于第二层边缘与第一层边缘之间的对齐，以及控制被进料至第二层压站中的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置。109.实施例4:根据前一项实施例所述的方法，其中对齐传感器包括至少一个光学距离传感器，该至少一个光学距离传感器具有基本上平行于第一层幅材的延伸平面的感测方向，具体为具有朝向和/或垂直于第一层边缘和第二层边缘（和优选地间隔层边缘）的感测方向。110.实施例5:根据前述两项实施例中任一项所述的方法，其中对齐传感器包括至少一个激光传感器，具体为激光轮廓传感器。111.实施例6:根据前述三项实施例中任一项所述的方法，其中，对齐传感器经配置用于同时检测第一层边缘、间隔层边缘和第二层边缘的位置。112.实施例7:根据前述四项实施例中任一项所述的方法，其中通过校正被进料至第二层压站中的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置来至少部分地校正第一层边缘与第二层边缘之间的对齐的偏差。113.实施例8:根据前一项实施例所述的方法，其中自动地执行第二层边缘的位置的校正。114.实施例9:根据前述两项实施例中任一项所述的方法，其中第二层边缘的位置的校正包括使至少一个辊倾斜，连续的第二层幅材通过该至少一个辊被进料至第二层压站中。115.实施例10:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中步骤ii.和iii.中的位置受控设置为关于与幅材的传输方向的方向垂直的位置的位置受控设置。116.实施例11:根据前述实施例中任一项所述的方法，该方法进一步包括通过使用位于第一层压站的下游的至少一个偏移传感器来检测间隔层边缘与第一层边缘之间的偏移，以及控制被进料至第一个层压站的连续的间隔层幅材的间隔层边缘的位置。117.实施例12:根据前一项实施例所述的方法，其中偏移传感器包括至少一个图像识别装置，该至少一个图像识别装置经配置用于在横向于第一层幅材的延伸平面的观察方向上对相机图像进行连续的图像识别。118.实施例13:根据前述两项实施例中任一项所述的方法，其中该偏移与至少一个标称偏移进行比较，其中该偏移与标称偏移之间的偏差通过校正被进料至第一层压站的连续的间隔层幅材的间隔层边缘的位置来至少部分地进行校正。119.实施例14:根据前一项实施例所述的方法，其中间隔层边缘的位置的校正包括使至少一个辊倾斜，间隔层幅材通过该至少一个辊被进料至第一层压站中。120.实施例15:根据前述实施例中任一项所述的方法，该方法进一步包括通过使用至少一个第一层传感器来检测被进料至第一层压站的连续的第一层幅材的第一层边缘的位置。121.实施例16:根据前一项实施例所述的方法，其中第一层传感器包括至少一个红外传感器，具体为具有横向于第一层幅材的延伸平面的感测方向的至少一个红外传感器。122.实施例17:根据前述实施例中任一项所述的方法，该方法进一步包括通过使用至少一个间隔层传感器来检测被进料至第一层压站的连续的间隔层幅材的间隔层边缘的位置。123.实施例18:根据前一项实施例所述的方法，其中间隔层传感器包括至少一个红外传感器，具体为具有横向于间隔层幅材的延伸平面的感测方向的至少一个红外传感器。124.实施例19:根据前述实施例中任一项所述的方法，该方法进一步包括通过使用至少一个层压传感器来检测在步骤ii.中生成的连续的中间层压幅材的第一层边缘的位置，层压幅材包括第一层幅材和间隔层幅材，层压幅材被进料至第二层压站中。125.实施例20:根据前一项实施例所述的方法，其中层压传感器包括至少一个红外传感器，具体为具有横向于层压幅材的延伸平面的感测方向的至少一个红外传感器。126.实施例21:根据前述实施例中任一项所述的方法，该方法进一步包括通过使用至少一个第二层传感器来检测被进料至第二层压站的连续的第二层幅材的第二层边缘的位置。127.实施例22:根据前一项实施例所述的方法，其中第二层传感器包括超声传感器和红外传感器中的至少一者，具体为具有横向于第二层幅材的延伸平面的感测方向的超声传感器和/或红外传感器。128.实施例23:一个切割站，该切割站经配置用于切割至少一种未加工的层幅材，切割站包括至少一个切割刀片，该至少一个切割刀片用于以介于未加工的层幅材的表面与切割刀片的表面之间的切割角α切割该至少一种未加工的层幅材，其中20°≤α≤40°。129.实施例24:根据前一项实施例所述的切割站，其中切割站经配置用于平行于未加工的层幅材的延伸部的纵向方向而切割该至少一种未加工的层幅材。130.实施例25:根据前述两项实施例中任一项所述的切割站，其中切割角α为25°≤α≤35°、具体地27°≤α≤33°，更具体地29°≤α≤31°，优选地α=30°。131.实施例26:根据涉及方法的前述实施例中任一项所述的方法，其中该方法包括使用根据涉及切割站的前述实施例中任一项所述的至少一个切割站。132.实施例27:根据前一项实施例所述的方法，切割站包括至少一个第一切割站，其中在步骤i.中提供连续的第一层幅材包括将连续的未加工的第一层幅材提供给该至少一个第一切割站，其中在第一切割站中，在平行于未加工的第一层幅材的延伸部的纵向方向的切割方向上切割连续的未加工的第一层幅材，由此生成第一层边缘。133.实施例28:根据前一项实施例所述的方法，其中从第一层供应轮提供连续的未加工的第一层幅材。134.实施例29:根据前述三项实施例中任一项所述的方法，其中切割站包括至少一个第二切割站，其中该方法进一步包括将连续的未加工的第二层幅材提供给该至少一个第二切割站，其中，在第二切割站中，在平行于未加工的第二层幅材的延伸部的纵向方向的切割方向上切割连续的未加工的第二层幅材，由此生成第二层边缘。135.实施例30:根据前一项实施例所述的方法，其中从第二层供应轮提供连续的未加工的第二层幅材。136.实施例31:根据前述五项实施例中任一项所述的方法，其中切割站包括至少一个间隔层切割站，其中该方法进一步包括将至少一种连续的未加工的间隔层幅材提供给该至少一个间隔层切割站，其中间隔层切割站在将连续的间隔层幅材进料至第一层压站中之前将连续的未加工的间隔层幅材切割成连续的间隔层幅材。137.实施例32:根据前一项实施例所述的方法，其中间隔层切割站包括至少一个吻切站。138.实施例33:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中分析测试条的第一电极形成工作电极，并且其中分析测试条的第二电极形成对电极和参考电极中的一者或两者。139.实施例34:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中第一电极层包括至少一个金属层和设置在金属层上的至少一个检测层，检测层包括经配置用于检测至少一种分析物的至少一种化合物。140.实施例35:根据前一项实施例所述的方法，其中检测层包含至少一种酶。141.实施例36:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中第一层幅材被提供给第一层压站，其中第一侧以向上的方式进行取向。142.实施例37:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中将连续的第二层幅材进料至第二层压站中，其中第一侧面向下方。143.实施例38:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中连续的第一层幅材经由多个辊进料至第一层压站中，其中第一侧背离辊。144.实施例39:根据前一项实施例所述的方法，其中辊包括至少一个真空辊。145.实施例40:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中连续的第二层幅材经由多个辊进料至第二层压站中，其中第一侧背离辊。146.实施例41:根据前一项实施例所述的方法，其中辊包括至少一个真空辊。147.实施例42:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中在步骤iii.中，生成连续的分析测试条幅材，其中该方法进一步包括将连续的分析测试条幅材进料至至少一个测试条切割站中，其中在测试条切割站中，从连续的分析测试条幅材切割下来单独的分析测试条。148.实施例43:根据前述实施例中任一项所述的方法，其中该方法进一步包括使用至少一个故障检测站，其中在故障检测站中，检测第一层幅材、第二层幅材、间隔层幅材、在步骤ii.中生成的连续的中间层压幅材，或在步骤iii.中生成的连续的分析测试条幅材中的一者或多者中的故障，其中故障检测站进一步包括用于对检测为有故障的幅材部分进行标记的标记装置。149.实施例44:根据前一项实施例所述的方法，其中该方法进一步包括至少一个处置站，其中在处置站中，将标记为有故障的幅材部分处理掉。150.实施例45:根据前一项实施例所述的方法，其中处置站为测试条切割站的一部分。151.实施例46:根据前述三项实施例中任一项所述的方法，其中故障检测站包括至少一个图像识别装置。152.实施例47:根据前述方法实施例中任一项所述的方法，其中该方法进一步包括至少一个静电放电站，其中在静电放电站中经配置用于防止分析测试条的静电充电。153.实施例48:根据前一项实施例所述的方法，其中该至少一个静电放电站布置在第一层压站的上游。154.实施例49:一种制造系统，该制造系统用于通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条，每个分析测试条均包括具有至少一个第一电极的至少一个第一层、至少一个间隔层和具有至少一个第二电极的至少一个第二层，制造系统包括：i.至少一个供应装置，该至少一个供应装置用于提供至少一种连续的第一层幅材，第一层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第一电极层，第一层幅材具有第一层边缘；ii.至少一个第一层压站，第一层压站经配置用于将至少一种连续的间隔层幅材连续地设置到第一层幅材的第一侧上，其中间隔层幅材具有间隔层边缘，其中通过将第一层边缘的位置用作主位置并且将间隔层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制，其中进行该设置，使得间隔层边缘与第一层边缘偏移，并且因此第一层的第一侧的一部分和第一电极层的一部分保持未由间隔层幅材覆盖的状态；以及iii.至少一个第二层压站，第二层压站经配置用于将至少一种连续的第二层幅材连续地设置到间隔层幅材上，第二层幅材已经在第一侧上设置了至少一个第二电极层，其中执行该设置使得第二电极层面向第一层幅材，其中第二层幅材具有第二层边缘，其中进行该设置，使得第二层边缘与第一层边缘对齐，并且其中通过将第二层边缘的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。155.实施例50:根据前一项系统实施例所述的制造系统，其中制造系统经配置用于执行根据涉及方法的前述实施例中的任一项所述的方法。156.实施例51:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，制造系统进一步包括至少一个控制装置，该至少一个控制装置经配置用于控制第一层压站和第二层压站中的至少一者。157.实施例52:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，其中用于提供连续的第一层幅材的供应装置包括至少一个供应卷。158.实施例53:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，该制造系统进一步包括用于提供连续的间隔层幅材的至少一个供应装置，具体为至少一个供应卷。159.实施例54:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，该制造系统进一步包括用于提供连续的第二层幅材的至少一个供应装置，具体为至少一个供应卷。160.实施例55:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，该制造系统进一步包括至少一个存储装置，以用于中间存储由第二层压站生成的连续的分析测试条幅材。161.实施例56:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，其中制造系统进一步包括根据涉及切割站的前述实施例中任一项所述的至少一个切割站。162.实施例57:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，其中制造系统进一步包括至少一个故障检测站，其中故障检测站进一步包括用于对检测为有故障的幅材部分进行标记的标记装置。163.实施例58:根据前一项实施例所述的制造系统，其中制造系统进一步包括至少一个处置站，其中在处置站中，将标记为有故障的幅材部分处理掉。164.实施例59:根据前一项实施例所述的制造系统，其中处置站为测试条切割站的一部分。165.实施例60:根据前述三项实施例中任一项所述的制造系统，其中故障检测站包括至少一个图像识别装置。166.实施例61:根据前述系统实施例中任一项所述的制造系统，其中制造系统进一步包括至少一个静电放电站，其中在静电放电站中经配置用于防止分析测试条的静电充电。167.实施例62:根据前一项实施例所述的制造系统，其中该至少一个静电放电站布置在第一层压站的上游。附图说明168.优选地结合从属权利要求，将在实施例的后续描述中更详细地公开进一步的可选特征和实施例。其中，如本领域技术人员将认识到的，各个可选特征可以以隔离的方式以及以任何任意可行的组合来实现。本发明的范围不受优选实施例的限制。在附图中示意性地描绘了实施例。其中，这些图中相同的附图标记指相同或功能上可比较的元件。169.附图中：图1示出了制造系统的实施例的示意图；图2a和图2b示出了切割站的实施例；图3示出了制造出的分析测试条的实施例的截面视图；图4和图5示出了生产多个分析测试条的方法的实施例的流程图；并且图6示出了执行生产多个光学测试条的方法的实施例的制造系统的示意图。具体实施方式170.在图1中，示出了制造系统110的实施例的示意图。制造系统110包括至少一个供应装置112，以用于提供至少一种连续的第一层幅材114，特别是提供给第一层压站116。第一层幅材114已经在第一侧118上设置了至少一个第一电极层120。第一层幅材114进一步具有至少一个第一层边缘122。171.制造系统110进一步包括该至少一个第一层压站116，该至少一个第一层压站经配置用于将至少一种连续的间隔层幅材124连续地设置到第一层幅材114的第一侧118上。间隔层幅材124具有间隔层边缘126并且可以在两侧上具有粘合性。通过将第一层边缘122的位置用作主位置并且将间隔层边缘126的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。进行该设置，使得间隔层边缘126与第一层边缘122偏移，并且因此第一层114的第一侧118的一部分和第一电极层120的一部分保持未由间隔层幅材124覆盖的状态。作为示例，在图3中，未覆盖的部分用字母“a”表示。172.此外，制造系统110包括至少一个第二层压站128，该至少一个第二层压站经配置用于将至少一种连续的第二层幅材130连续地设置到间隔层幅材124上。第二层幅材130已经在第一侧132上设置了至少一个第二电极层134。执行该设置使得第二电极层134面向第一层幅材114。第二层幅材130具有第二层边缘136。进行该设置，使得第二层边缘136与第一层边缘122对齐，并且通过将第二层边缘136的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。173.制造系统110可以进一步包括至少一个控制装置138，该至少一个控制装置经配置用于控制第一层压站116和第二层压站128中的至少一者。此外，制造系统110可以包括用于提供连续的间隔层幅材124的至少一个供应装置112和用于提供连续的第二层幅材130的至少一个供应装置112。每个供应装置112具体可以包括至少一个供应卷140。制造系统110可以进一步包括至少一个存储装置142，以用于中间存储由第二层压站128生成的连续的分析测试条幅材144。此外，制造系统110可以包括至少一个拼接站 145，其中拼接站 145 可以用于附加和/或延伸该层幅材。因此，作为示例，制造系统 110 具体可以包括三个拼接站 145，以用于将第一层幅材 114、间隔层幅材 124 和第二层幅材 130 分别附加和/或延伸至连续的第一层幅材 114、连续的间隔层幅材 124 和连续的第二层幅材 130 中。174.制造系统 110 具体可以经配置用于执行通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条 146 的方法。因此，制造系统 110 可以包括其他元件，例如用于执行该方法的其他元件。该方法的示例性实施例在图 4、图 5 和图 6 中的任一者中示出。175.通过使用卷到卷过程来生产多个分析测试条 146 的方法至少包括以下步骤：i.（用附图标记 148 表示）提供至少一种连续的第一层幅材 114，该至少一种连续的第一层幅材已经在第一侧 118 上设置了至少一个第一电极层 120，第一层幅材 114 具有第一层边缘 122；ii.（用附图标记 150 表示）在至少一个第一层压站 116 中将至少一种连续的间隔层幅材 124 连续地设置到第一层幅材 114 的第一侧 118 上，其中间隔层幅材 114 具有间隔层边缘 126，其中通过将第一层边缘 122 的位置用作主位置并且将间隔层边缘 126 的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制，其中进行该设置，使得间隔层边缘 126 与第一层边缘 122 偏移，并且因此第一层 114 的第一侧 118 的一部分和第一电极层 120 的一部分保持未由间隔层幅材 124 覆盖的状态；以及iii.（用附图标记 152 表示）在至少一个第二层压站 128 中将至少一种连续的第二层幅材 130 连续地设置到间隔层幅材 124 上，第二层幅材 130 已经在第一侧 132 上设置了至少一个第二电极层 134，其中执行该设置使得第二电极层 134 面向第一层幅材 114，其中第二层幅材 130 具有第二层边缘 136，其中进行该设置，使得第二层边缘 136 与第一层边缘 122 对齐，并且其中通过将第二层边缘 136 的位置用作从位置，以主从方式对该设置进行位置控制。176.特别地，该方法可以进一步包括通过使用至少一个对齐传感器 154（例如该对齐传感器由制造系统 110 所进一步包括，位于第二层压站 128 的下游）来检测介于第二层边缘 136 与第一层边缘 122 之间的对齐。对齐传感器 154 具体可以为或可以包括至少一个激光传感器，例如激光轮廓传感器。此外，对齐传感器 154 可以经配置用于同时检测第一层边缘 122、间隔层边缘 126 和第二层边缘 136 的位置。在检测到第一层边缘与第二层边缘之间的对齐的偏差的情况下，作为示例，可以通过校正连续的第二层幅材 130 的第二层边缘 136 的位置来至少部分地校正偏差。第二层边缘 136 的位置的校正具体可以包括使至少一个辊 156 倾斜，例如该辊由制造系统 110 所进一步包括，连续的第二层幅材 130 可以通过该至少一个辊被进料至第二层压站 128 中。177.作为示例，该方法可以进一步包括通过使用至少一个偏移传感器 158（例如该偏移传感器由制造系统 110 所进一步包括，位于第一层压站 116 的下游）来检测介于间隔层边缘 126 与第一层边缘 122 之间的偏移。偏移传感器 158 具体可以包括至少一个图像识别装置，该至少一个图像识别装置经配置用于在横向于第一层幅材 114 的延伸平面的观察方向上对相机图像进行连续的图像识别。偏移，特别是通过使用偏移传感器 158 检测到的偏移，可以例如与至少一个标称偏移进行比较，并且偏移与标称偏移之间的偏差可以通过校正连续的间隔层幅材 124 的间隔层边缘 126 的位置来至少部分地进行校正。间隔层边缘 126 的位置的校正具体可以包括使至少一个辊 160 倾斜（例如该辊由制造系统 110 所进一步包括），间隔层幅材 124 可以通过该至少一个辊被进料至第一层压站 116 中。178.该方法可以进一步包括通过使用至少一个第一层传感器 162（例如该至少一个第一层传感器由制造系统 110 所进一步包括）来检测被进料至第一层压站 116 中的连续的第一层幅材 114 的第一层边缘 122 的位置。第一层传感器 162 具体可以包括至少一个红外传感器，例如具有横向于第一层幅材 114 的延伸平面的感测方向的红外传感器。在该方法中可以使用其他传感器，诸如用于检测间隔层边缘 126 的位置的至少一个间隔层传感器 164、用于检测在该方法的步骤 ii. 150 中生成的连续的中间层压幅材 166 的第一层边缘 122 的位置的层压传感器 165。层压幅材 166 可具体包括第一层幅材 114 和间隔层幅材 124。此外，该方法可以包括通过使用至少一个第二层传感器 168 来检测连续的第二层幅材 130 位置的第二层边缘 136 的位置。第二层传感器 168 具体可以包括超声传感器和红外传感器中的至少一者，具体为具有横向于第二层幅材 130 的延伸平面的感测方向的超声传感器和/或红外传感器。作为示例，其他传感器（诸如第一层传感器 162、间隔层传感器 164、层压传感器 165 和第二层传感器 168）也可以由制造系统 110 所包括。其他传感器（例如第一层传感器 162、间隔层传感器 164、层压传感器 165 和第二层传感器 168）具体可以进行布置以便具有面向层幅材的背面的感测方向，例如以便避免由反射（例如光的反射）引起的对测量结果的影响。179.该方法（特别是该方法的步骤 i.）可以进一步包括一个子步骤（用附图标记 170 表示），将连续的未加工的第一层幅材 114（例如未加工的第一层幅材 114）提供给至少一个切割站 172（例如第一切割站 174）。在第一切割站 174 中，可以在平行于未加工的第一层幅材 114 的延伸部（例如在第一层幅材 114 的行进方向上）的纵向方向的切割方向上切割连续的未加工的第一层幅材 114，由此可以生成第一层边缘 122。特别地，图 1 中所示的箭头可以指示相应层幅材的行进方向。此外，该方法可以包括将连续的未加工的第二层幅材 130 提供给至少一个第二切割站 176，其中，在第二切割站 176 中，可以在平行于未加工的第二层幅材 130 的延伸部的纵向方向的切割方向上切割连续的未加工的第二层幅材 130，由此可以生成第二层边缘 136。此外，该方法可以包括将至少一种连续的未加工的间隔层幅材 124 提供给至少一个间隔层切割站 178，其中间隔层切割站 178 可以在将连续的间隔层幅材 124 进料至第一层压站 116 中之前将连续的未加工的间隔层幅材切割成连续的间隔层幅材 124。具体地，间隔层切割站 178 可以为或可以包括至少一个吻切站。180.作为示例，切割站 172，特别是第一切割站 174、第二切割站 176 和间隔层切割站 178 可以由制造系统 110 所包括。在图 2a 和图 2b 中示出了切割站 172 的实施例，其中示例性地示出了第一层幅材 114 的切割，特别是具有第一电极层 120 的第一层幅材的切割。具体地，图 2a 示出了切割之前的切割站，并且图 2b 示出了执行切割过程中的切割站。切割站 172 包括至少一个切割刀片 180，该至少一个切割刀片用于以介于未加工的层幅材的表面与切割刀片 180 的表面之间的切割角 α 切割至少一种未加工的层幅材，诸如未加工的第一层幅材 114、未加工的第二层幅材 130 和未加工的间隔层幅材 124 中的一者或多者。切割角 α 具体可以是 α = 30°。181.制造系统 110 可以进一步包括多个辊 182。特别地，连续的第一层幅材 114 和连续的第二层幅材 130 中的每一者均可以经由该多个辊 182 分别进料至第一层压站 116 和第二层压站 128 中。具体地，该方法可以包括将第一层幅材 114 进料至第一层压站 116 中并且将第二层幅材 130 进料至第二层压站 128 中，其中第一侧 118 和 132 背离辊 182。作为示例，第一层幅材 114 可以被提供给第一层压站 116，其中第一侧 118 以向上的方式进行取向，并且可以将第二层幅材 130 进料至第二层压站 128 中，其中第一侧 132 面向下方。182.该方法，特别是该方法的步骤 iii.，可以进一步包括生成连续的分析测试条幅材 144 的子步骤（用附图标记 184 表示）。作为示例，然后可以将生成的分析测试条幅材 144 进料至至少一个测试条切割站，其中可以将分析测试条 146 从连续的分析测试条幅材 144 切割下来。因此，该方法可以进一步包括从连续的分析测试条幅材 144 切割分析测试条 146 的子步骤（用附图标记 185 表示）。183.该方法可以进一步包括使用印刷站 186（例如该印刷站由制造系统 110 所进一步包括）以用于将信息打印至分析测试条幅材 144 上。此外，该方法可以包括使用至少一个故障检测站 188（例如该至少一个故障检测站由制造系统 110 所进一步包括）的子步骤（用附图标记 187 表示）。故障检测站 188 具体可以经配置用于检测第一层幅材 114、第二层幅材 130、间隔层幅材 124、如在步骤 ii. 中生成的连续的中间层压幅材 166，以及如在步骤 iii. 中生成的连续的分析测试条幅材 144 中的一者或多者中的故障。特别地，故障检测站 188 可以进一步经配置用于标记被检测为有故障的幅材部分，例如通过使用至少一个激光器 190 以用于标记该部分。随后，具体地作为测试条切割站的一部分，至少一个处置站可以用于执行处置标记为有故障的幅材部分的子步骤（用附图标记 192 表示）。184.该方法可以进一步包括至少一个静电放电站 194（例如该至少一个静电放电站由制造系统 110 所进一步包括）。静电放电站 194 具体可以经配置用于防止分析测试条 146 的静电充电。优选地，静电放电站 194 可以布置在第一层压站 116 的上游。然而，如图 1 所示，其他静电放电站 194 可以布置在制造系统 110 内（例如其中间隔层幅材 124 的剥离的残留物（例如剥离的保护衬垫）可以存储在每个衬垫残留卷筒 196 上）和/或布置在印刷站 186 和故障检测站 188 中的一者或两者内，和/或在将分析测试条幅材 144 存储在存储装置 142 上之前进行布置。用于布置该至少一个静电放电站 194 的其他位置可能为可行的。185.在图 3 中，示出了制造出的分析测试条 146 的实施例的截面视图。分析测试条 146 包括具有至少一个第一电极 200（例如第一电极层 120 的一部分）的至少一个第一层 198（例如第一层幅材 114 的一部分）。此外，分析测试条 146 包括至少一个间隔层 202（例如间隔层幅材 124 的一部分）以及具有至少一个第二电极 206（例如第二电极层 134 的一部分）的第二层 204（例如第二层幅材 130 的一部分）。特别地，第一电极 200（例如第一电极层 120 的一部分）可以形成工作电极并且第二电极 206（例如第二电极层 134 的一部分）可以形成对电极和参考电极中的一者或两者。作为示例，第一电极 200 可以包括至少一个金属层 208 和设置在金属层 208 上的至少一个检测层 210。第一电极 200 的检测层 210 可以例如包含至少一种酶 212。此外，第二电极 206 还可以包括该至少一个金属层 208 和设置在金属层 208 上的该至少一个检测层 210。然而，酶可以仅存在于第一电极 200 的检测层 210 中。186.在制造系统 110 中，具体地，通过执行藉由使用卷到卷过程来生产多个分析测试条 146 的方法，第一层 198 和间隔层 202 可以相对于彼此定位，使得第一电极 200 的部分“a”保持未由间隔层 202 覆盖的状态。另外地，在制造系统 110 中，具体地，通过执行藉由使用卷到卷过程来生产多个分析测试条 146 的方法，第二层 204 和间隔层 202 可以相对于彼此定位，使得第二电极 206 的部分“b”保持未由间隔层 202 覆盖的状态。由部分“a”与部分“b”之间的间隔层形成的间隙可以形成样品施加区域 214，当使用分析测试条 146 以用于分析物检测时，可以在该样品施加区域施加样品。特别地，间隔层可以使第一电极 200 和第二电极 206 彼此绝缘（例如电绝缘）。187.此外，在制造系统 110 中，具体地，通过执行藉由使用卷到卷过程来生产多个分析测试条 146 的方法的步骤 iii.，（例如第二层 204 的）第二层边缘 136 与（例如第一层 198 的）第一层边缘 122 以主从方式对齐。作为示例，对齐可以为或可以包括ꢀ±ꢀ0.1 mm 的最大差异“x”。188.作为示例，分析测试条 146 可以包括具有电极层的两种层幅材。这些层幅材具体可以由聚对苯二甲酸乙二醇酯的幅材（pet-幅材）制成或至少部分地包括聚对苯二甲酸乙二醇酯的幅材，具体地，幅材可以在至少一侧上具有金溅射。一种层幅材（例如第一层幅材 114）可以例如具有多个冲出孔，例如矩形冲孔。特别地，第一层幅材 114 可以被布置成使得第一电极层 120 可以与第二层幅材 130 的第二电极层 134 面对面布置。在两种层幅材之间（例如在第一层幅材 114 与第二层幅材 130 之间），可以布置至少一种间隔层幅材 124。间隔层幅材 124 具体可以在两侧上均具有粘合性并且可以经配置用于使电极层 120 和 134 彼此绝缘。电极层 120 和 134 可以例如略微突出超过间隔层幅材 124，并且可以由此例如在分析测试条 146 的至少一个端部处形成横向毛细管。该横向毛细管可以用作样品施加区域 214。因此，分析测试条 146 可以允许简单的样品施加。具体地，电极层 120 和 134 可以末端对齐并且可以形成测量单元。特别地，电极层 120 和 134 均可以被涂覆，例如包括检测层 210，其中工作电极可以包含含酶试剂并且对电极和/或参考电极可以包含无酶试剂。因此，作为示例，样品施加区域 214可以进一步为或用作用于检测分析物的反应区域。189.在图 6 中，示出了执行生产多个光学测试条 146 的方法的实施例的制造系统 110 的示意图。特别地，从右上角开始，可以提供第一层幅材 114。类似地，如图 6 的左侧所示，可以提供第二层幅材 130。第一层幅材 114 和第二层幅材 130 两者均可以通过使用多个辊 182（例如真空辊）来进行传输，该多个辊可以经配置用于仅在与第一侧 118 和 132 相对的一侧上（例如在分别与第一电极层 120 和第二电极层 134 相对的一侧上）卷入相应的幅材（例如第一层幅材 114 和/或第二层幅材 130）。通过辊 182 的旋转移动，层幅材 114 和 130 可以在制造系统 110 内进行传输。作为示例，对于真空辊，具体可以通过完全卷入并传输层幅材 114 和 130 来使用真空操作的微孔表面材料或穿孔的不锈钢表面，其下方具有节流喷嘴。作为示例，一个供应卷 140 可以包括高达 1000 m 的第一层幅材 114、第二层幅材 130 和间隔层幅材 124 中的一者。此外，制造系统 110 可以经配置用于以高达 50 m/min 的速度加工第一层幅材 114 和/或第二层幅材 130 和/或间隔124 作为示例可以仍然具有附接在与层压至第一层幅材 114 的一侧相对的一侧上的保护衬垫。然后该至少一个偏移传感器 158（例如照相机）可以用于检测第一层幅材 114 与间隔层幅材 124 之间的偏移。除此之外或替代性地，该偏移可以通过使用激光传感器来进行检测，其中激光传感器可以被布置成使得激光指向横向和/或垂直于在第一层压站 116 中生成的层压幅材的行进和/或传输方向的方向。同样，可以将关于偏移的信息提供给控制装置 138。194.然后，以该方式生成的层压幅材 166 可以经过其他真空吸附平台 218，并且在被进料至第二层压站 128 中之前，可以通过使用该至少一个层压传感器 165 来控制层压幅材 166 的位置。在被进料至第二层压站 128 之前，可以以类似于间隔层幅材 124 的位置的方式控制第二层幅材 130 的位置（具体为第二层幅材 130 的第二层边缘 136 的位置）。因此，层压幅材 166 的位置可以用作主位置，并且作为从位置的第二层幅材 130 的位置可以根据层压幅材 166 的主位置来进行调试。特别地，控制装置 138 可以经配置用于控制（例如通过倾斜）辊 160，以便调试第二层幅材 130 的位置，使得第二层幅材 130 可以与第一层幅材 114 对齐，具体为使得第二层边缘 136 可以与第一层边缘 122 对齐。然后可以通过使用该至少一个第二层传感器 168（例如红外传感器）来检测第二层幅材 130 的（例如第二层边缘 136 的）经调试的位置。然后可以将关于第二层边缘 136 的已检测的位置的信息再次提供给控制装置 138。195.在经过第二层压站 128 之后，用于检测第二层边缘 136 与第一层边缘 122 之间的对齐的对齐传感器 154 可以用于控制第二层边缘 136 的位置。然后分析测试条幅材 144 可以准备好存储在存储装置 142 上。196.附图标记列表110ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ制造系统112ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ供应装置114ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一层幅材116ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一层压站118ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一层幅材的第一侧120ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一电极层122ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一层边缘124ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ间隔层幅材126ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ间隔层边缘128ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二层压站130ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二层幅材132ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二层幅材的第一侧134ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二电极层136ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二层边缘138ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ控制装置140ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ供应卷142ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ存储装置144ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ分析测试条幅材145ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ拼接站146ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ分析测试条148ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ步骤 i.150ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ步骤 ii.152ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ步骤 iii.154ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ对齐传感器156ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ辊158ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ偏移传感器160ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ辊162ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一层传感器164ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ间隔层传感器165ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ层压传感器166ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ层压幅材168ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二层传感器170ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ将连续的未加工的第一层幅材提供给切割站的子步骤172ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ切割站174ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一切割站176ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二切割站178ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ间隔层切割站180ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ切割刀片182ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ辊184ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ生成连续的分析测试条幅材的子步骤186ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ印刷站187ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ使用故障检测站的子步骤188ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ故障检测站190ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ激光192ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ处置标记为有故障的幅材部分的子步骤194ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ静电放电站196ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ衬垫残留卷筒198ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一层200ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第一电极202ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ间隔层204ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二层206ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ第二电极208ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ金属层210ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ检测层212ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ酶214ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ样品施加区域216ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ进料辊218ꢀꢀꢀꢀꢀ真空吸附平台。









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